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다중파장 광 전송 시스템에서 광 신호 성능 측정 장치 및그 방법

  • 기술번호 : KST2015078157
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 다중파장 광 전송 시스템에서 광 신호 성능 측정 장치 및 그 방법이 개시된다. 상기 과제를 이루기 위해, 다중파장 광 전송 시스템에서 본 발명에 따른 광 신호 성능 측정 장치는 입력되는 다중파장 광 신호의 스폿크기를 제어하여 제1다중파장 빔을 생성하는 광 입력부, 제1다중파장 빔을 시준하고, 파장별로 분리된 제2다중파장 빔을 집속시키는 광 시준 및 집속부, 시준된 제1다중파장 빔을 회절 및 반사하여 시준된 제1다중파장 빔과 평행하면서 파장별로 분리된 제2다중파장 빔을 생성하는 회절 및 반사부 및 광 시준 및 집속부에 의해서 파장별로 집속된 제2다중파장 빔의 세기를 파장별로 측정하는 광 검출부를 포함하는 것을 특징으로 하고, 다 채널 광신호의 채널별 세기와 채널별 파장 그리고 채널별 광신호 대 잡음비를 동시에 실시간으로 측정할 수 있다. 또한, 수차에 대한 영향을 최소화 할 수 있고 광학계 내에서 동일한 에프수를 유지한다는 장점을 가지기 때문에 높은 분해능과 넓은 동적범위를 가진다.
Int. CL H04B 10/07 (2013.01) H04B 10/25 (2013.01)
CPC
출원번호/일자 1020010078955 (2001.12.13)
출원인 한국전자통신연구원
등록번호/일자 10-0445905-0000 (2004.08.17)
공개번호/일자 10-2003-0048906 (2003.06.25) 문서열기
공고번호/일자 (20040825) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2001.12.13)
심사청구항수 7

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 윤지욱 대한민국 대전광역시유성구
2 김광준 대한민국 대전광역시유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 이영필 대한민국 서울 강남구 언주로 **길 **, *층, **층, **층, **층(도곡동, 대림아크로텔)(리앤목특허법인)
2 이해영 대한민국 서울 강남구 언주로 **길 **, *층, **층, **층, **층(도곡동, 대림아크로텔)(리앤목특허법인)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application		 2001.12.13 수리 (Accepted) 1-1-2001-0329246-12
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2002.08.08 수리 (Accepted) 4-1-2002-0065009-76
3 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search		 2003.08.08 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search		 2003.09.15 수리 (Accepted) 9-1-2003-0040662-81
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2004.02.24 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2004-0065814-82
6 명세서 등 보정서
Amendment to Description, etc.		 2004.04.23 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2004-0169134-13
7 의견서
Written Opinion		 2004.04.23 수리 (Accepted) 1-1-2004-0169133-67
8 등록결정서
Decision to grant		 2004.07.22 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2004-0292248-18
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2009.08.04 수리 (Accepted) 4-1-2009-5150899-36
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1

입력되는 다중파장 광 신호의 스폿크기를 제어하여 제1다중파장 빔을 생성하는 광 입력부;

상기 제1다중파장 빔을 시준하는 광 시준 및 집속부;

상기 시준된 제1다중파장 빔을 회절격자 및 광 반사부를 통해 회절 및 반사하여 파장별로 분리된 제2다중파장 빔을 생성하고, 상기 제2다중파장 빔이 상기 제1다중파장 빔과 평행하고 동일한 축에 위치하도록 상기 회절격자와 상기 광 반사부와의 거리 및 상기 광 반사부의 반사 각도를 기초로 상기 제2다중파장 빔의 회절격자에서의 위치를 조절하는 회절 및 반사부; 및

상기 광 시준 및 집속부는 상기 제2다중파장 빔을 집속하며,

상기 집속된 제2다중파장 빔의 세기를 파장별로 측정하기 위해 각각의 파장에 대응되는 광 검출을 위한 픽셀들을 배열하고, 상기 집속된 제2다중파장 빔의 각 채널의 파장에 해당하는 픽셀들에서 측정한 광 세기 및 상기 각 채널 사이에 위치한 파장에 해당하는 픽셀들에서 측정한 잡음의 세기를 기초로 광 신호 대 잡음비를 측정하는 광 검출부;를 포함하는 것을 특징으로 하는 광 신호 성능 측정 장치

2 2

제 1항에 있어서, 상기 회절 및 반사부는,

상기 광 시준 및 집속부에 의해 시준된 제1다중파장 빔을 회절격자를 통해 반사 및 굴절하여 파장별로 분리된 제3다중파장 빔을 생성하는 파장 분리부;

상기 제3다중파장 빔을 편광 변환하는 편광 변환부;

상기 편광 변환부로부터 입사되는 편광 변화된 제3다중파장 빔을 소정의 각으로 반사하여 제4다중파장 빔을 생성하고, 상기 파장 분리부와의 거리 및 상기 반사 각을 기초로 상기 제4다중파장 빔이 상기 파장 분리부에 입사되는 위치를 조절하는 광 반사부;를 포함하며,

상기 편광 변환부는 상기 제4다중파장 빔을 편광 변환하여 상기 파장 분리부로 전송하며,

상기 파장 분리부는 상기 제4다중파장 빔을 파장별로 분리하여 상기 제2다중파장 빔을 생성하는 것을 특징으로 하는 광 신호 성능 측정 장치

3 3

삭제
4 4

제 2항에 있어서,

상기 광 반사부는 상기 각 및 상기 파장 분리부와의 거리를 제어하여, 상기 광 시준 및 집속부로부터 상기 파장 분리부에 입력되는 상기 제1다중파장 빔 및 상기 제4다중파장 빔이 상기 파장 분리부의 중심에 최대한 근접하게 위치시키는 것을 특징으로 하는 광 신호 성능 측정 장치

5 5

제 2항에 있어서,

상기 편광 변환부는 1/4파장 플레이트로 통과되는 상기 제3다중파장 빔 및 상기 제4다중파장 빔을 45도 변환시키는 것을 특징으로 하는 광 신호 성능 측정 장치

6 6

(a) 다중파장 광 신호의 스폿크기를 제어하여 제1다중파장 빔을 생성하는 단계;

(b) 상기 제1다중파장 빔을 시준하는 단계;

(c) 상기 시준된 제1다중파장 빔을 회절격자를 통해 회절하고 상기 회절된 제1다중파장 빔을 소정의 거리를 이동시켜 소정의 각으로 반사하여 파장별로 분리된 제2다중파장 빔을 생성하고, 상기 제2다중파장 빔이 상기 제1다중파장 빔과 평행하고 동일한 축에 위치하도록 상기 거리 및 상기 반사 각도를 기초로 상기 제2다중파장 빔의 상기 회절격자에서의 위치를 조절하는 단계; 및

(d) 상기 제2다중파장 빔을 집속하는 단계; 및

(e) 파장별 광 검출을 위해 일렬로 배열된 픽셀들을 이용하여, 상기 집속된 제2다중파장 빔의 각 채널의 파장에 해당하는 픽셀들에서 측정한 광 세기 및 상기 각 채널 사이에 위치한 파장에 해당하는 픽셀들에서 측정한 자연증폭 방출 잡음의 세기를 기초로 광 신호 대 잡음비를 측정하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 광 신호 성능 측정 방법

7 7

제6항에 있어서, 상기 (c)단계는

(c1)상기 시준된 제1다중파장 빔을 파장별로 분리 및 회절하여 제3다중파장 빔을 생성하는 단계;

(c2)상기 제3다중파장 빔의 편광을 변화시키는 단계;

(c3)상기 (c2)단계에서 편광 변환된 제3다중파장 빔을 소정 반사각으로 반사하는 단계;

(c4)상기 (c3)단계에서 반사된 다중파장 빔의 편광을 변화시키는 단계; 및

(c5)상기 (c4)단계에서 편광 변환된 다중파장 빔을 파장별로 분리 및 회절하여 상기 제2다중파장 빔으로서 생성하는 단계로 이루어지는 것을 특징으로 하는 광 신호 성능 측정 방법

8 8

제7항에 있어서, 상기 (c2) 및 (c4) 단계에서 상기 제3다중파장 빔 및 상기 반사된 다중파장 빔 각각은 45°씩 편광 변환되는 것을 특징으로 하는 광 신호 성능 측정 방법

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1 US06791685 US 미국 FAMILY
2 US20030112433 US 미국 FAMILY

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1 US2003112433 US 미국 DOCDBFAMILY
2 US6791685 US 미국 DOCDBFAMILY
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