요약 | 본 발명은 강유전체 소자 및 그 제조 방법에 관한 것으로, 실리콘 기판 상부에 실리콘 질화막을 형성한 후 그 상부에 하부 전극, 강유전체막 및 상부 전극을 형성함으로써 실리콘 질화막이 하부 전극과 강유전체막에 인위적인 스트레스를 가하도록 하여 우수한 강유전체막 특성이 나타나게 하고, 이에 따라 강유전체막이 높은 잔류 분극 특성과 낮은 누설 전류 특성을 유지하는 우수한 전기적 특성을 갖게 되어 이 구조를 이용하여 DRO형 메모리 소자의 단위 소자 및 다양한 형태의 적외선 소자, 압전 소자 등에 사용될 수 있는 강유전체 소자 및 그 제조 방법이 제시된다.강유전체, 레드 지르코늄 타이타늄 산화막, 실리콘 질화막, 저압화학기상증착, 하부 전극, 강유전체 소자, 스핀 코팅법, 스트레스 |
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Int. CL | H01L 27/04 (2006.01) |
CPC | H01L 27/11502(2013.01) H01L 27/11502(2013.01) H01L 27/11502(2013.01) H01L 27/11502(2013.01) H01L 27/11502(2013.01) |
출원번호/일자 | 1020020028064 (2002.05.21) |
출원인 | 한국전자통신연구원 |
등록번호/일자 | 10-0449072-0000 (2004.09.07) |
공개번호/일자 | 10-2003-0090074 (2003.11.28) 문서열기 |
공고번호/일자 | (20040918) 문서열기 |
국제출원번호/일자 | |
국제공개번호/일자 | |
우선권정보 | |
법적상태 | 소멸 |
심사진행상태 | 수리 |
심판사항 | |
구분 | |
원출원번호/일자 | |
관련 출원번호 | |
심사청구여부/일자 | Y (2002.05.21) |
심사청구항수 | 5 |