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광대역 내전력 시험 시스템 및 그 시험 방법

  • 기술번호 : KST2015082021
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 반도체 RF 수동부품의 신뢰성 있는 내전력 시험을 통해 수명을 예측하고, 가속수명시험의 가속조건이 성립하도록 정확한 온도를 유지하며 고장조건에 성립하는 시점에서 정확한 시간, 온도 그리고 주파수에 따른 전기적인 특성변화를 파악하여 가속수명모델에 적용하고 최적의 조건으로 수명을 예측하며, 차후 고장분석을 할 수 있는 광대역 내전력 시험 시스템 및 그 시험방법을 제공한다. 그 시험 시스템은 DUT(Device Under Test)의 전기적 특성을 분석하기 위하여 주파수 스윕(sweep)에 따른 지속파(Continuos Wave: CW) 신호를 발생시키고 DUT의 전기적 특성을 분석하는 네트워크 분석기; 지속파 신호를 인가받아 DUT로 입출력되는 신호의 전력을 모니터링하여 네트워크 분석기로 전달하는 광대역 내전력 테스팅(Broadband Power Durability Testing: BPDT) 모듈(module); DUT의 고온 스트레스 가속수명시험을 위한 고온 시험기; 및 시스템의 각 구성 장비를 제어하고 구성 장비로부터의 시험데이터를 분석하는 제어분석 컴퓨터;를 포함한다.내전력, FBAR, SAW, 가속수명시험
Int. CL G01R 31/3173 (2006.01)
CPC G01R 31/2858(2013.01) G01R 31/2858(2013.01) G01R 31/2858(2013.01)
출원번호/일자 1020060113479 (2006.11.16)
출원인 한국전자통신연구원
등록번호/일자 10-0825744-0000 (2008.04.22)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20080429) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2006.11.16)
심사청구항수 17

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김영구 대한민국 충북 청주시 상당구
2 김태홍 대한민국 대전 유성구
3 유종준 대한민국 대전 서구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 리앤목특허법인 대한민국 서울 강남구 언주로 **길 **, *층, **층, **층, **층(도곡동, 대림아크로텔)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2006.11.16 수리 (Accepted) 1-1-2006-0840139-16
2 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2007.09.20 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2007-0510453-23
3 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2007.11.20 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2007-0834075-31
4 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2007.11.20 수리 (Accepted) 1-1-2007-0834072-05
5 등록결정서
Decision to grant
2008.03.26 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2008-0166862-03
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.08.04 수리 (Accepted) 4-1-2009-5150899-36
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
DUT(Device Under Test)의 전기적 특성을 분석하기 위하여 주파수 스윕(sweep)에 따른 지속파(Continuos Wave: CW) 신호를 발생시키고 상기 DUT의 전기적 특성을 분석하는 네트워크 분석기;상기 지속파 신호를 인가받아 상기 DUT로 입출력되는 신호의 전력을 모니터링하여 상기 네트워크 분석기로 전달하는 광대역 내전력 테스팅(Broadband Power Durability Testing: BPDT) 모듈(module);상기 DUT의 고온 스트레스 가속수명시험을 위한 고온 시험기; 및시스템의 각 구성 장비를 제어하고 상기 구성 장비로부터의 시험데이터를 분석하는 제어분석 컴퓨터;를 포함하는 광대역 내전력 시험 시스템
2 2
제1 항에 있어서,상기 네트워크 분석기는 상기 지속파 신호를 발생하기 위한 신호발생장치, 및 상기 BPDT 모듈로부터 전달되는 3가지 신호를 측정하기 위한 3 개의 포트를 포함하되,상기 3가지 신호는 상기 BPDT 모듈로 입사된 기준 신호(R), 상기 DUT 입력단에서 발생하는 반사파 신호(A), 및 상기 DUT를 통과한 전송파 신호(B)인 것을 특징으로 광대역 내전력 시험 시스템
3 3
제2 항에 있어서,상기 네트워크 분석기에서의 신호의 측정은 각 신호의 진폭 및 위상을 측정하는 것을 특징으로 하는 광대역 내전력 시험 시스템
4 4
제3 항에 있어서,상기 네트워크 분석기는 상기 신호들의 측정값을 이용하여 반사특성(A/R) 및 전송특성(B/R)을 계산할 수 있는 것을 특징으로 하는 광대역 내전력 시험 시스템
5 5
제1 항에 있어서,상기 고온 시험기의 온도는 85 ℃로 유지되는 것을 특징으로 하는 광대역 내전력 시험 시스템
6 6
제1 항에 있어서,상기 시험 시스템은 상기 지속파를 증폭하여 상기 BPDT 모듈로 입력하는 전력증폭기;상기 전력증폭기로 전원을 공급하는 전원 공급기;상기 시험 시스템은 상기 BPDT 모듈에 연결되어 상기 DUT로 입력되는 신호의 전력레벨을 측정하는 전력 메터; 및 상기 고온 시험기 내의 DUT의 온도를 모니터링하기 위한 온도 메터;를 포함하는 것을 특징으로 하는 광대역 내전력 시험 시스템
7 7
제6 항에 있어서,상기 BPDT 모듈은,상기 DUT의 연속적인 주파수 스윕에 따른 전기적인 특성을 모니터링 하기 위한 커플링 장치;상기 전력증폭기 및 상기 커플링 장치 사이에 연결되어 상기 전력증폭기의 출력 전류의 역류를 방지하여, 상기 전력증폭기를 보호하고 상기 전력증폭기의 출력임피던스의 변동을 억제하며 안정화시키는 차단장치(isolator); 및상기 커플링 장치에 연결되어 상기 모니터링된 고전력의 신호를 상기 네트워크 분석기로 측정 및 분석할 수 있도록 감쇠시키고 고전력 신호로부터 상기 네트워크 분석기를 보호하는 감쇠기 장치;를 포함하는 광대역 내전력 시험 시스템
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제7 항에 있어서,상기 커플링 장치는,상기 차단장치를 통해 인가되는 주파수 스윕에 따른 신호 전력을 상기 네트워크 분석기의 기준파 채널(R)로 커플링하는 제1 커플러;상기 제1 커플링 장치를 통해 인가되는 신호의 전력 중 주파수 스윕에 따른 신호 전력 중 반사파의 신호 전력을 상기 네트워크 분석기의 반사파 채널(A)로 커플링하는 제2 커플러; 및상기 DUT로 인가되는 전력레벨을 모니터링하기 위하여 제2 커플러로부터 상기 DUT로 인가되는 신호 전력을 커플링하는 제3 커플러;를 포함하고,상기 감쇠기 장치는,상기 제1 커플러의 고전력 신호를 감쇠시켜 상기 기준파 채널(R)로 인가하는 제1 감쇠기; 상기 제2 커플러의 고전력 신호를 감쇠시켜 상기 반사파 채널(A)로 인가하는 제2 감쇠기; 및 상기 DUT로부터 출력되는 고전력 신호를 상기 네트워크 분석기의 전송파 채널(B)로 인가하는 제3 감쇠기;를 포함하는 것을 특징으로 하는 광대역 내전력 시험 시스템
9 9
제6 항에 있어서,상기 온도 메터는 열전쌍(thermocouple)을 이용하여 상기 고온 시험기 내의 DUT의 온도를 측정하는 것을 특징으로 하는 광대역 내전력 시험 시스템
10 10
제1 항에 있어서,상기 제어분석 컴퓨터는, 상기 주파수 스윕 범위 및 상기 전력레벨의 시험기준을 포함한 상기 각 구성 장비의 기본 셋팅 값을 자동으로 조절하는 광대역 내전력 자동시험 프로그램을 통해 제어하는 것을 특징으로 하는 광대역 내전력 시험 시스템
11 11
제1 항의 광대역 내전력 시험 시스템을 이용하여 광대역 내전력 시험방법에 있어서,상기 시험 시스템 장비를 셋업(set-up)하는 단계;상기 지속파 신호를 조절하여 상기 DUT로 입력되는 시험전력레벨을 제어하는 시스템 초기화하는 단계;상기 SPDT 모듈 및 네트워크 분석기를 통해 신호의 전력을 측정하는 단계; 및기 설정된 상기 DUT의 고장판정기준에서 벗어나는 경우 상기 지속파 신호를 차단하여 시험을 종료하는 단계;를 포함하는 광대역 내전력 시험방법
12 12
제11 항에 있어서,상기 장비 셋업 단계는 상기 네트워크 분석기의 교정(calibration), 상기 DUT로 입력되는 전력레벨을 측정하는 전력 메터의 제로잉(zeroing)과 교정(calibration), 및 상기 고온 시험기의 고온 유지 작업을 포함하는 것을 특징으로 하는 광대역 내전력 시험방법
13 13
제12 항에 있어서,상기 분석기의 교정 작업은 상기 컴퓨터로 상기 네트워크 분석기의 시작(start) 및 끝(stop) 주파수 및 스윕을 위한 스텝 포인트 개수 입력 작업을 포함하고,상기 분석기의 교정 및 상기 전력 메터의 제로잉과 교정은 상기 DUT의 연결 포트와의 연결을 통해 실시하고,상기 고온 유지 작업은 상기 고온 시험기의 온도를 85 ℃고온 온도상태로 유지하도록 하는 것을 특징으로 하는 광대역 내전력 시험방법
14 14
제11 항에 있어서,상기 초기화 단계는 시험전력레벨을 입력하고 상기 DUT의 연결 포트로 쓰루(Thru) 커넥터를 연결하여 상기 전력 메터를 통해 상기 DUT로 입력되는 신호전력을 모니터링하여 상기 시험전력레벨과의 차이(loss) 보정하는 작업을 포함하는 것을 특징으로 하는 광대역 내전력 시험방법
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제13 항 또는 제14 항에 있어서,상기의 셋팅 작업과 초기화 작업은 상기 제어분석 컴퓨터의 광대역 내전력 자동시험 프로그램을 통해 자동으로 시행되는 것을 특징으로 하는 광대역 내전력 시험방법
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제11 항에 있어서,상기 네트워크 분석기는 상기 BPDT 모듈로 입사된 기준 신호(R), 상기 DUT 입력단에서 발생하는 반사파 신호(A), 및 상기 DUT를 통과한 전송파 신호(B)를 측정하기 위한 3 개의 포트를 포함하고,상기 신호를 측정하는 단계는 상기 분석기의 각 포트를 통해 각 신호의 진폭 및 위상을 측정하는 것을 특징으로 하는 광대역 내전력 시험방법
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제11 항에 있어서,상기 고정판정기준은 삽입 손실이 소정 기준 이상으로 증가하는 시점으로 설정하며,안정적인 전력 측정을 위해 파워 트랙킹(power tracking) 값을 설정하되, 상기 트랙킹 값은 상기 고장판정기준 값보다는 작은 것으로 설정하는 것을 특징으로 하는 광대역 내전력 시험방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.