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(a1) 디그리가 최저인 임의의 열 1개로 구성된 패러티 검사 행렬을 형성하는 단계; (a2) 이전 단계까지 형성된 패러티 검사 행렬에 포함된 열 또는 열들과 독립적인 복수개의 시험 열들 중 각각의 시험 열과 이전 단계까지 형성된 패러티 검사 행렬로 각각 구성된 복수개의 시험 행렬 중에서 평균 거스 값이 최대인 시험 행렬에 포함된 시험 열을 이전 단계까지 형성된 패러티 검사 행렬에 추가하는 단계; 및 (a3) 복수개의 시험 열들 중 각각의 시험 열과 이전 단계까지 형성된 패러티 검사 행렬로 각각 구성된 복수개의 시험 행렬들 중에서 평균 거스 값이 최대인 시험 행렬에 포함된 시험 열을 이전 단계까지 형성된 패러티 검사 행렬에 추가하는 단계를 포함하며, 상기 (a2) 및 (a3) 단계를 복수회 수행하는 LDPC 부호용 패러티 검사 행렬 형성 방법
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제 1 항에 있어서, 상기 (a2) 단계는 (b1) 변수, 가변 벡터를 초기화 하는 단계; (b2) 디그리가 최저인 복수개의 시험 열들 중에서 하나의 시험열을 선택하는 단계; (b3) 이전 단계까지 형성된 패러티 검사 행렬과 상기 시험 열로 구성된 시험 행렬을 가우시안 소거법을 사용하여 하삼각 형태로 변환하는 단계; (b4), 변환된 행렬의 최상위 열이 영 벡터인 경우에는 상기 (b2) 단계로 넘어가고, 그렇지 아니하는 경우에는 (b5) 단계로 넘어가는 단계; (b5) 상기 시험 열과 이전까지 형성된 패러티 검사 행렬로 구성된 시험 행렬의 각각의 변수노드에 대하여 거스를 구하고 이를 평균하여 평균 거스를 구하는 단계; (b6) 상기 변수와 상기 시험 행렬의 평균 거스를 비교하여 평균 거스가 큰 경우에는 평균 거스의 값을 상기 변수에 대입하고, 시험 열을 상기 가변 벡터에 대입하는 단계; (b7) (b2) 단계 내지 (b6) 단계 중 어느 한 단계가 소정의 횟수만큼 수행되었는지 여부를 판단하여 소정의 횟수만큼 수행되었으면 (b8) 단계로 넘어가고, 소정의 횟부보다 적게 수행되었으면 (b2) 단계로 넘어가는 단계; (b8) 이전 단계까지 형성된 패러티 검사 행렬에 상기 가변 벡터를 추가하여 패러티 검사 행렬을 형성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 LDPC 부호용 패러티 검사 행렬 형성 방법
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제 1 항에 있어서, 상기 (a3) 단계는 (c1) 변수, 가변 벡터를 초기화 하는 단계; (c2) 최저 디그리를 초과하는 디그리를 갖는 복수개의 시험 열들 중에서 하나를 선택하는 단계; (c3) 상기 시험 열과 이전까지 형성된 패러티 검사 행렬로 구성된 시험 행렬의 각각의 변수노드에 대하여 거스를 구하고 이를 평균하여 평균 거스를 구하는 단계; (c4) 상기 변수와 상기 시험 행렬의 평균 거스를 비교하여 평균 거스가 큰 경우 또는 크거나 같은 경우에는 평균 거스의 값을 상기 변수에 대입하고, 시험 열을 상기 가변 벡터에 대입하는 단계; (c5) (c2) 단계 내지 (c4) 단계가 소정의 횟수만큼 수행되었는지 여부를 판단하여 소정의 횟수만큼 수행되었으면 (c6) 단계로 넘어가고, 소정의 횟부보다 적게 수행되었으면 (c2) 단계로 넘어가는 단계; 및 (c6) 이전 단계까지 형성된 패러티 검사 행렬에 상기 가변 벡터를 추가하여 패러티 검사 행렬을 형성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 LDPC 부호용 패러티 검사 행렬 형성 방법
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제 3 항에 있어서, 상기 변수 노드에 대하여 거스를 구하는 방법은 (d1) 거스를 구하려는 변수 노드인 소스 변수 노드와 연결된 에지를 통하여 체크 노드로 제 1 상수를 전달하고, 상기 소스 변수 노드와 연결되지 아니한 에지를 통하여 체크 노드로 제 2 상수를 전달하는 단계; (d2) 제 1 상수를 1 개 전달 받은 체크 노드는 자신과 연결된 에지 중에서 제 1 상수를 전달하지 아니한 에지를 통하여 변수 노드로 제 1 상수를 전달하고 제 1 상수를 전달한 에지를 통하여 변수 노드로 제 2 상수를 전달하며, 제 1 상수를 2 개 이상 전달받은 체크 노드는 자신과 연결된 모든 에지를 통하여 변수 노드로 제 1 상수를 전달하며, 제 2 상수만을 받은 체크 노드는 자신과 연결된 모든 에지를 통하여 변수 노드로 제 2 상수를 전달하는 단계; (d3) 제 1 상수를 1 개 전달 받은 변수 노드는 자신과 연결된 에지 중에서 제 1 상수를 전달하지 아니한 에지를 통하여 체크 노드로 제 1 상수를 전달하고 제 1 상수를 전달한 에지를 통하여 체크 노드로 제 2 상수를 전달하며, 제 1 상수를 2 개 이상 전달받은 변수 노드는 자신과 연결된 모든 에지를 통하여 체크 노드로 제 1 상수를 전달하며, 제 2 상수만을 전달받은 변수 노드는 자신과 연결된 모든 에지를 통하여 체크 노드로 제 2 상수를 전달하는 단계; (d4) 제 1 상수를 1 개 전달 받은 체크 노드는 자신과 연결된 에지 중에서 제 1 상수를 전달하지 아니한 에지를 통하여 변수 노드로 제 1 상수를 전달하고 제 1 상수를 전달한 에지를 통하여 변수 노드로 제 2 상수를 전달하며, 제 1 상수를 2 개 이상 전달받은 체크 노드는 자신과 연결된 모든 에지를 통하여 변수 노드로 제 1 상수를 전달하며, 제 2 상수만을 받은 체크 노드는 자신과 연결된 모든 에지를 통하여 변수 노드로 제 2 상수를 전달하는 단계; (d5) 상기 소스 변수 노드가 적어도 하나의 제 1 상수를 전달 받은 경우에는 (d6) 단계로 넘어가고 제 2 상수만을 전달받은 경우에는 (d3) 단계로 넘어가는 단계; 및 (d6) 지금까지 경유한 에지 수를 상기 변수 노드의 거스 값으로 할당하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 LDPC 부호용 패러티 검사 행렬 형성 방법
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제 3 항에 있어서, 상기 변수 노드에 대하여 거스를 구하는 방법은 (e1) 거스를 구하려는 변수 노드인 소스 변수 노드와 연결된 에지를 통하여 체크 노드로 소정의 정보를 전달하는 단계; (e2) 소정의 정보를 1 개 전달 받은 체크 노드는 자신과 연결된 에지 중에서 소정의 정보를 전달하지 아니한 에지를 통하여 변수 노드로 소정의 정보를 전달하고, 소정의 정보를 2 개 이상 전달받은 체크 노드는 자신과 연결된 모든 에지를 통하여 변수 노드로 소정의 정보를 전달하는 단계; (e3) 소정의 정보를 1 개 전달 받은 변수 노드는 자신과 연결된 에지 중에서 소정의 정보를 전달하지 아니한 에지를 통하여 체크 노드로 소정의 정보를 전달하고, 소정의 정보를 2 개 이상 전달받은 변수 노드는 자신과 연결된 모든 에지를 통하여 체크 노드로 소정의 정보를 전달하는 단계; (e4) 소정의 정보를 1 개 전달 받은 체크 노드는 자신과 연결된 에지 중에서 소정의 정보를 전달하지 아니한 에지를 통하여 변수 노드로 소정의 정보를 전달하고, 소정의 정보를 2 개 이상 전달받은 체크 노드는 자신과 연결된 모든 에지를 통하여 변수 노드로 소정의 정보를 전달하는 단계; (e5) 상기 소스 변수 노드가 적어도 하나의 소정의 정보를 전달 받은 경우에는 (e6) 단계로 넘어가고 그러하지 아니한 경우에는 (e3) 단계로 넘어가는 단계; 및 (e6) 지금까지 경유한 에지 수를 상기 변수 노드의 거스 값으로 할당하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 LDPC 부호용 패러티 검사 행렬 형성 방법
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(a1) 디그리가 2이고 독립적인 복수개의 열들로 구성된 패러티 검사 행렬을 형성하는 단계; 및 (a2) 디그리가 3 이상인 복수개의 시험 열들 중 각각의 시험 열과 이전 단계까지 형성된 패러티 검사 행렬로 각각 구성된 복수개의 시험 행렬들 중에서 평균 거스 값이 최대인 시험 행렬에 포함된 시험 열을 이전 단계까지 형성된 패러티 검사 행렬에 추가하는 단계를 포함하며, 상기 (a2) 단계를 복수회 수행하는 LDPC 부호용 패러티 검사 행렬 형성 방법
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제 6 항에 있어서, 상기 (a1) 단계는 (b1) 디그리가 2인 임의의 열 1개로 구성된 패러티 검사 행렬을 형성하는 단계; 및 (b2) 이전 단계까지 형성된 패러티 검사 행렬에 이 행렬에 포함된 열 또는 열들과 독립적이며 디그리가 2인 열을 추가하여 패러티 검사 행렬을 형성하는 단계를 포함하되 상기 (b2) 단계를 복수회 수행하는 LDPC 부호용 패러티 검사 행렬 형성 방법
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제 6 항에 있어서, 상기 (a2) 단계는 (c1) 상기 단계는 변수, 가변 벡터를 초기화 하는 단계; (c2) 디그리가 3 이상인 복수개의 시험 열들 중에서 하나를 선택하는 단계; (c3) 상기 시험 열과 이전까지 형성된 패러티 검사 행렬로 구성된 시험 행렬의 각각의 변수노드에 대하여 거스를 구하고 이를 평균하여 평균 거스를 구하는 단계; (c4) 상기 변수와 상기 시험 행렬의 평균 거스를 비교하여 평균 거스가 큰 경우 또는 크거나 같은 경우에는 평균 거스의 값을 상기 변수에 대입하고, 시험 열을 상기 가변 벡터에 대입하는 단계; (c5) (c2) 단계 내지 (c4) 단계가 소정의 횟수만큼 수행되었는지 여부를 판단하여 소정의 횟수만큼 수행되었으면 (c6) 단계로 넘어가고, 소정의 횟부보다 적게 수행되었으면 (c2) 단계로 넘어가는 단계; 및 (c6) 이전 단계까지 형성된 패러티 검사 행렬에 상기 가변 벡터를 추가하여 패러티 검사 행렬을 형성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 LDPC 부호용 패러티 검사 행렬 형성 방법
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(a1) 디그리가 최저인 임의의 열 1개로 구성된 패러티 검사 행렬을 형성하는 단계; (a2) 이전 단계까지 형성된 패러티 검사 행렬에 포함된 열 또는 열들과 독립적인 복수개의 시험 열 중 각각의 시험 열과 이전 단계까지 형성된 패러티 검사 행렬로 각각 구성된 복수개의 시험 행렬 중에서 시험열의 거스 값이 최대인 시험 행렬에 포함된 시험 열을 이전 단계까지 형성된 패러티 검사 행렬에 추가하는 단계; 및 (a3) 복수개의 시험 열들 중 각각의 시험 열과 이전 단계까지 형성된 패러티 검사 행렬로 각각 구성된 복수개의 시험 행렬들 중에서 시험열의 거스 값이 최대인 시험 행렬에 포함된 시험 열을 이전 단계까지 형성된 패러티 검사 행렬에 추가하는 단계를 포함하며, 상기 (a2) 및 (a3) 단계를 복수회 수행하는 LDPC 부호용 패러티 검사 행렬 형성 방법
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제 9 항에 있어서, 상기 (a3) 단계는 (b1) 변수, 가변 벡터를 초기화 하는 단계; (b2) 복수개의 시험 열들 중에서 하나를 선택하는 단계; (b3) 상기 시험 열과 이전까지 형성된 패러티 검사 행렬로 구성된 시험 행렬에서 시험 열의 거스를 구하는 단계; (b4) 상기 변수와 상기 시험 열의 거스를 비교하여 시험 열의 거스가 큰 경우 또는 크거나 같은 경우에는 시험열의 거스의 값을 상기 변수에 대입하고, 시험 열을 상기 가변 벡터에 대입하는 단계; (b5) (b2) 단계 내지 (b4) 단계가 소정의 횟수만큼 수행되었는지 여부를 판단하여 소정의 횟수만큼 수행되었으면 (b6) 단계로 넘어가고, 소정의 횟부보다 적게 수행되었으면 (b2) 단계로 넘어가는 단계; 및 (b6) 이전 단계까지 형성된 패러티 검사 행렬에 상기 가변 벡터를 추가하여 패러티 검사 행렬을 형성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 LDPC 부호용 패러티 검사 행렬 형성 방법
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(a1) 디그리가 2이고 독립적인 복수개의 열들로 구성된 패러티 검사 행렬을 형성하는 단계; 및 (a2) 디그리가 3 이상인 복수개의 시험 열들 중 각각의 시험 열과 이전 단계까지 형성된 패러티 검사 행렬로 각각 구성된 복수개의 시험 행렬들 중에서 시험 열의 거스 값이 최대인 시험 행렬에 포함된 시험 열을 이전 단계까지 형성된 패러티 검사 행렬에 추가하는 단계를 포함하며, 상기 (a2) 단계를 복수회 수행하는 LDPC 부호용 패러티 검사 행렬 형성 방법
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제 11 항에 있어서, 상기 (a2) 단계는 (b1) 상기 단계는 변수, 가변 벡터를 초기화 하는 단계; (b2) 디그리가 3 이상인 복수개의 시험 열들 중에서 하나를 선택하는 단계; (b3) 상기 시험 열과 이전까지 형성된 패러티 검사 행렬로 구성된 시험 행렬에서 시험 열의 거스를 구하는 단계; (b4) 상기 변수와 상기 시험 행렬의 시험 열의 거스를 비교하여 시험 열의 거스가 큰 경우에는 시험 열의 거스의 값을 상기 변수에 대입하고, 시험 열을 상기 가변 벡터에 대입하는 단계; (b5) (b2) 단계 내지 (b4) 단계가 소정의 횟수만큼 수행되었는지 여부를 판단하여 소정의 횟수만큼 수행되었으면 (b6) 단계로 넘어가고, 소정의 횟부보다 적게 수행되었으면 (b2) 단계로 넘어가는 단계; 및 (b6) 이전 단계까지 형성된 패러티 검사 행렬에 상기 가변 벡터를 추가하여 패러티 검사 행렬을 형성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 LDPC 부호용 패러티 검사 행렬 형성 방법
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