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안테나 패턴 측정 방법

  • 기술번호 : KST2015088748
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 안테나 패턴 측정 장치에서의 안테나 패턴 측정 방법으로, 안테나 패턴 특성이 이미 알려진 기준 안테나를 통해 수신 기준점을 획득하는 단계와, 테스트 안테나를 구성하는 다수의 방사체들 중 선택된 기준 방사체의 기준 각도에서의 수신 신호를 측정하는 단계와, 상기 수신 신호와 상기 수신 기준점을 비교하여, 상기 기준 방사체의 안테나 패턴 특성을 획득하는 단계와, 일정 주기로 기준 방사체를 통해 획득되는 수신 기준점을 기준으로 테스트 안테나의 다른 다수의 방사체들의 안테나 패턴 특성을 획득하는 단계를 포함한다.
Int. CL G01R 29/10 (2006.01)
CPC G01R 29/10(2013.01) G01R 29/10(2013.01) G01R 29/10(2013.01) G01R 29/10(2013.01)
출원번호/일자 1020100133790 (2010.12.23)
출원인 한국전자통신연구원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2012-0072027 (2012.07.03) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 취하
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 N
심사청구항수 1

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 이성준 대한민국 대전광역시 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인 신지 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로*길 **, *층 ***호실(역삼동, 청원빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application		 2010.12.23 수리 (Accepted) 1-1-2010-0853633-92
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
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안테나 패턴 측정 장치에서의 안테나 패턴 측정 방법에 있어서,안테나 패턴 특성이 이미 알려진 기준 안테나를 통해 수신 기준점을 획득하는 단계와, 테스트 안테나를 구성하는 다수의 방사체들 중 선택된 기준 방사체의 기준 각도에서의 수신 신호를 측정하는 단계와,상기 수신 신호와 상기 수신 기준점을 비교하여, 상기 기준 방사체의 안테나 패턴 특성을 획득하는 단계와, 일정 주기로 기준 방사체를 통해 획득되는 수신 기준점을 기준으로 테스트 안테나의 다른 다수의 방사체들의 안테나 패턴 특성을 획득하는 단계를 포함함을 특징으로 하는 안테나 패턴 측정 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
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순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 방송통신위원회 한국전자통신연구원 정보통신산업원천기술개발사업 IMT-Advanced 기반 광대역 무선채널 특성연구