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파장안정화 장치 및 능동 파장 측정 장치용 광검출기 및 그 광검출기의 제작방법

  • 기술번호 : KST2015088135
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
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요약 본 발명은 반도체의 밴드갭 근처의 파장대역에서 입사 되는 파장에 따라 물질의 광흡수계수가 변화하는 성질을 이용하여 파장분할 다중화 광전송 시스템의 파장 안정화 장치 혹은 능동형 파장 검출기에 사용될 수 있는 새로운 광소자에 대한 것이다. 종래의 광검출기의 흡수층에 사용되던 InGaAs 대신 밴드갭이 1.55 μm부근인 InGaAsP 혼합물 혹은 InGaAsP/InGaAsP 다중양자우물 구조를 사용하면 파장다중 광통신에 사용되는 1.55 μm파장대에서 입사광의 파장에 따라 흡수계수가 달라져 광감응성이 입력광의 파장에 따라 달라지는 광검출기를 구현할 수 있다. 또 본 발명에서는 InGaAsP 흡수층 광검출기 구조 위에 InGaAs 흡수층의 광검출기와 수직으로 집적화하여 추가의 InGaAs 광검출기가 필요 없는 보다 사용이 편리한 광소자도 제안한다. 본 발명에서 제안한 파장의존성 광검출기는 파장분할 다중화 광통신 시스템에 사용되는 광원의 파장을 확인하거나 주어진 일정한 파장에 광원의 파장을 고정시키는 장치에서 사용될 수 있으며 종래의 부품에 비하여 간단하므로 이러한 장치에 본 발명에서 제안한 파장의존성 광검출기를 사용하면 광원의 파장 확인 장치 및 파장안정화 장치의 제작을 보다 소형이며 저렴한 가격으로 제작할 수 있다.
Int. CL H01L 31/09 (2006.01)
CPC
출원번호/일자 1019970071616 (1997.12.22)
출원인 한국전자통신연구원
등록번호/일자 10-0282611-0000 (2000.11.29)
공개번호/일자 10-1999-0052167 (1999.07.05)
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자
심사청구항수 0
인명정보가 없습니다
행정처리가 정보가 없습니다
청구항 정보가 없습니다
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.