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이종접합바이폴라트랜지스터의제조방법

  • 기술번호 : KST2015088647
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 화합물 반도체를 이용한 이종접합 바이폴라 트랜지스터(Heterojunction Bipolar Transistor, HBT)의 제조방법에 관한 본 발명은 공정의 신뢰성에 막대한 영향을 미치는 활성 영역들, 즉 에미터, 베이스 및 콜렉터 전극 형성시에 각 패드금속들 동시에 형성시킴과 아울러 각 전극들과 각 패드 사이를 미세한 금속배선에 의해 접속시키고, 이어서 수차례의 메사식각에 의해 각각의 전극들과 패드영역을 분리시킴으로써, 미세한 전극패턴 상에 배선을 위한 더욱 미세한 접촉창을 형성할 필요를 없애공정을 단순화시키고, 1마이크로미터 이하의 에미터를 갖는 소자에서도 신뢰성있는 배선의 확보가 가능하다.
Int. CL H01L 27/08 (2006.01)
CPC H01L 29/66242(2013.01) H01L 29/66242(2013.01)
출원번호/일자 1019940014064 (1994.06.21)
출원인 한국전자통신연구원, 주식회사 케이티
등록번호/일자 10-0138842-0000 (1998.02.23)
공개번호/일자 10-1996-0002807 (1996.01.26) 문서열기
공고번호/일자 (19980427) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (1994.06.21)
심사청구항수 2

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구
2 주식회사 케이티 대한민국 경기도 성남시 분당구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 박성호 대한민국 대전직할시유성구
2 박철순 대한민국 대전직할시유성구
3 박형무 대한민국 대전직할시유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김영길 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 ***, 대흥빌딩 ***호 (역삼동)
2 원혜중 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로**길 **, 서울빌딩 *층 (역삼동)
3 이화익 대한민국 서울시 강남구 테헤란로*길** (역삼동,청원빌딩) *층,***,***호(영인국제특허법률사무소)
4 김명섭 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로**길 *, 테헤란오피스빌딩 ***호 시몬국제특허법률사무소 (역삼동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시유성구
2 주식회사 케이티 대한민국 경기도 성남시 분당구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 출원심사청구서
Request for Examination
1994.06.21 수리 (Accepted) 1-1-1994-0064500-77
2 특허출원서
Patent Application
1994.06.21 수리 (Accepted) 1-1-1994-0064498-62
3 대리인선임신고서
Notification of assignment of agent
1994.06.21 수리 (Accepted) 1-1-1994-0064499-18
4 출원인명의변경신고서
Applicant change Notification
1994.10.12 수리 (Accepted) 1-1-1994-0064501-12
5 출원인정보변경 (경정)신고서
Notification of change of applicant's information
1997.04.03 수리 (Accepted) 1-1-1994-0064502-68
6 대리인선임신고서
Notification of assignment of agent
1997.08.19 수리 (Accepted) 1-1-1994-0064503-14
7 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
1997.11.28 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-1994-0036185-79
8 의견서
Written Opinion
1998.01.15 수리 (Accepted) 1-1-1994-0064505-05
9 명세서등보정서
Amendment to Description, etc.
1998.01.15 수리 (Accepted) 1-1-1994-0064504-59
10 등록사정서
Decision to grant
1998.02.17 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-1994-0036186-14
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
1999.01.20 수리 (Accepted) 4-1-1999-0010652-29
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2000.01.14 수리 (Accepted) 4-1-2000-0005008-66
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2001.04.19 수리 (Accepted) 4-1-2001-0046046-20
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2002.04.09 수리 (Accepted) 4-1-2002-0032774-13
15 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2002.08.08 수리 (Accepted) 4-1-2002-0065009-76
16 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.03.13 수리 (Accepted) 4-1-2009-5047686-24
17 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.08.04 수리 (Accepted) 4-1-2009-5150899-36
18 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2010.04.19 수리 (Accepted) 4-1-2010-5068437-23
19 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.01.10 수리 (Accepted) 4-1-2012-5005621-98
20 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.03.21 수리 (Accepted) 4-1-2012-5058926-38
21 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.06.08 수리 (Accepted) 4-1-2012-5122434-12
22 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.07.31 수리 (Accepted) 4-1-2013-5106568-91
23 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.02.11 수리 (Accepted) 4-1-2014-5018159-78
24 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
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번호 청구항
1 1

반절연성GaAs기판(8)우에 이종접합의 다층 에피구조를 형성하기 위하여 버퍼층(7), 부콜렉터층(6) 콜렉터층(5), 베이스층(4), 스페이서층(3), 에미터층(2) 및 캡층(1)을 순차적으로 형성하는 공정, 상기 캡층(1)상부에 미세패턴의 에미터(9)를 형성하되, 미세한 크기를 갖는 에미터 전극(9a)과, 에미터 패드(9b)그리고 상기 에미터 전극 (9a)과 에미터 패드(9b)를 전기적으로 연결하는 금속 배선(9c)을 하나의 마스크로 구성하여 동시에 증착하는 에미터 형성 공정, 상기 베이스층(4)을 노출시키기 위해 상기 형성된 에미터(9)를 마스크로 하여 상기 캡층(1), 에미터층(2), 스페이서층(3)을 식각하는 에미터 메사식각 공정, 상기 노출된 베이스층(4)표면 위에 베이스전극(11a)이 상기 에미터전극(9a)을 둘러싸도록 베이스(11)를 형성하되, 상기 베이스 전극(11a)과, 베이스패드(11b)그리고 상기 베이스전극(11a)과 베이스패드(11b)를 전기적으로 연결하는 금속배선(11c)을 하나의 마스크로 구성하여 동시에 증착하는 베이스형성 공정, 상기 부콜렉터층(6)의 일부를 노출시키기 위해 상기 베이스층(4) 및 콜렉터층(5)을 식각하되, 상기 콜렉터층(5)은 2단계로 나누어 1단계 식각은 상기 콜렉터층(5)의 중간부까지만 식각하고,2단계 식각은 부콜렉터층(6)의 일부만 노출되도록 상기 콜렉터층(5)을 일부 식각하는 베이스 메사식각 공정, 상기 노출된 부콜렉터층(6) 표면위에 콜렉터(12)를 형성하되, 상기 콜렉터전극(12a)과, 콜렉터패드(12b)그리고, 상기 콜렉터전극 (12a)과 콜렉터패드(12b)를 전기적으로 연결하는 금속배선(12c)을 하나의 마스크로 구성, 하여 동시 증착하는 콜렉터 형성공정 및 소자분리(isolation)을 위해 전류된 콜렉터층(5)과 부콜렉터층(6) 및 버퍼층(7)을 측방향 과식각에 의해 식각하여, 상기 에미터(9)와 베이스(11)과 콜렉터(12)의 금속배선들(9c,11c,12c)하부에 빈공간(14)이 형성되도록하는 메사식각 공정을 포함하는 이종접합 바이폴라 트랜지스터의 제조방법

2 2

제1항에 있어서, 상기 에미터 메사 식각 공정은 상기 에미터,베이스,콜렉터의 전극(9a,11a,12a)과 패드(9b,11b,12b)를 전기적으로 연결하는 금속배선들(9c,11c,12c)이 공정증에 파손되는 것을 방지하기 위하여 상기 금속배선들의 소정위치에 파손방지를 위한 지지수단(9d,11d,12d)을 미리 형성하는 것을 특징으로 하는 이종접합 바이폴라 트랜지스터의 제조방법

지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.