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제1 전극;
상기 제1 전극의 주위 및 상면을 둘러싸는 유전체층;
상기 유전체층의 상면의 일부 영역에 서로 이격되어 형성된 제2 전극 및 제3 전극을 포함하는 제1 기판과,
프레임 기판;
상기 프레임 기판 상면에 형성되며 특정 작용기와 반응하는 반응 물질층을 포함하는 제2 기판으로 이루어지며,
상기 반응 물질층이 측정하려는 유체와 접촉한 상태에서, 상기 제1 기판과 제2 기판을 밀착시켜, 상기 제2 전극 및 제3 전극간의 전기적 특성을 측정하는 방식으로 검출이 수행되는 것을 특징으로 하는 검출 소자
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2
제1항에 있어서,
상기 유전체의 상면 영역 중 제1 전극이 중첩되는 일부 영역에는 상기 제2 전극 및 제3 전극이 위치하지 않는 것을 특징으로 하는 검출 소자
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3
제1항에 있어서,
상기 제1 전극은 게이트 전극이며,
상기 제2 전극은 소스 전극이며,
상기 제3 전극은 드레인 전극으로서,
트랜지스터 구조를 형성하는 것을 특징으로 하는 검출 소자
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4
제1항에 있어서, 상기 반응 물질층은,
유기 반도체, 반도체 고분자, 전도성 고분자 및 이들의 유도체들 중 적어도 하나 이상을 포함하는 물질로 이루어진 것을 특징으로 하는 검출 소자
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5
제1항에 있어서, 상기 제1 기판은,
상기 제1 전극 하부에 상기 제1 전극을 지지하는 프레임 기판을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 검출 소자
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6
제1 프레임 기판;
상기 제1 프레임 기판의 상면의 일부 영역에 서로 이격되어 형성된 제1 전극 및 제2 전극을 포함하는 제1 기판과,
제2 프레임 기판;
상기 제2 프레임 기판 상면에 형성되며 특정 작용기와 반응하는 반응 물질층을 포함하는 제2 기판으로 이루어지며,
상기 반응 물질층이 측정하려는 유체와 접촉한 상태에서, 상기 제1 기판과 제2 기판을 밀착시켜, 상기 제1 전극 및 제2 전극간의 전기적 특성을 측정하는 방식으로 검출이 수행되는 것을 특징으로 하는 검출 소자
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7
제6항에 있어서, 상기 반응 물질층은,
유기 반도체, 반도체 고분자, 전도성 고분자 및 이들의 유도체들 중 적어도 하나 이상을 포함하는 물질로 이루어진 것을 특징으로 하는 검출 소자
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