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내전력 시험 시스템 및 그 방법

  • 기술번호 : KST2015082436
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 내전력 시험 시스템에서는 예비 시험 단계를 통해 주기적으로 반도체 RF 수동 부품의 전기적인 특성을 측정하면서 시험 주파수 및 최대 전력 레벨을 설정한 후 예비 시험 단계의 측정 결과를 바탕으로 스텝-스트레스(step-stress) 방법을 적용하여 소정의 시작 전력 레벨에서 설정된 최대 전력 레벨까지 단계적으로 증가시키며 반도체 RF 수동 부품의 내전력 신뢰성 시험을 수행한다. 이렇게 하면, 시험 시간을 효율적으로 단축시킬 수 있으며 보다 신뢰성 있고 정확한 시험을 수행할 수 있다.SAW(Surface Accustic Wave), 내전력, 시험, 주파수, 신뢰성
Int. CL G01R 21/00 (2014.01) G01R 31/26 (2014.01) G01R 31/30 (2014.01)
CPC G01R 31/30(2013.01) G01R 31/30(2013.01) G01R 31/30(2013.01)
출원번호/일자 1020060124587 (2006.12.08)
출원인 한국전자통신연구원
등록번호/일자 10-0827368-0000 (2008.04.28)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20080506) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2006.12.08)
심사청구항수 4

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김영구 대한민국 충북 청주시 상당구
2 김태홍 대한민국 대전 유성구
3 유종준 대한민국 대전 서구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 유미특허법인 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 ***, 서림빌딩 **층 (역삼동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2006.12.08 수리 (Accepted) 1-1-2006-0910965-88
2 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2007.10.26 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2007-0574176-69
3 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2007.12.24 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2007-0927795-44
4 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2007.12.24 수리 (Accepted) 1-1-2007-0927793-53
5 등록결정서
Decision to grant
2008.04.23 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2008-0217433-15
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.08.04 수리 (Accepted) 4-1-2009-5150899-36
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
반도체 RF 수동 부품의 내전력을 시험하는 방법에 있어서,상기 반도체 RF 수동 부품에 대한 고장 판정 기준을 설정하고, 시험 전력을 시작 전력 레벨에서 일정 시간 및 일정 간격으로 증가시키면서 상기 반도체 RF 수동 부품의 전기적인 특성을 모니터링하여 시험 주파수 및 최대 시험 전력 레벨을 확인하는 예비 시험 단계;상기 시험 전력을 상기 시작 전력 레벨에서 상기 최대 시험 전력 레벨까지 각 단계별 시험 전력을 일정 시간 동안 유지하면서 상기 시험 주파수를 이용하여 상기 반도체 RF 수동 부품의 전기적인 특성을 모니터링하는 내전력 시험 단계; 및상기 내전력 시험 단계에서 상기 반도체 RF 수동 부품의 전기적인 특성 값이 상기 고장 판정 기준을 벗어나는 경우, 상기 내전력 시험을 종료하고 시험 데이터를 저장하는 단계를 포함하는 내전력 시험 방법
2 2
삭제
3 3
삭제
4 4
제1항에 있어서,상기 예비 시험 단계 이전에 상기 반도체 RF 수동 부품으로 입력되는 전력 레벨과 상기 반도체 RF 수동 부품으로부터 출력되는 전력 레벨을 입력되는 소정의 시험 전력 레벨과 비교하여 보상하는 단계를 더 포함하는 내전력 시험 방법
5 5
반도체 RF 수동 부품의 내전력을 시험하는 시스템에 있어서,입력되는 시험 주파수로부터 발생된 지속파 신호를 시험하고자 하는 전력 레벨로 증폭하는 고전력 증폭기;상기 반도체 RF 수동 부품으로 입력되는 전력 레벨과 상기 반도체 RF 수동 부품으로부터 출력되는 전력 레벨을 모니터링하는 전력 메터;상기 반도체 RF 수동 부품으로 입력되는 전력 레벨로부터 상기 반도체 RF 수동 부품의 전기적인 특성을 측정하는 네트워크 분석기; 및시험 전력을 시작 전력 레벨에서 일정 시간 및 일정 간격으로 증가시키면서 상기 반도체 RF 수동 부품의 전기적인 특성을 모니터링하여 상기 시험 주파수 및 최대 시험 전력 레벨을 설정한 후, 상기 시작 전력 레벨에서 상기 최대 시험 전력 레벨까지 각 단계별 상기 시험 전력을 일정 시간 동안 유지하면서 상기 시험 주파수를 이용하여 상기 RF 수동 부품의 전기적인 특성을 모니터링하여 상기 반도체 RF 수동 부품의 내전력 시험을 수행하는 제어 분석 컴퓨터를 포함하는 내전력 시험 시스템
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제5항에 있어서,입력단이 상기 반도체 RF 수동 부품에 연결되어 있고 출력단이 상기 네트워크 분석기 또는 상기 고전력 증폭기에 연결되어 있는 제1 스위치;입력단이 상기 반도체 RF 수동 부품에 연결되어 있고 출력단이 상기 네트워크 분석기 또는 상기 전력 메터에 연결되어 있는 제2 스위치; 및상기 제어 분석 컴퓨터의 제어에 따라서 상기 제1 및 제2 스위치를 제어하는 제어기를 더 포함하는 내전력 시험 시스템
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.