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BIST장치의 크기를 줄이기 위한 단순화로직

  • 기술번호 : KST2015087635
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 아날로그 테스트 패턴으로 삼각파나 램프 파형을 이용하는 BIST에서 선형성이나 이득의 이상유무를 간단하게 판단할 수 있는 회로로서, N비트의 해상도를 가진 ADC로부터 받은 출력을 한 번 미분하는 수단(미도시)과, 상기 미분수단의 출력신호를 입력받아, N비트의 입력 중 일정한 기울기만을 검사하는데 필요한 하위 비트와, 필요하지 않으면서 부호 비트를 포함한 상위 비트로 나누는 수단과, 상기 상위 비트값을 '0'과 비교하여 일치여부를 출력하는 제1비교수단과, 상기 하위 비트값을 이상값 'A' 및 '0'과 비교하여 그 일치여부를 출력하는 제2비교수단 및 제3비교수단 및 상기 제1~3비교수단에서 출력된 결과에 따라 테스트대상의 상태를 파악하는 수단을 포함하여 구성되는 단순화로직.BIST, BISC, ADC, 단순화, 미분신호
Int. CL H03M 1/10 (2006.01)
CPC H03M 1/1028(2013.01) H03M 1/1028(2013.01) H03M 1/1028(2013.01) H03M 1/1028(2013.01) H03M 1/1028(2013.01) H03M 1/1028(2013.01)
출원번호/일자 1020050015214 (2005.02.24)
출원인 연세대학교 산학협력단, 한국전자통신연구원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2006-0094225 (2006.08.29) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 거절
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2005.02.24)
심사청구항수 5

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 연세대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 서대문구
2 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 윤홍일 대한민국 서울 서대문구
2 이경민 대한민국 서울시 강남구
3 이충근 대한민국 경남 밀양시

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 신성특허법인(유한) 대한민국 서울특별시 송파구 중대로 ***, ID타워 ***호 (가락동)

최종권리자

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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2005.02.24 수리 (Accepted) 1-1-2005-0097111-86
2 전자문서첨부서류제출서
Submission of Attachment to Electronic Document
2005.02.25 수리 (Accepted) 1-1-2005-5025005-62
3 대리인변경신고서
Agent change Notification
2006.02.15 수리 (Accepted) 1-1-2006-5013405-20
4 출원인변경신고서
Applicant change Notification
2006.05.09 수리 (Accepted) 1-1-2006-0325254-78
5 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2006.05.11 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
6 출원인변경신고서
Applicant change Notification
2006.05.18 수리 (Accepted) 1-1-2006-0347157-52
7 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2006.06.13 수리 (Accepted) 9-1-2006-0037029-32
8 대리인사임신고서
Notification of resignation of agent
2006.07.14 수리 (Accepted) 1-1-2006-0503861-03
9 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2006.07.31 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2006-0443127-69
10 지정기간연장신청서
Request for Extension of Designated Period
2006.10.02 수리 (Accepted) 1-1-2006-0721748-09
11 지정기간연장신청서
Request for Extension of Designated Period
2006.10.31 수리 (Accepted) 1-1-2006-0798216-14
12 지정기간연장신청서
Request for Extension of Designated Period
2006.11.30 수리 (Accepted) 1-1-2006-0889305-81
13 지정기간연장신청서
Request for Extension of Designated Period
2007.01.02 수리 (Accepted) 1-1-2007-0003430-89
14 거절결정서
Decision to Refuse a Patent
2007.03.26 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2007-0156505-05
15 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.08.04 수리 (Accepted) 4-1-2009-5150899-36
16 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2011.12.15 수리 (Accepted) 4-1-2011-5252006-10
17 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.04.24 수리 (Accepted) 4-1-2013-5062749-37
18 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.06.24 수리 (Accepted) 4-1-2013-5088566-87
19 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.09.25 수리 (Accepted) 4-1-2014-5114224-78
20 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
임의 파형의 아날로그 테스트 패턴을 사용하여 아날로그-디지털 변환기의 선형성이나 이득의 이상유무를 판단하는 BIST 회로로서, N비트의 해상도를 가진 ADC로부터 받은 출력을 한 번 미분하는 수단,상기 미분수단의 출력신호를 입력받아, N비트의 입력 중 일정한 기울기만을 검사하는데 필요한 하위 비트와, 필요하지 않으면서 부호 비트를 포함한 상위 비트로 나누는 수단, 상기 상위 비트값을 '0'과 비교하여 일치여부를 출력하는 제1비교수단, 상기 하위 비트값을 이상값 'A' 및 '0'과 비교하여 그 일치여부를 출력하는 제2비교수단 및 제3비교수단 및 상기 제1~3비교수단에서 출력된 결과에 따라 테스트대상의 상태를 파악하는 수단을 포함하는, BIST장치의 크기를 줄이기 위한 단순화로직 장치
2 2
제1항에 있어서, 상기 N은 20이고, 상기 하위 비트는 4개 비트이고, 상기 상위 비트는 16개 비트인 것을 특징으로 하는, BIST장치의 크기를 줄이기 위한 단순화로직 장치
3 3
제1 또는 2항에 있어서, 상기 제1 및 제3비교수단은 NOR 게이트이고, 제2비교수단은 EX-NOR 게이트인 것을 특징으로 하는, BIST장치의 크기를 줄이기 위한 단순화로직 장치
4 4
제1 또는 2항에 있어서, 상기 이상유무 판정 수단에서, 기울기의 절대값은 일정하지만 부호만이 변하는 출력은 제1비교수단의 출력값을 통해서 파악하고, 어떠한 기울기와 일치하는지의 여부는 제2비교수단의 출력값을 통해서 파악하고, 값이 변화하지 않는지의 유무는 제3비교수단을 통해서 파악되는 것을 특징으로 하는, BIST장치의 크기를 줄이기 위한 단순화로직 장치
5 5
제1항에 있어서, 상기 이상유무 판정 수단의 각 출력으로부터의 신호의 시간에 따른 변화를 관찰하기 위하여 레지스터가 추가로 연결되는 것을 특징으로 하는, BIST장치의 크기를 줄이기 위한 단순화로직 장치
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