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파장 검출 및 안정화 장치와 그 방법

  • 기술번호 : KST2015088391
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 광통신 시스템에서 사용되는 파장 검출 및 안정화 장치와 그 방법에 관하여 개시한다. 본 발명은 투과형 광 검출기(Transmittance Photodetector)의 투과 특성을 이용하여 하나의 패브리-페롯 필터(Fabry-Perot filter)의 파장 투과 특성에 의해 패브리-페롯 필터의 뒤에서 광을 검출함으로써 파장분할 다중화 방식의 파장간격을 만족하는 파장 안정화 기능을 제공한다. 따라서, 본 발명은 부품 수를 줄여서 장치를 소형화할 수 있으며, 장치의 정렬과정이 생략되어 생산비용을 절감할 수 있다. 투과형 광 검출기, 패브리-페롯 필터, 파장 안정화
Int. CL H01S 3/13 (2006.01)
CPC
출원번호/일자 1020030009753 (2003.02.17)
출원인 한국전자통신연구원
등록번호/일자 10-0521138-0000 (2005.10.06)
공개번호/일자 10-2004-0057029 (2004.07.01) 문서열기
공고번호/일자 (20051012) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보 대한민국  |   1020020083121   |   2002.12.24
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2003.02.17)
심사청구항수 8

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 이상균 대한민국 광주광역시북구
2 고재상 대한민국 광주광역시광산구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 유미특허법인 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 ***, 서림빌딩 **층 (역삼동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2003.02.17 수리 (Accepted) 1-1-2003-0053331-24
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2004.11.10 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2004.12.14 수리 (Accepted) 9-1-2004-0073166-43
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2005.04.29 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2005-0198276-37
5 의견서
Written Opinion
2005.06.28 수리 (Accepted) 1-1-2005-0345343-67
6 등록결정서
Decision to grant
2005.09.28 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2005-0479620-10
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.08.04 수리 (Accepted) 4-1-2009-5150899-36
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
외부 광원으로부터 입력된 광빔을 분할하여 일정량의 빔은 흡수하고 나머지는 투과시켜서 상기 흡수된 광 전력을 검출하여 상기 광 전력에 대응되는 광 전류를 출력하는 제1 광 검출기; 상기 광원으로부터 일정거리에 위치하며 상기 광원으로부터 방사되는 레이저빔의 가우시안빔의 축에 대하여 일정각을 가지도록 정렬되어 상기 제1 광 검출기를 투과하여 입사되는 레이저빔의 파장에 따라 소정의 파장을 가지는 빔이 투과되도록 하는 페브리-페롯 필터; 상기 페브리-페롯 필터를 투과한 빔의 파장에 따라 변화되는 광 전력을 검출하여 상기 광 전력에 대응되는 광 전류를 출력하는 제2 광 검출기; 및 상기 제1 및 제2 광 검출기에서 출력된 광 전류의 비와 특정 기준값의 차이에 의해 상기 광원을 제어하여 파장을 안정화시키는 파장 안정화부 를 포함하는 파장 검출 및 안정화 장치
2 2
제1항에 있어서, 상기 제1 광 검출기는 활성층을 구성하는 물질의 두께를 조절하여 투과되는 빔의 양을 조절하는 파장 검출 및 안정화 장치
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제1항에 있어서, 상기 페브리-페롯 필터는 상기 광원으로부터 입사되는 빔의 파장에 따라 투과율 및 반사율이 변화하는 파장 검출 및 안정화 장치
4 4
제1항에 있어서, 상기 광원과 상기 제1 광 검출기 사이에 위치하며, 상기 광빔의 발산각을 제어하는 렌즈 를 더 포함하는 파장 검출 및 안정화 장치
5 5
제1항에 있어서, 상기 제1 광 검출기와 상기 페브리-페롯 필터 사이에 위치하며, 상기 광빔의 발산각을 제어하는 렌즈 를 더 포함하는 파장 검출 및 안정화 장치
6 6
광원으로부터 나오는 빔의 파장을 검출하고 안정화시키는 방법에 있어서, a) 상기 광원으로부터 나오는 빔을 분리하고, 일정량의 빔은 흡수하고 나머지는 투과시켜서 상기 흡수된 광 전력을 검출하여 상기 광 전력에 대응되는 광 전류를 출력하는 단계; b) 상기 투과한 빔이, 상기 광원으로부터 일정거리에 위치하며 레이저빔의 광축에 대하여 일정각을 가지도록 정렬된 페브리-페롯 필터로 입사되는 단계; c) 상기 페브리-페롯 필터를 투과한 빔의 광 전력을 검출하여 상기 광 전력에 대응되는 광 전류를 출력하는 단계; 및 d) 상기 a) 단계 및 c) 단계에서 출력된 광 전류의 비와 특정 기준값의 차이에 의해 상기 광원을 제어하여 중심파장을 안정화시키는 단계 를 포함하는 파장 검출 및 안정화 방법
7 7
제6항에 있어서, 상기 중심파장에 일정간격을 가지고 이웃한 두 가지 파장에 대하여 파장을 안정화시킬 때, 상기 페브리-페롯 필터의 투과율의 파장의존곡선에서 FWHM(Full Width Half Maximum)이 상기 이웃한 파장 간격에 일치하도록 조절하여 파장을 안정화시키는 파장 검출 및 안정화 방법
8 8
제6항에 있어서, 상기 페브리-페롯 필터의 각도를 조절하여 상기 FWHM을 제어하는 파장 검출 및 안정화 방법
9 8
제6항에 있어서, 상기 페브리-페롯 필터의 각도를 조절하여 상기 FWHM을 제어하는 파장 검출 및 안정화 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.