요약 | 본 발명의 터치스크린은, 복수의 구동 라인들과 복수의 센싱 라인들이 교차하여 배선된 터치 패널, 상기 구동 라인들을 순차적으로 활성화하는 구동부; 활성화된 구동 라인에 대응되는 센싱라인에 형성된 센싱 커패시턴스를 측정하는 입력부, 상기 측정된 센싱 커패시턴스를 직렬화하여 출력하는 멀티플렉서, 초기 센싱 커패시턴스를 오프셋으로 반영하여 상기 멀티플렉서로부터 출력된 상기 센싱 커패시턴스를 샘플링하고 상기 샘플링 결과를 디지털 변환하는 아날로그-디지털 컨버터, 그리고 상기 디지털 변환 결과에 응답해서 터치 이벤트를 판별하는 호스트 프로세서를 포함할 수 있다. |
---|---|
Int. CL | G06F 3/044 (2006.01.01) G06F 3/041 (2006.01.01) |
CPC | G06F 3/044(2013.01) G06F 3/044(2013.01) G06F 3/044(2013.01) |
출원번호/일자 | 1020100031831 (2010.04.07) |
출원인 | 한국전자통신연구원, 한양대학교 산학협력단 |
등록번호/일자 | 10-1360000-0000 (2014.01.27) |
공개번호/일자 | 10-2011-0052423 (2011.05.18) 문서열기 |
공고번호/일자 | (20140211) 문서열기 |
국제출원번호/일자 | |
국제공개번호/일자 | |
우선권정보 |
대한민국 | 1020090108956 | 2009.11.12
|
법적상태 | 소멸 |
심사진행상태 | 수리 |
심판사항 | |
구분 | 신규 |
원출원번호/일자 | |
관련 출원번호 | |
심사청구여부/일자 | Y (2010.04.07) |
심사청구항수 | 18 |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
---|---|---|---|
1 | 한국전자통신연구원 | 대한민국 | 대전광역시 유성구 |
2 | 한양대학교 산학협력단 | 대한민국 | 서울특별시 성동구 |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
---|---|---|---|
1 | 김창선 | 대한민국 | 서울 강동구 |
2 | 박장현 | 대한민국 | 서울특별시 서초구 |
3 | 노예철 | 대한민국 | 경기도 성남시 분당구 |
4 | 권오경 | 대한민국 | 서울 송파구 |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
---|---|---|---|
1 | 오세준 | 대한민국 | 서울특별시 강남구 테헤란로 *길 ** *층(역삼동)(특허법인 고려) |
2 | 권혁수 | 대한민국 | 서울특별시 강남구 언주로 ***, *층(삼일빌딩, 역삼동)(KS고려국제특허법률사무소) |
3 | 송윤호 | 대한민국 | 서울특별시 강남구 언주로 *** (역삼동) *층(삼일빌딩)(케이에스고려국제특허법률사무소) |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
---|---|---|---|
1 | 한국전자통신연구원 | 대전광역시 유성구 | |
2 | 한양대학교 산학협력단 | 서울특별시 성동구 |
번호 | 서류명 | 접수/발송일자 | 처리상태 | 접수/발송번호 |
---|---|---|---|---|
1 | [특허출원]특허출원서 [Patent Application] Patent Application |
2010.04.07 | 수리 (Accepted) | 1-1-2010-0221443-12 |
2 | 선행기술조사의뢰서 Request for Prior Art Search |
2013.06.04 | 수리 (Accepted) | 9-1-9999-9999999-89 |
3 | 선행기술조사보고서 Report of Prior Art Search |
2013.07.02 | 수리 (Accepted) | 9-1-2013-0050491-05 |
4 | 의견제출통지서 Notification of reason for refusal |
2013.07.03 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2013-0464878-07 |
5 | [명세서등 보정]보정서 [Amendment to Description, etc.] Amendment |
2013.08.21 | 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) | 1-1-2013-0758208-53 |
6 | [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서 [Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation) |
2013.08.21 | 수리 (Accepted) | 1-1-2013-0758207-18 |
7 | 등록결정서 Decision to grant |
2014.01.22 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2014-0050331-36 |
8 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2014.06.05 | 수리 (Accepted) | 4-1-2014-5068294-39 |
9 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2015.02.02 | 수리 (Accepted) | 4-1-2015-0006137-44 |
10 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2015.02.16 | 수리 (Accepted) | 4-1-2015-5022074-70 |
11 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2019.08.05 | 수리 (Accepted) | 4-1-2019-5155816-75 |
12 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2019.08.06 | 수리 (Accepted) | 4-1-2019-5156285-09 |
번호 | 청구항 |
---|---|
1 |
1 복수의 구동 라인들과 복수의 센싱 라인들이 교차하여 배선된 터치 패널;상기 구동 라인들을 순차적으로 활성화하는 구동부;활성화된 구동 라인에 대응되는 센싱라인에 형성된 센싱 커패시턴스를 측정하는 입력부;상기 측정된 센싱 커패시턴스를 직렬화하여 출력하는 멀티플렉서;초기 센싱 커패시턴스를 오프셋으로 반영하여 상기 멀티플렉서로부터 출력된 상기 센싱 커패시턴스를 샘플링하고, 상기 샘플링 결과를 디지털 변환하는 아날로그-디지털 컨버터; 그리고상기 디지털 변환 결과에 응답해서 터치 이벤트를 판별하는 호스트 프로세서를 포함하되,상기 입력부는 측정된 상기 센싱 커패시턴스를 전압으로 변환하는 복수의 전하 증폭기들을 포함하며, 상기 복수의 전하 증폭기들 각각은 적어도 하나의 피드백 커패시터를 포함하는 터치스크린 |
2 |
2 제 1 항에 있어서, 상기 디지털 변환 결과는 상기 센싱 커패시턴스와 상기 초기 센싱 커패시턴스의 차이에 해당되는 터치스크린 |
3 |
3 제 1 항에 있어서, 상기 초기 센싱 커패시턴스는 상기 터치 패널이 터치되지 않은 상태에서 측정되는 터치스크린 |
4 |
4 제 1 항에 있어서,상기 아날로그-디지털 컨버터는, 샘플링 구간에서 상기 멀티플렉서로부터 출력된 상기 센싱 커패시턴스를 상기 커패시터 어레이로 제공하는 제 1 스위치;상기 초기 센싱 커패시턴스에 의해 복수의 커패시터들이 접지 또는 제 1 기준전압에 선택적으로 접속된 후, 상기 샘플링 구간에서 상기 센싱 커패시턴스를 샘플링하는 커패시터 어레이;상기 초기 센싱 커패시턴스를 상기 커패시터 어레이로 제공하고, 상기 커패시터 어레이의 샘플링 결과가 디지털 변환 구간에서 비트 단위로 출력될 수 있도록 제어하는 SAR 로직;상기 디지털 변환 구간에서 상기 샘플링 결과를 비트 단위로 받아들여 비트 단위의 디지털 데이터를 출력하는 비교기; 그리고상기 디지털 변환 구간에서 상기 샘플링 결과를 상기 커패시터 어레이로부터 상기 비교기로 제공하는 제 2 스위치를 포함하는 터치스크린 |
5 |
5 제 4 항에 있어서,상기 커패시터 어레이에는 제 2 기준전압과 보상 전압의 차이에 해당되는 전압이 샘플링되는 터치스크린 |
6 |
6 제 5 항에 있어서,상기 보상 전압(VCOMP)은, 상기 제 2 기준전압이 VREF 이고, 상기 초기 센싱 커패시턴스의 각 비트들이 COMP1, COMP2, …, COMP10일 때, 의 값을 갖는 터치스크린 |
7 |
7 제 4 항에 있어서, 상기 호스트 프로세서는 상기 초기 센싱 커패시턴스를 저장하는 메모리를 포함하며, 상기 초기 센싱 커패시턴스는 상기 샘플링 구간이 수행되기 이전에 상기 메모리로부터 상기 커패시터 어레이로 제공되는 터치스크린 |
8 |
8 삭제 |
9 |
9 제 1 항에 있어서,상기 복수의 전하 증폭기들의 게인을 조절하기 위해, 상기 호스트 프로세서의 제어에 의해 상기 피드백 커패시터는 프로그래머블 커패시터 어레이를 구성하여 센싱 커패시터가 보상되는 터치스크린 |
10 |
10 제 1 항에 있어서,상기 복수의 전하 증폭기들의 오프셋 편차를 보상하기 위해, 상기 호스트 프로세서의 제어에 의해 상기 아날로그-디지털 컨버터의 기준전압의 레벨을 조절하는 오프셋 디지털-아날로그 컨버터를 더 포함하는 터치스크린 |
11 |
11 터치 패널이 터치 되지 않았을 때 센싱 커패시터로부터 측정된 제 1 데이터를 저장하는 단계; 그리고상기 터치 패널이 터치 되었을 때 상기 센싱 커패시터로부터 측정된 제 2 데이터를 디지털 데이터로 변환하는 단계를 포함하되,상기 제 2 데이터를 상기 디지털 데이터로 변환하는 단계는,상기 제 1 데이터를 근거로 하여 커패시터 어레이의 복수의 커패시터들을 접지 또는 제 1 기준전압에 선택적으로 접속하는 단계;상기 커패시터 어레이에서 상기 제 2 데이터를 샘플링하는 단계; 그리고상기 샘플링 결과를 N 비트의 디지털 데이터로 변환하는 단계를 포함하며,상기 제 1 데이터는 상기 제 2 데이터를 상기 디지털 데이터로 변환할 때 상기 제 2 데이터에 대한 샘플링 전압의 레벨을 조절하는데 사용되는 터치스크린의 센싱 커패시턴스 편차 및 오프셋 편차 보상 방법 |
12 |
12 삭제 |
13 |
13 제 11 항에 있어서,상기 N 비트의 디지털 데이터로 변환하는 단계는,상기 N 비트의 디지털 데이터의 각 비트들에 대응되는 N 개의 스캔신호들을 순차적으로 발생하는 단계;상기 샘플링 결과 중 상기 N 비트의 디지털 데이터의 각 비트들에 대응되는 전압이 순차적으로 비교기로 입력되는 단계; 그리고상기 비교기로 입력된 전압과 제 2 기준전압을 비교하여 상기 N 비트의 디지털 데이터의 각 비트들을 결정하는 단계를 포함하는 터치스크린의 센싱 커패시턴스 편차 및 오프셋 편차 보상 방법 |
14 |
14 제 13 항에 있어서, 상기 샘플링 결과는 상기 비교기의 반전 입력으로 입력되는 터치스크린의 센싱 커패시턴스 편차 및 오프셋 편차 보상 방법 |
15 |
15 제 13 항에 있어서,상기 비교기에 의해 결정된 상기 N 비트의 디지털 데이터는, 상기 제 1 데이터와 상기 제 2 데이터의 차이에 해당되는 터치스크린의 센싱 커패시턴스 편차 및 오프셋 편차 보상 방법 |
16 |
16 제 11 항에 있어서,상기 커패시터 어레이에는 제 2 기준전압과 보상 전압의 차이에 해당되는 전압이 샘플링 되는 터치스크린의 센싱 커패시턴스 편차 및 오프셋 편차 보상 방법 |
17 |
17 제 16 항에 있어서,상기 보상 전압(VCOMP)은, 상기 제 2 기준전압이 VREF 이고, 상기 제 1 데이터 값의 각 비트들이 COMP1, COMP2, …, COMP10일 때, 의 값을 갖는 터치스크린의 센싱 커패시턴스 편차 및 오프셋 편차 보상 방법 |
18 |
18 제 16 항에 있어서,상기 보상 전압의 레벨은 상기 제 1 데이터 값에 따라 조정되는 터치스크린의 센싱 커패시턴스 편차 및 오프셋 편차 보상 방법 |
19 |
19 제 11 항에 있어서, 상기 제 1 데이터를 저장하는 단계는, 상기 터치 패널의 구동을 처음 시작하는 초기화 동작 시, 또는 환경이 변했을 때 수행되는 터치스크린의 센싱 커패시턴스 편차 및 오프셋 편차 보상 방법 |
20 |
20 제 11 항에 있어서, 상기 제 2 데이터를 디지털 데이터로 변환하는 단계가 수행되기 이전에 상기 센싱 커패시터로부터 상기 제 2 데이터를 측정하는 전하 증폭기의 오프셋을 보상하는 단계를 더 포함하며,상기 전하 증폭기는 프로그래머블 피드백 커패시터를 구비하는 터치스크린의 센싱 커패시턴스 편차 및 오프셋 편차 보상 방법 |
지정국 정보가 없습니다 |
---|
순번 | 패밀리번호 | 국가코드 | 국가명 | 종류 |
---|---|---|---|---|
1 | US08629852 | US | 미국 | FAMILY |
2 | US20110109585 | US | 미국 | FAMILY |
순번 | 패밀리번호 | 국가코드 | 국가명 | 종류 |
---|---|---|---|---|
1 | US2011109585 | US | 미국 | DOCDBFAMILY |
2 | US8629852 | US | 미국 | DOCDBFAMILY |
순번 | 연구부처 | 주관기관 | 연구사업 | 연구과제 |
---|---|---|---|---|
1 | 지식경제부 | 한국전자통신연구원 | IT SoC핵심설계인력양성 | IT SoC 핵심설계인력양성 사업 |
특허 등록번호 | 10-1360000-0000 |
---|
표시번호 | 사항 |
---|---|
1 |
출원 연월일 : 20100407 출원 번호 : 1020100031831 공고 연월일 : 20140211 공고 번호 : 특허결정(심결)연월일 : 20140122 청구범위의 항수 : 18 유별 : G06F 3/044 발명의 명칭 : 터치스크린 및 그것의 센싱 커패시턴스 편차 및 오프셋 편차 보상 방법 존속기간(예정)만료일 : 20180128 |
순위번호 | 사항 |
---|---|
1 |
(권리자) 한양대학교 산학협력단 서울특별시 성동구... |
1 |
(권리자) 한국전자통신연구원 대전광역시 유성구... |
제 1 - 3 년분 | 금 액 | 373,500 원 | 2014년 01월 28일 | 납입 |
제 4 년분 | 금 액 | 305,200 원 | 2016년 12월 28일 | 납입 |
번호 | 서류명 | 접수/발송일자 | 처리상태 | 접수/발송번호 |
---|---|---|---|---|
1 | [특허출원]특허출원서 | 2010.04.07 | 수리 (Accepted) | 1-1-2010-0221443-12 |
2 | 선행기술조사의뢰서 | 2013.06.04 | 수리 (Accepted) | 9-1-9999-9999999-89 |
3 | 선행기술조사보고서 | 2013.07.02 | 수리 (Accepted) | 9-1-2013-0050491-05 |
4 | 의견제출통지서 | 2013.07.03 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2013-0464878-07 |
5 | [명세서등 보정]보정서 | 2013.08.21 | 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) | 1-1-2013-0758208-53 |
6 | [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서 | 2013.08.21 | 수리 (Accepted) | 1-1-2013-0758207-18 |
7 | 등록결정서 | 2014.01.22 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2014-0050331-36 |
8 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2014.06.05 | 수리 (Accepted) | 4-1-2014-5068294-39 |
9 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2015.02.02 | 수리 (Accepted) | 4-1-2015-0006137-44 |
10 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2015.02.16 | 수리 (Accepted) | 4-1-2015-5022074-70 |
11 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2019.08.05 | 수리 (Accepted) | 4-1-2019-5155816-75 |
12 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2019.08.06 | 수리 (Accepted) | 4-1-2019-5156285-09 |
기술정보가 없습니다 |
---|
과제고유번호 | 1415107433 |
---|---|
세부과제번호 | 10035169 |
연구과제명 | 시스템반도체 융복합형 설계인재 양성 |
성과구분 | 출원 |
부처명 | 지식경제부 |
연구관리전문기관명 | 한국산업기술평가관리원 |
연구주관기관명 | 한국전자통신연구원 |
성과제출연도 | 2010 |
연구기간 | 201001~201012 |
기여율 | 1 |
연구개발단계명 | 개발연구 |
6T분류명 | NT(나노기술) |
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심판사항 정보가 없습니다 |
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