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자유공간 측정 결과를 이용한 접지면상 복사 전계 추출 방법

  • 기술번호 : KST2015087568
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 자유공간 측정 결과를 이용한 접지면상 복사 전계 추출 방법에 관한 것으로, 이 방법은 a) 전자파 무반사실 내에 놓여진 피시험기기 주변에서 전기장을 측정하는 단계; b) 상기 측정된 전기장을 이용하여 등가의 전기 및 자기 다이폴을 구성하는 단계; c) 상기 구성된 다이폴로부터 야외 시험장 또는 접지면 상에 복사되는 수직 및 수평 전계를 산출하는 단계; 및 d) 상기 산출된 수직 및 수평 전계를 사용하여 각 주파수에 대한 전자파장해 측정과 동일한 공간적 범위에서의 전기장 분포를 계산하여 그중 최대 값을 취하는 단계를 포함한다. 본 발명에 따르면 기준 전자파원에 의한 측정 결과로부터 상관계수(correlation factor)를 유도하고 이를 무반사실에서 측정된 결과로부터 야외시험장에서의 값을 예측하는 종래의 방법에 비해 복잡한 복사패턴을 갖는 피시험기기의 경우 오차를 줄일 수 있다. 또한 종래에 피시험기기에 대한 복사 전기장 측정에 앞서 필요했던 상관계수를 얻는 절차를 생략할 수 있어 측정시간을 줄일 수 있다. 전자파 무반사실, 야외 시험장, 전자파장해, 상관관계, 접지면
Int. CL G01R 31/00 (2006.01)
CPC G01R 29/0814(2013.01) G01R 29/0814(2013.01) G01R 29/0814(2013.01)
출원번호/일자 1020010085686 (2001.12.27)
출원인 한국전자통신연구원
등록번호/일자 10-0443551-0000 (2004.07.28)
공개번호/일자 10-2003-0055646 (2003.07.04) 문서열기
공고번호/일자 (20040809) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2001.12.27)
심사청구항수 5

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 권종화 대한민국 대전광역시중구
2 박현호 대한민국 대전광역시유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 유미특허법인 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 ***, 서림빌딩 **층 (역삼동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application		 2001.12.27 수리 (Accepted) 1-1-2001-0347616-24
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2002.08.08 수리 (Accepted) 4-1-2002-0065009-76
3 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search		 2003.07.11 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search		 2003.08.12 수리 (Accepted) 9-1-2003-0033886-36
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2003.10.30 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2003-0426262-67
6 지정기간연장신청서
Request for Extension of Designated Period		 2003.12.29 수리 (Accepted) 1-1-2003-0504298-61
7 명세서 등 보정서
Amendment to Description, etc.		 2004.01.27 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2004-0030440-54
8 의견서
Written Opinion		 2004.01.27 수리 (Accepted) 1-1-2004-0030453-47
9 등록결정서
Decision to grant		 2004.07.23 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2004-0294161-81
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2009.08.04 수리 (Accepted) 4-1-2009-5150899-36
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1

자유공간 특성을 갖는 전자파 무반사실에서 측정한 결과를 이용하여 접지면상 복사 전계를 추출하는 방법에 있어서,

상기 전자파 무반사실 내에 놓여진 피시험기기를 전기 및 자기 다이폴로 모델링하고, 상기 피시험기기에서 각각 소정 거리만큼 떨어진 복수의 측정점에서 상기 피시험기기의 전기장을 측정하는 단계,

상기 측정된 전기장과 상기 피시험기기의 전기 및 자기 다이폴 모멘트로부터 상기 접지면상에 복사되는 전계의 수직 및 수평 성분을 계산하는 단계, 그리고

상기 산출된 수직 및 수평 전계를 사용하여 각 주파수에 대한 전자파장해 측정과 동일한 공간적 범위에서의 전기장 분포를 계산하여 그 중 최대 값을 취하는 단계를 포함하며,

상기 접지면상에 복사되는 전계( 2

제1항에 있어서,

상기 복수의 측정점은 제1 내지 제9 위치의 9개 위치이며, 상기 제1 내지 제9 위치에서 측정되는 전기장 성분은 하기와 같은 것을 특징으로 하는 자유공간 측정 결과를 이용한 접지면상 복사 전계 추출 방법

3 3

삭제
4 4

제2항에 있어서,

상기 단계 b)에서 상기 피시험기기의 위상을 고려하여 전기 및 자기 다이폴 모멘트로 모델링되고,

상기 단계 c)에서 모델링된 상기 모멘트들로부터 접지면상으로 복사되는 수직 또는 수평 전기장과 관련된 계수(P1 ∼ P15)가 상기 9개의 위치에 대해 아래의 관계식

5

제4항에 있어서,

상기 산출된 수직 또는 수평 전기장과 관련된 계수(P1 ∼ P15)를 이용하여 상기 접지면상에서의 전기장의 수직 성분이 아래의 관계식

6

제4항에 있어서,

상기 산출된 수직 또는 수평 전기장과 관련된 계수(P1 ∼ P15)를 이용하여 상기 접지면상에서의 전기장의 수평 성분이 아래의 관계식

7

삭제
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.