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고체 결상 렌즈의 간극 측정 장치

  • 기술번호 : KST2015078477
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 고체 결상 렌즈의 간극 측정 장치에 관한 것으로, 고체 결상 렌즈(Solid Immersion Lens; SIL)를 이용하여 정보를 저장하고 읽어내는 근접장 광 정보 저장 헤드의 고체 결상 렌즈 내부에서 전반사하는 광과 투과하는 광의 간섭을 이용하여 고체 결상 렌즈와 저장 매체의 간극을 측정할 수 있는 고체 결상 렌즈의 간극 측정 장치에 관한 것으로, 고체 결상 렌즈를 투과하여 매체에서 반사되는 광과 고체 결상 렌즈의 하부 평면에서 전반사 하여 반사되는 광이 한 위치에서 겹치도록 할 때 일어나는 간섭 신호를 측정함으로써 고체 결상 렌즈 평면과 매체면 사이의 거리를 측정할 수 있는 고체 결상 렌즈의 간극 측정 장치가 개시된다. 고체 결상 렌즈, 간극, 간섭 신호
Int. CL G01B 11/14 (2006.01)
CPC G01B 11/14(2013.01) G01B 11/14(2013.01) G01B 11/14(2013.01) G01B 11/14(2013.01)
출원번호/일자 1020010085167 (2001.12.26)
출원인 한국전자통신연구원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2003-0054760 (2003.07.02) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 거절
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2001.12.26)
심사청구항수 4

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 한기평 대한민국 대전광역시서구
2 김약연 대한민국 대전광역시유성구
3 손영준 대한민국 대전광역시유성구
4 김태엽 대한민국 서울특별시은평구
5 백문철 대한민국 대전광역시유성구
6 조경익 대한민국 대전광역시유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 신영무 대한민국 서울특별시 강남구 영동대로 ***(대치동) KT&G타워 *층(에스앤엘파트너스)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application		 2001.12.26 수리 (Accepted) 1-1-2001-0346551-87
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2002.08.08 수리 (Accepted) 4-1-2002-0065009-76
3 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search		 2004.01.14 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search		 2004.02.12 수리 (Accepted) 9-1-2004-0005248-61
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2004.03.31 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2004-0128688-25
6 명세서 등 보정서
Amendment to Description, etc.		 2004.05.28 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2004-0228076-70
7 의견서
Written Opinion		 2004.05.28 수리 (Accepted) 1-1-2004-0228078-61
8 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2004.08.06 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2004-0323005-47
9 거절결정서
Decision to Refuse a Patent		 2004.12.02 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2004-0517239-63
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2009.08.04 수리 (Accepted) 4-1-2009-5150899-36
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1

고체 결상 렌즈의 하부 평면에서 반사되어 나오는 내부 전반사광과 저장 매체의 표면에서 반사되어 나오는 투과광을 상기 광 검출 소자로 집광시키기 위한 굴절 수단 및

상기 내부 전반사광 및 상기 투과광이 집광되면서 발생되는 간섭 신호의 광 강도 분포를 검출 할 수 있는 광 검출 소자를 포함하여 이루어져 상기 간섭 신호의 광 강도 분포를 이용해 상기 고체 결상 렌즈의 간극을 검출하는 것을 특징으로 하는 고체 결상 렌즈의 간극 측정 장치

2 2

제 1 항에 있어서,

상기 굴절 수단은 내부전반사광과 투과광이 간섭을 일으킬 수 있도록 하는 굴절 광학계로서 하나 이상의 렌즈 형태의 굴절광학 소자를 사용하는 것을 특징으로 하는 고체 결상 렌즈의 간극 측정 장치

3 3

제 1 항에 있어서,

상기 굴절 수단은 내부전반사광과 투과광이 간섭을 일으킬 수 있도록 하는 굴절광학계로서 프리즘 형태의 평면으로 이루어져 있는 굴절광학 소자를 사용하는 것을 특징으로 하는 고체 결상 렌즈의 간극 측정 장치

4 4

제 1 항에 있어서,

상기 광 검출 소자는 포토 다이오드와 같은 광전 소자 및 CCD와 같은 일차원 혹은 이차원 광어레이 중 어느 하나를 이용하는 것을 특징으로 하는 고체 결상 렌즈의 간극 측정 장치

지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.