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밴드갭 기준전압 발생기

  • 기술번호 : KST2015084156
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 밴드갭 기준전압 발생기에 관한 것으로, 제1, 2 바이폴라 트랜지스터에 제4, 5 NMOS 트랜지스터를 병렬로 각각 연결하여 절대온도에 반비례하는 CTAT(Complementary To Absolute temperature) 전압이 상기 제5 NMOS 트랜지스터의 문턱전압 만큼 감소되도록 한 것을 특징으로 한다. 따라서, 본 발명에 따르면, 절대온도에 비례하는 PTAT(Proportional To Absolute Temperature) 전압의 온도 계수에 대한 가중치값이 감소되어 제로의 온도 계수를 위한 저항비를 1/2 정도로 줄일 수 있으므로 밴드갭 기준전압 발생기의 소형화를 도모할 수 있다. 또한, 상기 제1, 2 바이폴라 트랜지스터에 병렬로 각각 연결된 제2, 3 저항에 의해 1V 이하의 안정된 기준전압을 제공할 수 있다. 저전압, 기준전압, 트랜지스터, 저항, 온도 계수, 가중치
Int. CL G05F 3/24 (2006.01)
CPC
출원번호/일자 1020080085999 (2008.09.01)
출원인 한국전자통신연구원
등록번호/일자 10-0981732-0000 (2010.09.06)
공개번호/일자 10-2010-0026839 (2010.03.10) 문서열기
공고번호/일자 (20100913) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2008.09.01)
심사청구항수 8

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 조영균 대한민국 대전 서구
2 전영득 대한민국 대전 중구
3 남재원 대한민국 대전광역시 유성구
4 권종기 대한민국 대전 서구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 신영무 대한민국 서울특별시 강남구 영동대로 ***(대치동) KT&G타워 *층(에스앤엘파트너스)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2008.09.01 수리 (Accepted) 1-1-2008-0622661-50
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.08.04 수리 (Accepted) 4-1-2009-5150899-36
3 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2010.04.14 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2010.05.19 수리 (Accepted) 9-1-2010-0030759-63
5 등록결정서
Decision to grant
2010.08.30 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2010-0380792-17
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
게이트와 소스가 제1 노드와 전원단자에 공통으로 각각 연결되고, 드레인이 제2, 3, 4 노드에 각각 연결되며, 전류 미러의 형태로 이루어진 제1 내지 제3 PMOS 트랜지스터; 반전 및 비반전 입력단자가 상기 제2, 3 노드에 각각 연결되며 출력단자가 상기 제1 노드에 연결된 피드백 증폭기; 상기 제2 노드와 제5 노드 사이 및 상기 제2 노드와 제6 노드 사이에 각각 연결된 제1, 2 저항; 상기 제3 노드와 제7 노드 사이 및 상기 제4 노드와 접지단자 사이에 각각 연결된 제3, 4 저항; 에미터가 상기 제5 노드와 상기 제3 노드에 각각 연결되며 콜렉터와 베이스가 접지단자에 연결된 제1, 2 바이폴라 트랜지스터; 및 게이트와 드레인이 상기 제6, 7 노드에 공통으로 각각 연결되며 소스가 접지단자에 각각 연결된 제4, 5 NMOS 트랜지스터를 포함하며, 상기 제4 노드와 접지단자 사이의 전압을 기준전압으로 사용하는 것을 특징으로 하는 밴드갭 기준전압 발생기
2 2
제 1 항에 있어서, 상기 제2, 3 저항은 동일한 저항값을 갖는 것을 특징으로 하는 밴드갭 기준전압 발생기
3 3
제 2 항에 있어서, 상기 제1 저항과 상기 제2 바이폴라 트랜지스터에 동일한 값의 전류가 흐르며, 상기 제2 저항과 상기 제3 저항에 동일한 값의 전류가 흐르는 것을 특징으로 하는 밴드갭 기준전압 발생기
4 4
제 3 항에 있어서, 상기 제1 저항에 걸리는 전압은 온도변화에 대하여 양의 비례방향으로 증가하는 특성을 가지며, 상기 제2 바이폴라 트랜지스터의 베이스-에미터 전압은 온도변화에 대하여 음의 비례방향으로 감소하는 특성을 갖는 것을 특징으로 하는 밴드갭 기준전압 발생기
5 5
제 1 항에 있어서, 상기 기준전압(Vref)은, (여기에서, R1, R3, R4는 상기 제1, 3, 4 저항, I2, I3는 상기 제2, 3 PMOS 트랜지스터에 흐르는 전류, VT는 온도 전압, n은 바이폴라 트랜지스터의 개수, VBE2는 상기 제2 바이폴라 트랜지스터의 베이스-에미터 전압, VTH_M5는 상기 제5 NMOS 트랜지스터의 문턱전압을 각각 나타냄) 의 값을 갖는 것을 특징으로 하는 밴드갭 기준전압 발생기
6 6
제 5 항에 있어서, 상기 온도 전압(VT)에 대한 가중치(α)는 α=ln n*(R3/R1) 이며, 상기 기준전압이 온도변화에 무관한 전압값을 갖도록 상기 온도 전압(VT)에 대한 가중치(α)가 감소되는 것을 특징으로 하는 밴드갭 기준전압 발생기
7 7
제 5 항에 있어서, 상기 기준전압은 0 내지 1V 이하의 전압값을 갖는 것을 특징으로 하는 밴드갭 기준전압 발생기
8 8
제 5 항에 있어서, 상기 기준전압이 온도변화에 무관한 전압값을 갖도록 상기 제4 저항의 저항값이 조절되는 것을 특징으로 하는 밴드갭 기준전압 발생기
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2 US8058863 US 미국 DOCDBFAMILY
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순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 지식경제부 및 정보통신연구진흥원 한국전자통신연구원 IT성장동력기술개발사업 45nm급 혼성 SoC용 아날로그 회로