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박막공정을이용한진공소자

  • 기술번호 : KST2015088081
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 박막공정을 이용한 진공소자에 관한 것으로서, 종래 기술에서 방출전극과 게이트 전극간의 간격이 최소 패턴의 크기 보다 크고, 그에 따라 최소 패턴의 미세화에 대한 부담이 가중되어, 고가의 미세패턴 형성용 장비가 요구됨에 따라 균일한 간격을 형성하기도 매우 어려운 문제점이 있었다. 따라서, 본 발명은 반도체 기판 위에 소정 패턴에 상응한 방출전극을 형성하기 위해 제1산화막을 형성하는 공정과, 제1산화막을 마스크로하여 반도체 기판을 원뿔 형태의 기둥으로 식각하는 공정과, 기둥의 표면을 열산화에 의해 제1열산화막을 형성하되 기둥이 원뿔형태의 팁이 되도록 형성한 후 반도체 기판 상면 및 기둥의 상면에 제2산화막을 형성하는 공정과, 제2산화막의 표면 및 기둥의 상면에 형성된 제1열산화막의 상면을 따라 스퍼터링법에 의해 게이트 전극을 형성한 후, 제1산화막, 기둥 상부의 제2산화막, 게이트 전극 하부면에 제2산화막의 일부분을 식각하여 원뿔형태의 팁이 형성된 것을 특징이다.
Int. CL H01J 1/304 (2006.01) H01J 1/30 (2006.01)
CPC H01J 9/025(2013.01) H01J 9/025(2013.01)
출원번호/일자 1019950045014 (1995.11.29)
출원인 한국전자통신연구원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-1997-0030094 (1997.06.26) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 거절
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (1995.11.29)
심사청구항수 8

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 강성원 대한민국 대전광역시유성구
2 이진호 대한민국 대전광역시유성구
3 조경익 대한민국 대전광역시유성구
4 유종선 대한민국 대전광역시유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김영길 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 ***, 대흥빌딩 ***호 (역삼동)
2 원혜중 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로**길 **, 서울빌딩 *층 (역삼동)
3 이화익 대한민국 서울시 강남구 테헤란로*길** (역삼동,청원빌딩) *층,***,***호(영인국제특허법률사무소)
4 김명섭 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로**길 *, 테헤란오피스빌딩 ***호 시몬국제특허법률사무소 (역삼동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
1995.11.29 수리 (Accepted) 1-1-1995-0176991-43
2 대리인선임신고서
Notification of assignment of agent
1995.11.29 수리 (Accepted) 1-1-1995-0176992-99
3 출원심사청구서
Request for Examination
1995.11.29 수리 (Accepted) 1-1-1995-0176993-34
4 출원인정보변경 (경정)신고서
Notification of change of applicant's information
1997.04.25 수리 (Accepted) 1-1-1995-0176994-80
5 대리인선임신고서
Notification of assignment of agent
1997.07.29 수리 (Accepted) 1-1-1995-0176995-25
6 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
1998.10.20 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-1995-0467061-48
7 거절사정서
Decision to Refuse a Patent
1999.01.23 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-1999-0012935-91
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2001.04.19 수리 (Accepted) 4-1-2001-0046046-20
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2002.08.08 수리 (Accepted) 4-1-2002-0065009-76
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.08.04 수리 (Accepted) 4-1-2009-5150899-36
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
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반도체 기판 위에 소정 패턴에 상응한 방출전극을 형성하기 위해 제1산화막을 형성하는 공정(a)과, 상기 제1산화막을 마스크로 하여 상기 반도체 기판을 원뿔 형태의 기둥으로 식각하는 공정(b)과, 상기 기둥의 표면을 열산화에 의해 제1열산화막을 형성하되 상기 기둥이 원뿔형태의 팁이 되도록 형성한 후 상기 반도체 기판 상면 및 상기 기둥의 상면에 제2산화막을 형성하는 공정(c)과, 상기 제2산화막의 표면 및 상기 기둥의 상면에 형성된 제1열산화막의 상면을 따라 스퍼터링법에 의해 게이트 전극을 형성한 후, 상기 제1산화막, 상기 기둥 상부의 제2산화막, 상기 게이트 전극 하부면에 제2산화막의 일부분을 식각하여 원뿔형태의 팁을 형성하는 공정(d)으로 형성된 것을 특징으로 하는 박막공정을 이용한 진공소자

2 2

제1항에 있어서, 상기 원뿔형태의 팁과 게이트 전극간의 간격이 상기 제1열산화막의 두께에 의해 결정되어 형성된 것을 특징으로 하는 박막공정을 이용한 진공소자

3 3

제1항에 있어서, 상기 제1산화막, 상기 기둥 상부의 제2산화막 그리고 상기 게이트 전극 하부면에 제2산화막의 일부분이 불산(HF)의 용액에 의해 선택적으로 식각되어 형성된 것을 특징으로 하는 박막공정을 이용한 진공소자

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제1항에 있어서, 상기 (c)공정 대신에 상기 기둥의 표면을 열산화공정에 의해 제1열산화 막을 성장시켜 원뿔형태의 팁이 형성되도록 하는 공정과, 상기 제1열산화막의 상부에 규소 질화막을 형성하는 공정과, 상기 반도체 기판의 노출 부분에 제2열산화막을 형성하는 공정이 부가되어 형성된 것을 특징으로 하는 박막공정을 이용한 진공소자

5 5

제4항에 있어서, 상기 제2열산화막이 방향성 건식식각에 의해 식각되어 형성된 것을 특징으로 하는 박막공정을 이용한 진공소자

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제1항에 있어서, 상기 (c)공정에서, 상기 반도체 기판 상부의 제2산화막과 상기 기둥의 표면에 형성된 제1열산화막간의 골에 절연막이 채워지는 공정이 부가되어 형성된 것을 특징으로 하는 박막공정을 이용한 진공소자

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제1항에 있어서, 상기 (c)공정 대신에 상기 기둥의 표면을 열산화공정에 의해 제1열산화 막을 성장시켜 원뿔형태의 팁이 형성되도록 하는 공정과, 상기 반도체 기판의 노출 부분에 제2열산화막을 형성하는 공정과, 상기 제2열산화막과 상기 기둥의 표면에 형성된 제1열산화막간의 골에 절연막이 채워지는 공정이 부가되어 형성된 것을 특징으로 하는 박막공정을 이용한 진공소자

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제7항에 있어서, 상기 제2열산화막이 방향성 건식식각에 의해 식각되어 형성된 것을 특징으로 하는 박막공정을 이용한 진공소자

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지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.