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수직공진형표면방출레이저다이오드및그제조방법

  • 기술번호 : KST2015088709
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 반도체 기판상에 n형 하부 DBR 거울층, n형 스페이서, 활성층, p형 스페이서, p형 접촉층 및 상부 DBR 거울층을 차례로 적층하는 공정과, 소정 패턴의 포토레지스트를 상부 DBR 거울층상에 형성한 다음 포토레제스트를 마스크로 사용하여 이외의 노출된 부분을 순차적으로 p형 접촉층의 표면까지 식각하는 공정과, 포토레지스트를 마스크로 사용하여 이온주입으로 포토레지스트의 하부 이외의 영역에만 이온이 주입되게 하는 공정과, p형 접촉층의 표면과 포토지제스트가 형성된 상부 DBR 거울층의 측면에 p형 전극을 형성하고 아울러 기판의 배면에 n형 전극을 형성한 것이다.
Int. CL H01S 5/125 (2006.01)
CPC H01S 5/187(2013.01) H01S 5/187(2013.01)
출원번호/일자 1019920025000 (1992.12.22)
출원인 한국전자통신연구원
등록번호/일자 10-0110886-0000 (1997.01.17)
공개번호/일자 10-1994-0017024 (1994.07.25) 문서열기
공고번호/일자 1019960014734 (19961019) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (1992.12.22)
심사청구항수 4

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 유병수 대한민국 대전직할시대덕구
2 박효훈 대한민국 대전직할시서구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김영길 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 ***, 대흥빌딩 ***호 (역삼동)
2 김명섭 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로**길 *, 테헤란오피스빌딩 ***호 시몬국제특허법률사무소 (역삼동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 재단법인한국전자통신연구소 대한민국 대전광역시유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 대리인선임신고서
Notification of assignment of agent
1992.12.22 수리 (Accepted) 1-1-1992-0135716-06
2 대리인선임신고서
Notification of assignment of agent
1992.12.22 수리 (Accepted) 1-1-1992-0135717-41
3 대리인선임신고서
Notification of assignment of agent
1992.12.22 수리 (Accepted) 1-1-1992-0135715-50
4 출원심사청구서
Request for Examination
1992.12.22 수리 (Accepted) 1-1-1992-0135718-97
5 특허출원서
Patent Application
1992.12.22 수리 (Accepted) 1-1-1992-0135714-15
6 대리인사임신고서
Notification of resignation of agent
1994.03.03 수리 (Accepted) 1-1-1992-0135719-32
7 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
1996.03.29 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-1992-0045128-18
8 지정기간연장신청서
Request for Extension of Designated Period
1996.04.29 수리 (Accepted) 1-1-1992-0135720-89
9 명세서등보정서
Amendment to Description, etc.
1996.05.29 수리 (Accepted) 1-1-1992-0135722-70
10 의견서
Written Opinion
1996.05.29 수리 (Accepted) 1-1-1992-0135721-24
11 출원공고결정서
Written decision on publication of examined application
1996.09.25 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-1992-0045129-64
12 등록사정서
Decision to grant
1997.01.14 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-1992-0045130-11
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2001.04.19 수리 (Accepted) 4-1-2001-0046046-20
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2002.08.08 수리 (Accepted) 4-1-2002-0065009-76
15 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.08.04 수리 (Accepted) 4-1-2009-5150899-36
16 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1

반도체 기판(2)상에 n형 하부 DBR 거울층(3), n형 스페이서(4), 활성층(5), p형 스페이서(6), p형 접촉층(10) 및 상부 DBR 거울층(12)을 차례로 적층하는 공정과, 소정 패턴의 포토레지스트(11)를 상기 상부 DBR 거울층(12)상에 도포한 다음 페터닝하고, 남은 포토레지스트(11)를 마스크로 사용하여 노출된 부분을 순차적으로 상기 p형 접촉층(10)의 표면까지 식각하는 공정과, 상기 포토레지스트(11)를 마스크로 사용하여 이온주입으로 광 창문을 위한 영역으로 활성층(5)을 고립시키기 위한 분리영역(7)을 형성하는 공정과, 상기 p형 접촉층(10)의 표면과 상기 포토레지스트(11)가 형성된 상부 DBR 거울층(12)의 측면에 p형 전극(9)을 형성하고 아울러 상기 기판(2)의 배면에 n형 전극(1)을 형성한 후, 상기 상부 DBR 거울층(12)의 상부에 있는 p형 전극층 및 포토레지스트를 제거하는 공정을 포함하는 수직 공진형 표면 방출 레이저 다이오드 소자의 제조방법

2 2

제1항에 있어서, 상기 반도체 기판(2)은 GaAs 기판인 것을 특징으로 하는 수직 공진형 표면 방출 레이저 다이오드 소자의 제조방법

3 3

제1항에 있어서, 상기 상부 DBR 거울층(12)은 불순물을 도핑하지 않은 것을 특징으로 하는 수직 공진형 표면 방출 레이저 다이오드 소자의 제조방법

4 4

하부전극(1)이 형성된 기판(2)상에 소정두께의 하부 DBR 거울층(3)과, 그 하부 DBR 거울층(3)의 상면 중앙영역에 광 창문을 위한 폭으로 형성된 활성층(5)과, 그 활성층(5)의 들레에 양자 이온이 주입되어 광 창문영역을 구분하는 분리영역(7)과, 그 분리영역(7)과 상기한 활성층(5)의 상부에 형성된 p형 스페이서(6)와, 그 p형 스페이서(6)의 위에 형성된 p형 접촉층(10)과, 그 p형 접촉층(10)의 위에 상기 활성층(5)의 폭과 대응되게 상부에 형성되어 광 창문을 이루는 p형 상부 DBR층(12)과, 그 상부 DBR층(12)의 들레의 상기 p형 접촉층(10) 상면에 형성된 p형 전극(9)으로 구성된 것을 특징으로 하는 수직 공진형 표면 방출 레이저 다이오드

지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.