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기판 상에 게이트 전극, 게이트 절연막, 반도체층 및 소오스/드레인 전극을 구비하는 전계 효과 트랜지스터에 있어서, 상기 반도체층은 상기 게이트 절연막에 접촉하는 무기물 반도체층; 및 상기 무기물 반도체층 상에 형성된 유기물 반도체층으로 구성되되, 상기 무기물 반도체층 및 무기물 반도체층이 함께 채널층으로 이용되는 것을 특징으로 하는 전계 효과 트랜지스터
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제 1 항에 있어서, 상기 무기물 반도체층은 ZnS, CdS 또는 (Zn, Cd)S 인 것을 특징으로 하는 전계 효과 트랜지스터
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제 1 항에 있어서, 상기 유기 반도체층은 펜타센(pentacene) 또는 알파-6T(alpha-sexithiophene)의 P형 유기 단분자 반도체, F-CuPc(hexadecafluorcopper phthalocyanine)의 n형 유기 단분자 반도체, 또는 P3HT(poly(3-hexylthiophene))의 p형 유기 고분자 반도체인 것을 특징으로 하는 전계 효과 트랜지스터
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기판 상에 게이트 전극, 게이트 절연막, 반도체층 및 소오스/드레인 전극을 구비하는 전계 효과 트랜지스터 소자의 반도체층 형성방법에 있어서, 표면 졸겔법을 이용하여, 상기 게이트 절연막과 접촉하도록 무기물 반도체층을 형성하는 단계; 및 상기 무기물 반도체 상에 유기물 반도체층을 형성하는 단계를 포함하여 구성되되, 상기 무기물 반도체층 및 무기물 반도체층이 함께 채널층으로 이용되는 것을 특징으로 하는 전계 효과 트랜지스터의 반도체층 형성방법
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제 4 항에 있어서, 상기 무기물 반도체층을 형성하는 단계는, Zn(OAc)2의 수용액, Na2S의 수용액, ZnOH+, ZnCl+, CdOH+, CdCl+, HS- 이온들 중 하나 이상의 이온 성분이 들어있는 수용액을 사용하여 습식공정으로 증착하여 형성하는 것을 특징으로 하는 전계 효과 트랜지스터의 반도체층 형성방법
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제 4 항에 있어서, 상기 무기물 반도체층은 ZnS, CdS 또는 (Zn, Cd)S 인 것을 특징으로 하는 전계 효과 트랜지스터의 반도체층 형성방법
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제 4 항에 있어서, 상기 무기물 반도체층은 ZnS, CdS 또는 (Zn, Cd)S 인 것을 특징으로 하는 전계 효과 트랜지스터의 반도체층 형성방법
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