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마이크로파 토모그램 영상 분석 장치와 방법

  • 기술번호 : KST2015084467
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 영상 분석 장치와 그 방법에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 마이크로파 토모그램 영상 분석 장치와 그 방법에 관한 것이다. 본 발명의 일 실시 예에 따른 장치는, 인터페이스를 통하여 마이크로파(microwave) 토모그래프(tomograph)로부터 측정물의 유전율 데이터를 제공받아 분석하는 마이크로파 토모그램(tomogram) 영상 분석 장치로서, 유전율 데이터에 기초하여 측정물의 등고선형 평면도와, 등고선형 평면도 위에 겹쳐지고 미리 결정된 간격을 가지는 눈금과, 등고선형 평면도의 색상에 따른 유전율을 숫자로 표현하는 컬러바의 정보들을 생성하는 연산부와, 생성된 정보들을 그래픽 데이터들로 변환하는 디스플레이 처리부와, 변환된 그래픽 데이터들을 제공받아 디스플레이하는 디스플레이부를 포함한다. 토모그램(tomogram), 토모그래프(tomograph), 마이크로파(microwave)
Int. CL A61B 6/02 (2006.01)
CPC A61B 6/502(2013.01) A61B 6/502(2013.01) A61B 6/502(2013.01) A61B 6/502(2013.01) A61B 6/502(2013.01) A61B 6/502(2013.01)
출원번호/일자 1020080115198 (2008.11.19)
출원인 한국전자통신연구원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2010-0056157 (2010.05.27) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 거절
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2008.11.19)
심사청구항수 19

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 손성호 대한민국 대전광역시 서구
2 김혁제 대한민국 대전광역시 유성구
3 이종문 대한민국 충청북도 청주시 흥덕구
4 이윤주 대한민국 경기도 화성시
5 전순익 대한민국 대전광역시 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 신성특허법인(유한) 대한민국 서울특별시 송파구 중대로 ***, ID타워 ***호 (가락동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2008.11.19 수리 (Accepted) 1-1-2008-0797935-13
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.08.04 수리 (Accepted) 4-1-2009-5150899-36
3 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2010.11.29 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2010-0541690-46
4 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2011.01.27 수리 (Accepted) 1-1-2011-0066949-00
5 거절결정서
Decision to Refuse a Patent
2011.08.22 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0470289-31
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
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번호 청구항
1 1
인터페이스를 통하여 마이크로파(microwave) 토모그래프(tomograph)로부터 측정물의 유전율 데이터를 제공받아 분석하는 마이크로파 토모그램(tomogram) 영상 분석 장치에 있어서, 상기 유전율 데이터에 기초하여 상기 측정물의 등고선형 평면도와, 상기 등고선형 평면도 위에 겹쳐지고 미리 결정된 간격을 가지는 눈금과, 상기 등고선형 평면도의 색상에 따른 유전율을 숫자로 표현하는 컬러바의 정보들을 생성하는 연산부와, 생성된 상기 정보들을 그래픽 데이터들로 변환하는 디스플레이 처리부와, 변환된 상기 그래픽 데이터들을 제공받아 디스플레이하는 디스플레이부를 포함하는 마이크로파 토모그램 영상 분석 장치
2 2
제 1 항에 있어서, 상기 연산부는, 상기 등고선형 평면도에서 최대 유전율과 상기 최대 유전율을 갖는 위치 정보를 생성하여 상기 디스플레이 처리부로 제공하는, 마이크로파 토모그램 영상 분석 장치
3 3
제 1 항에 있어서, 상기 연산부는, 상기 등고선형 평면도의 축 범위와 유전율 정보를 생성하여 상기 디스플레이 처리부로 제공하는, 마이크로파 토모그램 영상 분석 장치
4 4
제 1 항에 있어서, 상기 연산부는, 사용자 인터페이스로 수신된 정보에 의하여 상기 등고선형 평면도 위를 이동할 수 있는 마커 정보를 생성하여 상기 디스플레이 처리부로 제공하는, 마이크로파 토모그램 영상 분석 장치
5 5
제 1 항에 있어서, 상기 연산부는, 상기 등고선형 평면도의 기준축에서 소정 각도만큼 벌어진 축을 수평축으로 하고, 수직축을 유전율로 한 수직 단면도 정보를 생성하여 상기 디스플레이 처리부로 제공하는, 마이크로파 토모그램 영상 분석 장치
6 6
제 5 항에 있어서, 상기 연산부는, 상기 각도의 크기 정보를 생성하여 상기 디스플레이 처리부로 제공하는, 마이크로파 토모그램 영상 분석 장치
7 7
제 5 항에 있어서, 상기 연산부는, 상기 수직 단면도에서 최대 유전율과 상기 최대 유전율을 갖는 위치 정보를 생성하여 상기 디스플레이 처리부로 제공하는, 마이크로파 토모그램 영상 분석 장치
8 8
제 5 항에 있어서, 상기 연산부는, 상기 수직 단면도의 축 범위와 유전율 정보를 생성하여 상기 디스플레이 처리부로 제공하는, 마이크로파 토모그램 영상 분석 장치
9 9
제 5 항에 있어서, 상기 연산부는, 사용자 인터페이스로 수신된 정보에 의하여 상기 수직 단면도 위를 이동할 수 있는 마커 정보를 생성하여 상기 디스플레이 처리부로 제공하는, 마이크로파 토모그램 영상 분석 장치
10 10
제 4 항 또는 제 9 항에 있어서, 상기 마커는, 점 마커, 원형 마커 또는 선형 마커인, 마이크로파 토모그램 영상 분석 장치
11 11
제 1 항에 있어서, 상기 연산부는, 상기 등고선형 평면도에 유전율 축을 추가하여 3차원 정보를 생성하여 상기 디스플레이 처리부로 제공하는, 마이크로파 토모그램 영상 분석 장치
12 12
제 11 항에 있어서, 상기 연산부는, 상기 3차원 정보의 암각과 방위각 정보를 생성하여 상기 디스플레이 처리부로 제공하는, 마이크로파 토모그램 영상 분석 장치
13 13
인터페이스를 통하여 마이크로파(microwave) 토모그래프(tomograph)로부터 측정물의 유전율 데이터를 제공받아 분석하는 마이크로파 토모그램(tomogram) 영상 분석 방법에 있어서, 상기 유전율 데이터에 기초하여 상기 측정물의 등고선형 평면도와, 상기 등고선형 평면도 위에 겹쳐지고 미리 결정된 간격을 가지는 눈금과, 상기 등고선형 평면도의 색상에 따른 유전율을 숫자로 표현하는 컬러바 정보들을 생성하는 제 1 과정과, 생성된 상기 정보들을 그래픽 데이터들로 변환하는 제 2 과정과, 변환된 상기 그래픽 데이터들을 제공받아 디스플레이하는 제 3 과정을 포함하는 마이크로파 토모그램 영상 분석 방법
14 14
제 13 항에 있어서, 상기 제 1 과정은, 상기 등고선형 평면도에서 최대 유전율과 상기 최대 유전율을 갖는 위치 정보를 생성하는 과정을 포함하는 마이크로파 토모그램 영상 분석 방법
15 15
제 13 항에 있어서, 상기 제 1 과정은, 상기 등고선형 평면도의 축 범위와 유전율 정보를 생성하는 과정을 포함하는, 마이크로파 토모그램 영상 분석 방법
16 16
제 13 항에 있어서, 상기 제 1 과정은, 사용자 인터페이스로 수신된 정보에 의하여 상기 등고선형 평면도 위를 움직일 수 있는 마커 정보를 생성하는 과정을 포함하는, 마이크로파 토모그램 영상 분석 방법
17 17
제 13 항에 있어서, 상기 제 1 과정은, 상기 등고선형 평면도의 기준축에서 소정 각도만큼 벌어진 축을 수평축으로 하고, 수직축을 유전율로 한 수직 단면도 정보를 생성하는 과정을 포함하는, 마이크로파 토모그램 영상 분석 방법
18 18
제 17 항에 있어서, 상기 제 1 과정은, 사용자 인터페이스로 수신된 정보에 의하여 상기 수직 단면도 위를 이동할 수 있는 마커 정보를 생성하는 과정을 포함하는, 마이크로파 토모그램 영상 분석 방법
19 19
제 13 항에 있어서, 상기 제 1 과정은, 상기 등고선형 평면도에 유전율 축을 추가하여 3차원 정보를 생성하는 과정을 포함하는, 마이크로파 토모그램 영상 분석 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
순번, 연구부처, 주관기관, 연구사업, 연구과제의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 국가R&D 연구정보 정보 표입니다.
순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 지식경제부 한국전자통신연구원 IT원천기술개발 전자파 기반 진단 및 방호기술 연구