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비휘발성 강유전체 메모리 셀, 그것의 레이아웃 및 그것의어레이 구조

  • 기술번호 : KST2015078761
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 쓰기 동작시 신호의 간섭 또는 방해 작용으로 인한 기록된 정보의 상실을 방지하여, 안정된 읽기 및 쓰기 동작을 수행할 수 있는 비휘발성 강유전체 메모리 셀, 그것의 레이아웃 구조 및 그것의 어레이 구조를 개시한다. 개시된 본 발명의 비휘발성 강유전체 메모리 셀은, 워드 라인과 비트 라인은 서로 평행하게 연장되고, 상기 워드 라인 및 비트 라인과 직교하도록 쓰기 신호선 및 읽기 신호선이 서로 평행하게 연장되어, 단위 셀이 한정된다. 상기 쓰기 신호선과 워드 라인 사이에는, 쓰기 신호선의 구동시 워드 라인의 신호를 스위칭하는 모스 트랜지스터가 연결되고, 상기 비트 라인과 읽기 신호선 사이에는 상기 모스 트랜지스터의 출력에 응답하여, 상기 비트 라인의 신호를 읽기 신호선으로 전달하도록 강유전체 트랜지스터가 연결된다. 또한, 상기 강유전체 트랜지스터의 기판에는 일정한 전압을 지속적으로 공급하는 전압원이 연결된다. 비휘발성, 비파괴, 강유전체, 메모리 셀
Int. CL G11C 11/22 (2006.01)
CPC G11C 11/2273(2013.01)G11C 11/2273(2013.01)G11C 11/2273(2013.01)G11C 11/2273(2013.01)G11C 11/2273(2013.01)G11C 11/2273(2013.01)G11C 11/2273(2013.01)
출원번호/일자 1020020079736 (2002.12.13)
출원인 한국전자통신연구원
등록번호/일자 10-0744529-0000 (2007.07.25)
공개번호/일자 10-2004-0052018 (2004.06.19) 문서열기
공고번호/일자 (20070801) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항 심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2003.02.26)
심사청구항수 6

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김귀동 대한민국 대전광역시대덕구
2 윤성민 대한민국 대전광역시 서구
3 유인규 대한민국 대전광역시 유성구
4 유병곤 대한민국 대전광역시 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 리앤목특허법인 대한민국 서울 강남구 언주로 **길 **, *층, **층, **층, **층(도곡동, 대림아크로텔)
2 이해영 대한민국 서울 강남구 언주로 **길 **, *층, **층, **층, **층(도곡동, 대림아크로텔)(리앤목특허법인)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2002.12.13 수리 (Accepted) 1-1-2002-0414969-10
2 명세서 등 보정서
Amendment to Description, etc.
2003.02.26 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2003-0067284-48
3 출원심사청구서
Request for Examination
2003.02.26 수리 (Accepted) 1-1-2003-0067285-94
4 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2004.11.10 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
5 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2004.12.16 수리 (Accepted) 9-1-2004-0074835-58
6 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2005.02.17 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2005-0071410-71
7 지정기간연장신청서
Request for Extension of Designated Period
2005.04.18 수리 (Accepted) 1-1-2005-5047985-85
8 의견서
Written Opinion
2005.04.28 수리 (Accepted) 1-1-2005-0223999-69
9 거절결정서
Decision to Refuse a Patent
2005.10.13 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2005-0450360-10
10 명세서 등 보정서(심사전치)
Amendment to Description, etc(Reexamination)
2005.12.12 보정승인 (Acceptance of amendment) 7-1-2005-0030278-83
11 심사전치출원의 심사결과통지서
Notice of Result of Reexamination
2006.01.18 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2006-0028163-24
12 보정각하결정서
Decision of Rejection for Amendment
2006.01.18 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2006-0028162-89
13 등록결정서
Decision to grant
2007.06.26 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2007-0349009-31
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.08.04 수리 (Accepted) 4-1-2009-5150899-36
15 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
워드 라인;상기 워드 라인과 평행하는 비트 라인; 상기 워드 라인 및 비트 라인과 직교하는 쓰기 신호선; 상기 쓰기 신호선과 평행하며 상기 워드 라인 및 비트 라인과 직교하여, 단위 셀을 한정하는 읽기 신호선;상기 쓰기 신호선의 구동시 워드 라인의 신호를 스위칭하는 모스 트랜지스터; 상기 모스 트랜지스터의 출력에 응답하여, 상기 비트 라인의 신호를 읽기 신호선으로 전달하는 강유전체 트랜지스터; 및상기 강유전체 트랜지스터가 형성되는 기판(액티브 영역)에 지속적으로 고정된 전압을 제공하는 전압원을 포함하며, 상기 모스 트랜지스터의 게이트는 상기 쓰기 신호선과 연결되고, 상기 모스 트랜지스터의 소오스는 상기 워드 라인과 연결되며, 상기 강유전체 트랜지스터의 게이트는 상기 모스 트랜지스터의 드레인과 공통 접속되고, 상기 강유전체 트랜지스터의 소오스는 비트 라인과 연결되며, 상기 강유전체 트랜지스터의 드레인은 읽기 신호선과 연결되는 비휘발성 강유전체 메모리 셀
2 2
삭제
3 3
제 1 항에 있어서, 상기 전압원의 일측은 상기 강유전체 트랜지스터의 기판과 연결되고, 타측은 접지되는 것을 특징으로 하는 비휘발성 강유전체 메모리 셀
4 4
일방향으로 연장되는 워드 라인; 상기 워드 라인과 일정 거리를 두고 평행하게 연장되는 비트 라인; 상기 워드 라인 및 비트 라인과 각각 직교하도록 연장되며, 단위 셀 공간을 한정하도록 일정 거리를 두고 평행하게 연장되는 쓰기 신호선 및 읽기 신호선; 상기 단위셀 공간에 배치되는 액티브 영역; 상기 워드 라인과 쓰기 신호선과 인접한 액티브 영역에 형성되며, 상기 쓰기 신호선과 게이트가 연결되고, 상기 워드 라인과 소오스가 연결되는 모스 트랜지스터; 상기 비트 라인과 읽기 신호선과 인접한 액티브 영역에 형성되며, 상기 모스 트랜지스터의 드레인과 게이트가 연결되고, 상기 비트 라인과 소오스가 연결되며, 상기 읽기 신호선과 드레인이 연결되는 강유전체 트랜지스터; 및 상기 강유전체 트랜지스터의 액티브 영역과 연결되며, 상기 읽기 신호선과 인접 평행하게 연장되는 전압원을 포함하는 것을 특징으로 하는 비휘발성 강유전체 메모리 셀의 레이아웃 구조
5 5
제 4 항에 있어서, 상기 워드 라인과 인접 평행하게 배치되고, 상기 모스 트랜지스터가 형성되는 액티브 영역에 소정 전압을 공급하는 전원선을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 비휘발성 강유전체 메모리 셀의 레이아웃 구조
6 6
일정 등간격을 가지면서 평행하게 연장되는 다수의 워드 라인; 상기 인접하는 워드 라인 사이에, 상기 워드 라인과 일정 간격을 두고 평행하게 형성되는 다수의 비트 라인; 상기 다수의 워드 라인 및 상기 다수의 비트 라인과 직교하도록 형성되는 다수의 쓰기 신호선; 상기 인접하는 쓰기 신호선 사이에, 상기 쓰기 신호선과 일정 간격을 두고 평행하게 형성되며 상기 다수의 워드 라인 및 상기 다수의 비트 라인과 직교하여, 다수의 단위 셀을 한정하는 다수의 읽기 신호선; 상기 다수의 워드 라인과 모두 연결되며, 특정의 워드 라인을 선택하는 행 번지 지정 블록; 상기 다수의 비트 라인과 모두 연결되며, 특정의 비트 라인을 선택하는 열 번지 지정 블록; 상기 각각의 단위 셀내에 배치되며, 상기 해당 단위 셀의 읽기 신호선의 구동시 해당 워드 라인의 신호를 스위칭하는 모스 트랜지스터; 및 상기 동일 단위셀내에 모스 트랜지스터의 출력에 응답하여, 상기 해당 비트 라인의 신호를 해당 읽기 신호선으로 전달하는 강유전체 트랜지스터를 포함하며, 상기 각각의 단위셀 내에는 강유전체 트랜지스터의 기판에는 일정한 전압을 지속적으로 공급하는 전압원이 연결되는 것을 특징으로 하는 비휘발성 강유전체 메모리 셀 어레이
7 6
일정 등간격을 가지면서 평행하게 연장되는 다수의 워드 라인; 상기 인접하는 워드 라인 사이에, 상기 워드 라인과 일정 간격을 두고 평행하게 형성되는 다수의 비트 라인; 상기 다수의 워드 라인 및 상기 다수의 비트 라인과 직교하도록 형성되는 다수의 쓰기 신호선; 상기 인접하는 쓰기 신호선 사이에, 상기 쓰기 신호선과 일정 간격을 두고 평행하게 형성되며 상기 다수의 워드 라인 및 상기 다수의 비트 라인과 직교하여, 다수의 단위 셀을 한정하는 다수의 읽기 신호선; 상기 다수의 워드 라인과 모두 연결되며, 특정의 워드 라인을 선택하는 행 번지 지정 블록; 상기 다수의 비트 라인과 모두 연결되며, 특정의 비트 라인을 선택하는 열 번지 지정 블록; 상기 각각의 단위 셀내에 배치되며, 상기 해당 단위 셀의 읽기 신호선의 구동시 해당 워드 라인의 신호를 스위칭하는 모스 트랜지스터; 및 상기 동일 단위셀내에 모스 트랜지스터의 출력에 응답하여, 상기 해당 비트 라인의 신호를 해당 읽기 신호선으로 전달하는 강유전체 트랜지스터를 포함하며, 상기 각각의 단위셀 내에는 강유전체 트랜지스터의 기판에는 일정한 전압을 지속적으로 공급하는 전압원이 연결되는 것을 특징으로 하는 비휘발성 강유전체 메모리 셀 어레이
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.