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금속 산화막 형성방법

  • 기술번호 : KST2015086914
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 금속 산화막 형성방법이 개시된다. 상기 형성방법은 금속 전구체를 포함하는 코팅 용액을 이용하여 기판 상에 금속 산화막을 형성하는 단계 및 상기 금속 산화막의 전기 전도성을 제어하는 단계를 포함한다.
Int. CL G02F 1/1343 (2006.01) H01B 13/00 (2006.01) H01B 5/14 (2006.01)
CPC
출원번호/일자 1020110024421 (2011.03.18)
출원인 한국전자통신연구원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2012-0106359 (2012.09.26) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 취하
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 N
심사청구항수 15

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 박종혁 대한민국 대구광역시 동구
2 박정영 미국 대전광역시 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인 고려 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 *길 ** *층(역삼동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2011.03.18 수리 (Accepted) 1-1-2011-0200657-84
2 [대리인선임]대리인(대표자)에 관한 신고서
[Appointment of Agent] Report on Agent (Representative)
2015.01.14 수리 (Accepted) 1-1-2015-0036840-23
3 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
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번호 청구항
1 1
금속 전구체를 포함하는 코팅 용액을 이용하여 기판 상에 금속 산화막을 형성하는 단계; 및상기 금속 산화막의 전기 전도성을 제어하는 단계를 포함하는 금속 산화막 형성방법
2 2
제 1 항에 있어서,상기 코팅 용액은 나노입자를 더 포함하고,상기 금속 산화막의 상기 전기 전도성을 제어하는 단계는,상기 코팅 용액 내의 상기 금속 전구체 및 상기 나노 입자의 함량을 조절하여 수행되는 금속 산화막 형성방법
3 3
제 2 항에 있어서,상기 나노 입자는 금속입자인 금속 산화막 형성방법
4 4
제 1 항에 있어서,상기 금속 산화막의 상기 전기 전도성을 제어하는 단계는,상기 코팅 용액 내의 상기 금속 전구체의 함량을 조절하여 수행되는 금속 산화막 형성방법
5 5
제 1 항에 있어서,상기 금속 산화막을 형성하는 단계는,상기 코팅 용액을 준비하는 단계;상기 기판 상에 상기 코팅 용액을 제공하여 상기 기판 상에 코팅층을 형성하는 단계; 및 상기 코팅층을 건조하는 단계를 포함하되,상기 금속 산화막의 상기 전기 전도성을 제어하는 단계는,상기 코팅층에 불순물을 도핑하는 단계를 포함하는 금속 산화막 형성방법
6 6
제 5 항에 있어서,상기 불순물을 도핑하는 단계는,이온 주입 공정을 포함하는 금속 산화막 형성방법
7 7
제 5 항에 있어서,상기 불순물은 수소, 불소, 질소, 인, 비소 및 붕소 중 적어도 어느 하나를 포함하는 금속 산화막 형성방법
8 8
제 5 항에 있어서,상기 코팅층을 형성하는 단계는,잉크젯 프린팅, 스핀 코팅 또는 스크린 프린팅에 의해 수행되는 금속 산화막 형성방법
9 9
제 5 항에 있어서,상기 불순물을 도핑하는 단계는,온도 조절 단계를 포함하는 금속 산화막 형성방법
10 10
제 5 항에 있어서,상기 코팅층을 초음파 또는 전자기파로 처리하는 단계를 더 포함하는 금속 산화막 형성방법
11 11
제 1 항에 있어서,상기 금속 산화막은 주석 산화물, 인듐 산화물, 티타늄 산화물, 아연 산화물 및 텅스텐 산화물 중 적어도 어느 하나를 포함하는 금속 산화막 형성방법
12 12
제 1 항에 있어서,상기 금속 전구체는 금속 알콕사이드 및 금속 할라이드 중 적어도 어느 하나를 포함하는 금속 산화막 형성방법
13 13
제 1 항에 있어서,상기 금속 전구체는 주석, 인듐, 티타늄, 아연 및 텅스텐 중 적어도 어느 하나를 포함하는 금속 산화막 형성방법
14 14
제 1 항에 있어서,상기 코팅 용액은 반응제를 더 포함하고,상기 반응제는 산, 염기 및 계면 활성제 중 적어도 어느 하나를 포함하는 금속 산화막 형성방법
15 15
제 1 항에 있어서,상기 금속 산화막은 복수의 층을 포함하는 금속 산화막 형성방법
지정국 정보가 없습니다
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1 US20120237691 US 미국 FAMILY

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1 US2012237691 US 미국 DOCDBFAMILY
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