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반도체막의 선택적 영역 성장용 마스크 패턴 및 그를이용한 반도체막의 선택적 영역 성장 방법

  • 기술번호 : KST2015082742
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 반도체막의 부분적 성장 속도 및 스트레인을 각각 독립적으로 조절하는 반도체막의 선택적 영역 성장 방법 및 그에 사용되는 선택적 영역 성장용 마스크 패턴을 개시한다. 본 발명에 의한 제1 영역과 제2 영역을 포함하는 반도체막의 선택적 영역 성장 방법은 한 쌍의 제1 마스크 패턴 사이의 제1 열린 영역의 폭이 반도체막의 과도 성장이 일어나는 거리보다 큰 상기 한 쌍의 제1 마스크 패턴 및 상기 제1 열린 영역 이외의 영역의 제2 마스크 패턴을 포함하는 제1 영역의 마스크 패턴; 및 한 쌍의 제3 마스크 패턴 사이의 제2 열린 영역의 폭이 반도체막의 과도 성장이 일어나는 거리보다 큰 상기 한 쌍의 제3 마스크 패턴 및 상기 제2 열린 영역 이외의 영역의 제4 마스크 패턴을 포함하는 제2 영역의 마스크 패턴을 포함하는 선택적 영역 성장용 마스크 패턴을 사용하되, 상기 제1 영역의 마스크 패턴과 상기 제2 영역의 마스크 패턴을 조절하여 상기 제1 영역의 반도체막과 상기 제2 영역의 반도체막의 성장 속도 및 스트레인을 각각 독립적으로 조절한다. 선택적 영역 성장, 마스크 패턴, 성장 속도, 스트레인
Int. CL H01L 29/20 (2006.01) H01L 21/027 (2006.01)
CPC H01L 21/0274(2013.01) H01L 21/0274(2013.01) H01L 21/0274(2013.01) H01L 21/0274(2013.01) H01L 21/0274(2013.01) H01L 21/0274(2013.01)
출원번호/일자 1020070049955 (2007.05.22)
출원인 한국전자통신연구원
등록번호/일자 10-0875929-0000 (2008.12.18)
공개번호/일자 10-2008-0052204 (2008.06.11) 문서열기
공고번호/일자 (20081226) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보 대한민국  |   1020060122569   |   2006.12.05
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2007.05.22)
심사청구항수 17

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 송정호 대한민국 대전 유성구
2 김기수 대한민국 대전 유성구
3 김경옥 대한민국 서울 강남구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 리앤목특허법인 대한민국 서울 강남구 언주로 **길 **, *층, **층, **층, **층(도곡동, 대림아크로텔)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2007.05.22 수리 (Accepted) 1-1-2007-0376473-89
2 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2008.06.23 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2008-0333314-78
3 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2008.07.29 수리 (Accepted) 1-1-2008-0546129-10
4 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2008.07.29 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2008-0546130-67
5 등록결정서
Decision to grant
2008.11.28 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2008-0605402-45
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.08.04 수리 (Accepted) 4-1-2009-5150899-36
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
한 쌍의 제1 마스크 패턴 사이의 제1 열린 영역의 폭이 반도체막의 과도 성장이 일어나는 거리보다 큰 상기 한 쌍의 제1 마스크 패턴을 포함하되, 상기 한 쌍의 제1 마스크 패턴은 상기 제1 열린 영역에 형성되는 반도체막의 성장 속도를 증가시킬 수 있는 주기 P를 갖고 반복적으로 배열되는 반도체막의 선택적 영역 성장용 마스크 패턴
2 2
삭제
3 3
제1 항에 있어서, 상기 주기 P는 100㎛ 내지 500㎛의 범위를 갖는 반도체막의 선택적 영역 성장용 마스크 패턴
4 4
제1 항에 있어서, 상기 제1 열린 영역 이외의 영역의 제2 마스크 패턴을 더 포함하는 반도체막의 선택적 영역 성장용 마스크 패턴
5 5
제4 항에 있어서, 상기 제2 마스크 패턴의 폭은 상기 반도체막의 원하는 성장 속도에 대응하여 다른 값을 갖는 선택적 영역 성장용 마스크 패턴
6 6
제1 항 또는 제4 항에 있어서, 상기 반도체막은 확산 거리가 다른 적어도 두 가지 이상의 Ⅲ 족 원소를 포함한 화합물 반도체막을 포함하는 반도체막의 선택적 영역 성장용 마스크 패턴
7 7
한 쌍의 제1 마스크 패턴 사이의 제1 열린 영역의 폭이 반도체막의 과도 성장이 일어나는 거리보다 큰 상기 한 쌍의 제1 마스크 패턴을 포함하되, 상기 한 쌍의 제1 마스크 패턴은 상기 제1 열린 영역에 형성되는 반도체막의 성장 속도를 증가시킬 수 있는 주기 P를 갖고 반복되되, 상기 주기 P를 조절하여 상기 제1 열린 영역에 형성되는 반도체막의 성장 속도와 스트레인을 조절하는 반도체막의 선택적 영역 성장 방법
8 8
제7 항에 있어서, 상기 주기 P를 100㎛ 내지 500㎛의 범위로 조절하는 반도체막의 선택적 영역 성장 방법
9 9
한 쌍의 제1 마스크 패턴 사이의 제1 열린 영역의 폭이 반도체막의 과도 성장이 일어나는 거리보다 큰 상기 한 쌍의 제1 마스크 패턴 및 상기 제1 열린 영역 이외의 영역의 제2 마스크 패턴을 포함하는 마스크 패턴의 상기 제1 마스크 패턴, 상기 제1 열린 영역 및 상기 제2 마스크 패턴의 폭을 조절하여 상기 제1 열린 영역에 형성되는 반도체막의 성장 속도 및 스트레인을 독립적으로 조절하는 반도체막의 선택적 영역 성장 방법
10 10
제9 항에 있어서, 상기 제1 열린 영역의 폭을 증가시켜 상기 제1 열린 영역에 형성될 반도체막의 인장 스트레인을 증가시키는 반도체막의 선택적 영역 성장 방법
11 11
제9 항에 있어서, 상기 제1 열린 영역의 폭을 감소시켜 상기 제1 열린 영역에 형성될 반도체막의 압축 스트레인을 증가시키는 반도체막의 선택적 영역 성장 방법
12 12
제9 항에 있어서, 상기 제2 마스크 패턴의 갯수를 증가시켜 상기 제1 열린 영역에 형성될 반도체막의 성장 속도를 증가시키는 반도체막의 선택적 영역 성장 방법
13 13
제9 항에 있어서, 상기 제2 마스크 패턴의 폭을 증가시시켜 상기 제1 열린 영역에 형성될 반도체막의 성장 속도를 증가시키는 반도체막의 선택적 영역 성장 방법
14 14
제9 항에 있어서, 상기 반도체막은 Ⅲ-Ⅴ족 화합물 반도체막인 반도체막의 선택적 영역 성장 방법
15 15
제14 항에 있어서, 상기 Ⅲ-Ⅴ족 화합물 반도체막은 INGaAsP 인 반도체막의 선택적 영역 성장 방법
16 16
레이저 영역과 모듈레이터 영역을 포함하는 광소자용 반도체막의 선택적 영역 성장 방법에 있어서, 한 쌍의 제1 마스크 패턴 사이의 제1 열린 영역의 폭이 반도체막의 과도 성장이 일어나는 거리보다 큰 상기 한 쌍의 제1 마스크 패턴 및 상기 제1 열린 영역 이외의 영역의 제2 마스크 패턴을 포함하는 레이저 영역의 마스크 패턴; 및한 쌍의 제3 마스크 패턴 사이의 제2 열린 영역의 폭이 반도체막의 과도 성장이 일어나는 거리보다 큰 상기 한 쌍의 제3 마스크 패턴 및 상기 제2 열린 영역 이외의 영역의 제4 마스크 패턴을 포함하는 모듈레이터 영역의 마스크 패턴을 포함하는 마스크 패턴을 사용하되, 상기 레이저 영역의 반도체막을 상기 모듈레이터 영역의 반도체막보다 두껍게 형성하기 위하여, 상기 제2 마스크 패턴의 폭을 상기 제4 마스크 패턴의 폭보다 크게 하는 광소자용 반도체막의 선택적 영역 성장 방법
17 17
제16 항에 있어서, 상기 광소자용 반도체막은 능동층의 웰층을 포함하는 광소자용 반도체막의 선택적 영역 성장 방법
18 18
제16 항에 있어서, 상기 광소자용 반도체막은 INGaAsP 을 포함하는 광소자용 반도체막의 선택적 영역 성장 방법
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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 US20100081225 US 미국 FAMILY
2 WO2008069432 WO 세계지적재산권기구(WIPO) FAMILY

DOCDB 패밀리 정보

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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 US2010081225 US 미국 DOCDBFAMILY
국가 R&D 정보가 없습니다.