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검출 소자 및 검출 소자의 제조 방법

  • 기술번호 : KST2015083500
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명의 검출 소자는, 기저부; 상기 기저부 상에 서로 이격되어 형성된 제1 전극 및 제2 전극; 상기 기저부 상에 상기 제1 전극 및 제2 전극 사이에 형성되며, 유체 내의 특정 작용기에 반응하는 반응 물질층; 및 상기 제1 전극 및 제2 전극을 감싸면서, 상기 반응 물질층의 일부가 노출되도록 반응 공간을 형성하는 보호 매질층을 포함하는 것을 특징으로 한다. 본 발명에 따른 검출 소자를 실시하면, 저렴한 제작 비용으로 전극을 효과적으로 보호하며, 검출하려는 유체에 대한 가이드를 제공할 수 있는 효과가 있다. 유기 반도체, 검출 소자, 바이오 소자, PDMS
Int. CL G01N 27/26 (2006.01) G01N 27/00 (2006.01) G01N 35/00 (2006.01) G01N 33/48 (2006.01)
CPC
출원번호/일자 1020070125544 (2007.12.05)
출원인 한국전자통신연구원
등록번호/일자 10-0906144-0000 (2009.06.29)
공개번호/일자 10-2009-0058787 (2009.06.10) 문서열기
공고번호/일자 (20090707) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2007.12.05)
심사청구항수 14

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김성현 대한민국 대전 유성구
2 양용석 대한민국 대전 유성구
3 임상철 대한민국 대전 유성구
4 김진식 대한민국 대전 서구
5 송윤호 대한민국 대전 서구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 신영무 대한민국 서울특별시 강남구 영동대로 ***(대치동) KT&G타워 *층(에스앤엘파트너스)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2007.12.05 수리 (Accepted) 1-1-2007-0875816-62
2 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2009.01.16 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2009-0021571-45
3 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2009.01.30 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2009-0060198-29
4 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2009.01.30 수리 (Accepted) 1-1-2009-0060192-56
5 등록결정서
Decision to grant
2009.06.23 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2009-0263463-21
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.08.04 수리 (Accepted) 4-1-2009-5150899-36
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
기저부; 상기 기저부 상에 서로 이격되어 형성된 제1 전극 및 제2 전극; 상기 기저부 상에 상기 제1 전극 및 제2 전극 사이에 형성되며, 유체 내의 특정 작용기에 반응하는 반응 물질층; 및 상기 제1 전극 및 제2 전극을 감싸면서, 상기 반응 물질층의 일부가 노출되도록 반응 공간을 형성하는 보호 매질층 을 포함하는 검출 소자
2 2
제1항에 있어서, 상기 보호 매질층은, 상기 유체가 흐를 수 있도록 도관 형태의 폐쇄 경로를 형성한 것을 특징으로 하는 검출 소자
3 3
제1항에 있어서, 상기 기저부는, 게이트 전극층; 및 상기 게이트 전극층 상에 형성되며, 상기 제1 전극, 제2 전극 및 반응 물질층 아래에 위치하는 절연층을 포함하는 것을 특징으로 하는 검출 소자
4 4
제3항에 있어서, 상기 절연층은, 유전체층인 것을 특징으로 하는 검출 소자
5 5
제1항에 있어서, 상기 반응 물질층은, 유기 반도체층인 것을 특징으로 하는 검출 소자
6 6
제1항에 있어서, 상기 보호 매질층은, 고분자 물질로 이루어진 것을 특징으로 하는 검출 소자
7 7
제1항에 있어서, 상기 보호 매질층은, PDMS 물질을 포함하는 것을 특징으로 하는 검출 소자
8 8
유체 내의 특정 작용기에 반응하는 반응 물질층을 포함하는 하부판을 형성하는 단계; 전기적 특성을 측정하기 위한 제1 전극과 제2 전극, 및 상기 제1 전극과 제2 전극을 보호하는 보호 매질층을 포함하는 상부판을 형성하는 단계; 및 상기 상부판 및 하부판을 접합시키는 단계 를 포함하는 검출 소자의 제조 방법
9 9
제8항에 있어서, 상기 상부판을 형성하는 단계는, 프레임 층 상에 상기 보호 매질층을 적층하는 단계; 상기 적층된 보호 매질층에 반응 공간 패턴을 형성하는 단계; 및 상기 보호 매질층 상의 일부 영역에 상기 제1 전극 및 제2 전극을 형성하는 단계 를 포함하는 것을 특징으로 하는 검출 소자의 제조 방법
10 10
제8항에 있어서, 상기 상부판을 형성하는 단계는, 반응 공간 패턴을 위한 돌출부가 구비된 프레임 층 상에 상기 보호 매질층을 적층하는 단계; 및 상기 보호 매질층 상의 일부 영역에 전극을 형성하는 단계 를 포함하는 것을 특징으로 하는 검출 소자의 제조 방법
11 11
제8항에 있어서, 상기 상부판 및 하부판을 접합시키는 단계는, 라미네이션 공법으로 수행되는 것을 특징으로 하는 검출 소자의 제조 방법
12 12
제11항에 있어서, 상기 하부판을 형성하는 단계는, 게이트 전극층을 형성하는 단계; 상기 게이트 전극층 상에 절연층을 형성하는 단계; 및 상기 절연층 상의 일부 영역에 상기 반응 물질층을 형성하는 단계 를 포함하는 것을 특징으로 하는 검출 소자의 제조 방법
13 13
제11항에 있어서, 상기 보호 매질층은, PDMS층인 것을 특징으로 하는 검출 소자의 제조 방법
14 14
제11항에 있어서, 상기 반응 물질층은, 유기 반도체층인 것을 특징으로 하는 검출 소자의 제조 방법
지정국 정보가 없습니다
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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 US20090146135 US 미국 FAMILY

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1 US2009146135 US 미국 DOCDBFAMILY
국가 R&D 정보가 없습니다.