1 |
1
복소 평면 상에서 이진 신호를 매핑하기 위한 복수의 매핑 심볼의 위치를 결정하는 방법에 있어서,
복소 평면 상의 복수의 포인트에서 각각 시작하고, 궤적간 거리가 상기 복수의 포인트 사이의 거리 중 최소 거리 이상이 되도록 복수의 궤적을 그리는 단계;
상기 복수의 궤적의 각각에서의 매핑 심볼간 거리가 소정의 거리 이상이 되고 매핑 심볼간 위상이 소정의 각도 이상이 되도록, 상기 복수의 궤적의 각각에서 이진 신호를 매핑하기 위한 복수의 매핑 심볼의 위치를 결정하는 단계를 포함하는 방법
|
2 |
2
제1항에 있어서,
상기 복수의 매핑 심볼의 위치를 결정하는 단계는
상기 복수의 매핑 심볼 중 크기가 소정의 값 이상인 매핑 심볼에 대해서 위치를 결정하고자 하는 매핑 심볼이 속한 검출 영역에 인접한 검출 영역의 수가 최소화 되도록 상기 복수의 매핑 심볼의 위상을 결정하는 단계를 포함하는 방법
|
3 |
3
제2항에 있어서,
상기 복수의 매핑 심볼의 위치를 결정하는 단계는
인접한 매핑 심볼들 각각에 매핑된 이진 신호들 간의 비트 차이가 최소화 되도록 상기 복수의 매핑 심볼의 위치를 결정하는 단계를 더 포함하는 방법
|
4 |
4
이진 신호를 변조하는 방법에 있어서,
이진 신호를 수신하는 단계;
상기 이진 신호를 소정의 매핑 관계에 따라 복소 심볼로 변환하는 단계를 포함하고,
상기 소정의 매핑 관계는
복소 평면 상의 복수의 포인트에서 각각 시작하고 궤적간 거리가 상기 복수의 포인트 사이의 거리 중 최소 거리 이상이 되도록 형성되는 복수의 궤적에서, 매핑 심볼간 거리가 소정의 거리 이상이 되고 매핑 심볼간 위상이 소정의 각도 이상이 되도록 상기 복수의 궤적의 각각에 복수의 매핑 심볼이 배치됨으로써 형성되는 방법
|
5 |
5
제4항에 있어서,
상기 소정의 매핑 관계는
상기 복수의 매핑 심볼 중 크기가 소정의 값 이상인 매핑 심볼에 대해서 위치를 결정하고자 하는 매핑 심볼이 속한 검출 영역에 인접한 검출 영역의 수가 최소화 되도록 상기 복수의 매핑 심볼이 배치됨으로써 형성되는 방법
|
6 |
6
제5항에 있어서,
상기 소정의 매핑 관계는
인접한 매핑 심볼들 각각에 매핑된 이진 신호들 간의 비트 차이가 최소화 되도록 상기 복수의 매핑 심볼이 배치됨으로써 형성되는 방법
|
7 |
7
제6항에 있어서,
상기 복수의 포인트는 직교 위상 편이 변조의 복수의 매핑 심볼에 해당하는 방법
|
8 |
8
제6항에 있어서,
상기 복수의 포인트는 이진 위상 편이 변조의 복수의 매핑 심볼에 해당하는 방법
|
9 |
9
제4항 내지 제8항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 복소 심볼의 복수개를 가지고 푸리에 역변환을 수행하여 복수의 샘플을 생성하는 단계;
상기 복수의 샘플을 아날로그 신호로 변환하는 단계를 더 포함하는 방법
|
10 |
10
이진 신호를 변조하는 장치에 있어서,
복수의 상기 이진 신호를 소정의 매핑 관계에 따라 각각 복수의 복소 심볼로 변환하는 디지털 변조부; 및
상기 복수의 복소 심볼을 가지고 푸리에 역변환을 수행하여 복수의 샘플을 생성하는 푸리에 역변환부를 포함하고,
상기 소정의 매핑 관계는
복소 평면 상의 복수의 포인트에서 각각 시작하고 궤적간 거리가 상기 복수의 포인트 사이의 거리 중 최소 거리 이상이 되도록 형성되는 복수의 궤적에서, 매핑 심볼간 거리가 소정의 거리 이상이 되고 매핑 심볼간 위상이 소정의 각도 이상이 되도록 상기 복수의 궤적의 각각에 복수의 매핑 심볼이 배치됨으로써 형성되는 장치
|
11 |
11
제10항에 있어서,
상기 소정의 매핑 관계는
상기 복수의 매핑 심볼 중 크기가 소정의 값 이상인 매핑 심볼에 대해서 위치를 결정하고자 하는 매핑 심볼이 속한 검출 영역에 인접한 검출 영역의 수가 최소화 되도록 상기 복수의 매핑 심볼이 배치되고,
인접한 매핑 심볼들 각각에 매핑된 이진 신호들 간의 비트 차이가 최소화 되도록 상기 복수의 매핑 심볼이 배치됨으로써 형성되는 장치
|
12 |
12
제11항에 있어서,
상기 복수의 샘플에 보호 구간을 삽입하는 보호 구간 삽입부;
상기 보호 구간이 삽입된 복수의 샘플을 아날로그 신호로 변환하여 안테나를 통해 전송하는 전송부를 더 포함하는 장치
|