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전하 재활용을 이용한 반도체 메모리 장치

  • 기술번호 : KST2015084931
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명의 실시 예에 따른 반도체 메모리 장치는, 데이터 버스라인쌍에 제 1 스윙전압을 제공하는 쓰기 드라이버, 상기 데이터 버스라인쌍을 입력 어드레스에 따라 선택된 비트라인쌍에 연결하는 컬럼 선택회로, 및 상기 선택된 비트라인쌍에 연결된 복수의 서브블록들을 포함하되, 상기 복수의 서브블록들 각각은, 상기 선택된 비트라인쌍의 상기 제 1 스윙 전압을 감지 증폭하여 제 2 스윙 전압을 생성하는 쓰기 감지기, 및 상기 제 2 스윙 전압을 제공받는 서브비트라인쌍에 연결되고, 상기 서브비트라인쌍의 상기 제 2 스윙 전압에 따라 데이터가 저장되는 복수의 메모리 셀들을 포함할 것이다.반도체 메모리 장치, 전하 재활용, 읽기, 쓰기
Int. CL G11C 11/4193 (2006.01) G11C 11/419 (2006.01) G11C 11/416 (2006.01) G11C 11/413 (2006.01)
CPC G11C 11/419(2013.01) G11C 11/419(2013.01) G11C 11/419(2013.01) G11C 11/419(2013.01) G11C 11/419(2013.01) G11C 11/419(2013.01) G11C 11/419(2013.01)
출원번호/일자 1020090028882 (2009.04.03)
출원인 한국전자통신연구원, 충북대학교 산학협력단
등록번호/일자 10-1158751-0000 (2012.06.15)
공개번호/일자 10-2010-0070273 (2010.06.25) 문서열기
공고번호/일자 (20120622) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보 대한민국  |   1020080128668   |   2008.12.17
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2009.04.03)
심사청구항수 8

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구
2 충북대학교 산학협력단 대한민국 충청북도 청주시 서원구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 이상석 대한민국 대전광역시 유성구
2 유인규 대한민국 대전광역시 유성구
3 조경익 대한민국 대전광역시 유성구
4 양병도 대한민국 충청북도 청주시 흥덕구
5 이용규 대한민국 충청북도 청주시 흥덕구
6 이지수 대한민국 충청북도 청주시 흥덕구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 오세준 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 *길 ** *층(역삼동)(특허법인 고려)
2 권혁수 대한민국 서울특별시 강남구 언주로 ***, *층(삼일빌딩, 역삼동)(KS고려국제특허법률사무소)
3 송윤호 대한민국 서울특별시 강남구 언주로 *** (역삼동) *층(삼일빌딩)(케이에스고려국제특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 충북대학교 산학협력단 충청북도 청주시 서원구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2009.04.03 수리 (Accepted) 1-1-2009-0202323-38
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.08.04 수리 (Accepted) 4-1-2009-5150899-36
3 등록결정서
Decision to grant
2012.06.07 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0330554-21
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.08.28 수리 (Accepted) 4-1-2014-5103343-45
5 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.06.17 수리 (Accepted) 4-1-2015-5081402-70
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.05.15 수리 (Accepted) 4-1-2018-5086612-26
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.07.06 수리 (Accepted) 4-1-2020-5149268-82
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
데이터 버스라인쌍에 제 1 스윙전압을 제공하는 쓰기 드라이버;상기 데이터 버스라인쌍을 입력 어드레스에 따라 선택된 비트라인쌍에 연결하는 컬럼 선택회로; 및 상기 선택된 비트라인쌍에 연결된 복수의 서브블록들을 포함하되,상기 복수의 서브블록들 각각은,상기 선택된 비트라인쌍의 상기 제 1 스윙 전압을 감지 증폭하여 제 2 스윙 전압을 생성하는 쓰기 감지기; 및상기 제 2 스윙 전압을 제공받는 서브비트라인쌍에 연결되고, 상기 서브비트라인쌍의 상기 제 2 스윙 전압에 따라 데이터가 저장되는 복수의 메모리 셀들을 포함하는 반도체 메모리 장치
2 2
제 1 항에 있어서,상기 제 1 스윙 전압은 상기 제 2 스윙 전압보다 낮은 반도체 메모리 장치
3 3
제 1 항에 있어서,상기 반도체 메모리 장치는,읽기 동작시 상기 복수의 메모리 셀들 중에서 활성화된 메모리 셀에 저장된 데이터에 따라 상기 선택된 비트라인쌍으로 제 3 스윙 전압을 제공하는 읽기 드라이버; 및상기 컬럼 선택회로에 의해 상기 선택된 비트라인쌍과 상기 데이터 버스라인쌍이 연결되고, 상기 데이터 버스라인쌍의 상기 제 3 스윙 전압을 감지 증폭하여 제 4 스윙 전압을 생성하는 읽기 감지기를 더 포함하는 반도체 메모리 장치
4 4
제 3 항에 있어서,상기 제 3 스윙 전압은 상기 제 4 스윙 전압보다 낮은 반도체 메모리 장치
5 5
제 1 항에 있어서,상기 비트라인쌍은 계층 구조의 비트라인으로 구현되는 반도체 메모리 장치
6 6
제 1 항에 있어서,상기 복수의 메모리 셀들은 래치 구조로 구현되는 반도체 메모리 장치
7 7
제 1 비트라인쌍에 연결된 제 1 메모리 셀;상기 제 1 비트라인쌍과 이웃하는 제 2 비트라인쌍에 연결된 제 2 메모리셀;상기 제 1 비트라인쌍에 쓰기 전압을 제공하기 위한 제 1 쓰기 드라이버; 및상기 제 2 비트라인쌍에 쓰기 전압을 제공하기 위한 제 2 쓰기 드라이버를 포함하되,쓰기 동작시 상기 제 1 쓰기 드라이버에서 사용된 전하가 상기 제 2 쓰기 드라이버에서 재활용되도록 상기 제 1 비트라인쌍 중 어느 하나는 상기 제 2 비트라인쌍 중 어느 하나에 전기적으로 연결되는 반도체 메모리 장치
8 8
제 7 항에 있어서,상기 제 1 메모리 셀에 연결되고, 상기 제 1 메모리 셀에 저장된 데이터에 따라 상기 제 1 비트라인쌍으로 읽기 전압을 제공하기 위한 제 1 읽기 드라이버; 및상기 제 2 메모리 셀에 연결되고, 상기 제 2 메모리 셀에 저장된 데이터에 따라 상기 제 2 비트라인쌍으로 읽기 전압을 제공하기 위한 제 2 읽기 드라이버를 포함하되,읽기 동작시 상기 제 1 읽기 드라이버에서 사용된 전하가 상기 제 2 읽기 드라이버에서 재활용되도록 상기 제 1 비트라인쌍 중 어느 하나는 상기 제 2 비트라인쌍 중 어느 하나에 전기적으로 연결되는 반도체 메모리 장치
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