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맵 해석 장치 및 맵 해석 방법

  • 기술번호 : KST2015085382
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 맵 해석 장치 및 맵 해석 방법에 관한 것이다. 본 발명에 따른 맵 해석 장치는 수신된 맵 데이터를 저장하며, 상기 맵 데이터 중 한 니블을 이루는 네 개의 비트를 현재 비트로서 출력하는 메모리부, 상기 한 니블을 이루는 네 개의 비트 중 하위 세 개 비트를 지연 시켜 지연 비트로서 출력하는 지연부, 상기 메모리부로부터 상기 현재 비트를 전송받고, 상기 지연부로부터 상기 지연 비트를 전송받아, 상기 현재 비트와 상기 지연 비트를 조합하여 네 개 비트로 이루어진 복수의 니블 데이터를 생성하는 조합부, 상기 복수의 니블 데이터 중 하나를 선택하여 니블 정렬 맵 데이터로서 출력하는 다중화부, 그리고 상기 니블 정렬 맵 데이터를 니블 단위로 해석하여 맵에 포함된 정보를 추출하는 맵 해석부를 포함한다.맵해석, 니블, 맵정보요소
Int. CL H04L 27/26 (2006.01) H04W 48/08 (2009.01)
CPC H04W 48/08(2013.01) H04W 48/08(2013.01)
출원번호/일자 1020090082083 (2009.09.01)
출원인 한국전자통신연구원, 삼성전자주식회사
등록번호/일자 10-1620444-0000 (2016.05.04)
공개번호/일자 10-2010-0064319 (2010.06.14) 문서열기
공고번호/일자 (20160513) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보 대한민국  |   1020080122730   |   2008.12.04
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2014.08.07)
심사청구항수 11

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구
2 삼성전자주식회사 대한민국 경기도 수원시 영통구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 조승권 대한민국 경기 구리시
2 김영일 대한민국 대전광역시 유성구
3 채수창 대한민국 대전광역시 서구
4 문영진 대한민국 대전광역시 서구
5 이용수 대한민국 대전광역시 유성구
6 박지수 대한민국 대전광역시 서구
7 오정훈 대한민국 대전광역시 유성구
8 차재선 대한민국 대전광역시 유성구
9 김현재 대한민국 인천광역시 부평구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 팬코리아특허법인 대한민국 서울특별시 강남구 논현로**길 **, 역삼***빌딩 (역삼동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구
2 삼성전자주식회사 대한민국 경기도 수원시 영통구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2009.09.01 수리 (Accepted) 1-1-2009-0538704-66
2 [대리인선임]대리인(대표자)에 관한 신고서
[Appointment of Agent] Report on Agent (Representative)
2011.04.01 수리 (Accepted) 1-1-2011-0239391-36
3 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.06.21 수리 (Accepted) 4-1-2012-5132663-40
4 [심사청구]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)
2014.08.07 수리 (Accepted) 1-1-2014-0749539-84
5 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2015.01.15 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
7 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2015.03.13 수리 (Accepted) 9-1-2015-0019588-21
8 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2015.08.27 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2015-0582872-37
9 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2015.10.22 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2015-1028281-02
10 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2015.10.22 수리 (Accepted) 1-1-2015-1028280-56
11 등록결정서
Decision to grant
2016.02.05 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2016-0101440-69
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
수신된 맵 데이터를 저장하며, 상기 맵 데이터 중 한 니블을 이루는 네 개의 비트를 현재 비트로서 출력하는 메모리부,상기 한 니블을 이루는 네 개의 비트 중 하위 세 개 비트를 지연 시켜 지연 비트로서 출력하는 지연부,상기 메모리부로부터 상기 현재 비트를 전송받고, 상기 지연부로부터 상기 지연 비트를 전송받아, 상기 현재 비트와 상기 지연 비트를 조합하여 네 개 비트로 이루어진 복수의 니블 데이터를 생성하는 조합부,상기 복수의 니블 데이터 중 하나를 선택하여 니블 정렬 맵 데이터로서 출력하는 다중화부, 그리고상기 니블 정렬 맵 데이터를 니블 단위로 해석하여 맵에 포함된 정보를 추출하는 맵 해석부를 포함하는 맵 해석 장치
2 2
제1항에서,상기 메모리부, 상기 지연부, 상기 조합부, 상기 다중화부 및 상기 맵 해석부를 제어하는 제어부를 더 포함하는 맵 해석 장치
3 3
제2항에서,상기 복수의 니블 데이터는 네 가지 모드를 포함하는 맵 해석 장치
4 4
제3항에서,상기 네 가지 모드는 각각 제1 모드, 제2 모드, 제3 모드 및 제4 모드를 포함하고,상기 제1 모드는 상기 현재 비트를 이루는 네 개의 비트로 이루어져 있고, 상기 제2 모드는 상기 현재 비트의 첫 번째 비트(최상위 비트), 상기 현재 비트의 두 번째 비트, 상기 현재 비트의 세 번째 비트 및 상기 지연 비트의 네 번째 비트(최하위 비트)로 이루어져 있고,상기 제3 모드는 상기 현재 비트의 첫 번째 비트, 상기 현재 비트의 두 번째 비트, 상기 지연 비트의 세 번째 비트 및 상기 지연 비트의 네 번째 비트로 이루어져 있고,상기 제4 모드는 상기 현재 비트의 첫 번째 비트, 상기 지연 비트의 두 번째 비트, 상기 지연 비트의 세 번째 비트 및 상기 지연 비트의 네 번째 비트로 이루어져 있는맵 해석 장치
5 5
제1항에서,상기 지연부는 플립 플롭을 포함하는 맵 해석 장치
6 6
맵 해석부를 포함하는 이동국의 맵 해석 방법으로서,맵 데이터를 수신하는 단계,상기 맵 데이터 중 한 니블을 이루는 네 개의 비트를 현재 비트로서 출력하는 단계,상기 한 니블을 이루는 네 개의 비트 중 하위 세 개의 비트를 지연 시켜 지연 비트로서 출력하는 단계,상기 현재 비트 및 상기 지연 비트로부터 네 개의 비트로 이루어진 복수의 니블 데이터를 생성하는 단계,상기 복수의 니블 데이터 중 하나의 니블 데이터를 선택하여 니블 정렬 맵 데이터로서 출력하는 단계, 그리고상기 니블 정렬 맵 데이터를 해석하여 맵을 해석하는 단계를 포함하는 맵 해석 방법
7 7
제6항에서,상기 복수의 니블 데이터는 제1 모드, 제2 모드, 제3 모드 및 제4 모드를 포함하고,상기 제1 모드는 상기 현재 비트를 이루는 네 개의 비트로 이루어져 있고, 상기 제2 모드는 상기 현재 비트의 첫 번째 비트(최상위 비트), 상기 현재 비트의 두 번째 비트, 상기 현재 비트의 세 번째 비트 및 상기 지연 비트의 네 번째 비트(최하위 비트)로 이루어져 있고,상기 제3 모드는 상기 현재 비트의 첫 번째 비트, 상기 현재 비트의 두 번째 비트, 상기 지연 비트의 세 번째 비트 및 상기 지연 비트의 네 번째 비트로 이루어져 있고,상기 제4 모드는 상기 현재 비트의 첫 번째 비트, 상기 지연 비트의 두 번째 비트, 상기 지연 비트의 세 번째 비트 및 상기 지연 비트의 네 번째 비트로 이루어져 있는맵 해석 방법
8 8
제7항에서,상기 맵 해석부는 연속되어 있는 제1 상태 및 제2 상태를 갖고,상기 제1 상태에서 입력받은 상기 니블 데이터를 이루는 네 개의 비트 중 t(t=0, 1, 2)번 비트부터 니블 정렬이 필요한 경우, 상기 제2 상태에서 상기 t 번 비트를 최상위 비트가 되도록 하는 단계를 더 포함하는 맵 해석 방법
9 9
제8항에서,상기 제2 상태에서 상기 t 번 비트를 최상위 비트가 되도록 하는 단계는, 상기 니블 데이터의 제1 모드의 인덱스를 0 이라 하고, 제2 모드의 인덱스를 1이라 하고, 제3 모드의 인덱스를 2라 하고, 제4 모드의 인덱스를 3이라 할 때, 상기 인덱스와 잔여 비트수의 합을 4와 모듈로(modulo) 연산한 결과 값을 상기 제2 상태의 니블 데이터의 모드 인덱스로 하는 맵 해석 방법
10 10
제9항에서,상기 맵 해석부가 상기 제1 상태에서 상기 제2 상태로 천이하기 전에 거치는 오버 헤드 상태의 수효를 결정하는 단계를 더 포함하는 맵 해석 방법
11 11
제10항에서,상기 오버 헤드 상태의 수효는 상기 제1 상태에서의 상기 니블 데이터의 모드 인덱스와 상기 잔여 비트수를 더한 값을 3과 비교하여 결정하는 맵 해석 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.