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인가되는 입력신호를 각기 별개의 전치왜곡계수들로써 각기 전치왜곡하는 복수의 서브-전치왜곡기들을 포함하며, 상기 입력신호의 세기에 따라 상기 서브-전치왜곡기들의 출력들 중의 하나를 선택하여 출력신호로서 출력하는 전치왜곡부; 및상기 출력신호에 응답하여 생성된 비선형신호의 세기에 따라 복수의 계수추출기들 중의 하나를 선택하여 상기 비선형신호 및 상기 출력신호를 통해서 상기 전치왜곡계수들을 추출하고, 상기 추출된 전치왜곡계수들을 상기 전치왜곡부로 전달하는 계수추출부를 포함하는 전치왜곡장치
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제 1 항에 있어서,상기 전치왜곡부는 상기 입력신호의 세기에 응답하여 제1 제어신호를 생성하는 제1 제어기 및 상기 제1 제어신호에 따라 상기 서브-전치왜곡기의 출력을 선택하는 선택기를 포함하고,상기 계수추출부는 상기 비선형신호의 세기에 따라 상기 계수추출기를 선택하는 제2 제어신호를 생성하는 제2 제어기를 포함하는 전치왜곡장치
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3 |
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제 1 항에 있어서,상기 비선형신호의 세기와 상기 출력신호의 세기는 서로 일정한 비율관계를 이루고,상기 서브-전치왜곡기들의 개수와 상기 계수추출기들의 개수가 동일한 전치왜곡장치
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4 |
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제 1 항에 있어서,상기 입력신호를 세기에 따라 구분한 개수와 상기 비선형신호를 세기에 따라 구분한 개수가 동일하고,상기 계수추출부는 상기 비선형신호의 세기에 따라 상기 별개의 전치왜곡계수들을 상기 추출된 전치왜곡계수들로써 갱신하는 전치왜곡장치
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제 1 항에 있어서,상기 입력신호, 상기 출력신호 및 상기 비선형신호는 디지털 신호인 전치왜곡장치
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제 5 항에 있어서,상기 출력신호를 아날로그 신호로 변환하기 위한 디지털 대 아날로그 변환기(DAC); 및상기 아날로그 신호에 응답하여 생성되는 비선형 아날로그 신호를 상기 비선형신호로 변환하기 위한 아날로그 대 디지털 변환기(ADC)를 더 포함하는 전치왜곡장치
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7 |
7
제 1 항에 있어서,상기 입력신호는 광대역 신호이고,상기 전치왜곡계수들은 메모리 효과를 고려한 볼테라 급수 모델 또는 상기 볼테라 급수를 응용한 모델에 포함되는 다항식의 계수들인 전치왜곡장치
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8
제 1 항에 있어서,상기 계수추출기들은 상기 전치왜곡계수들을 추출하기 위해서 적응형 알고리즘을 사용하고,상기 적응형 알고리즘은 RLS, LMS, LS 및 뉴럴 네트워크 중의 적어도 어느 하나 또는 둘 이상의 조합인 전치왜곡장치
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인가되는 입력신호의 세기에 따라 제어신호를 출력하는 제어기;상기 입력신호를 각기 별개의 전치왜곡계수들로써 각기 전치왜곡하는 복수의 서브-전치왜곡기들을 포함하며, 상기 제어신호에 따라 상기 서브-전치왜곡기들의 출력들 중의 하나를 선택하여 출력신호로서 출력하는 전치왜곡부; 및상기 제어신호에 따라 복수의 계수추출기들 중의 하나를 선택하여 상기 출력신호에 응답하여 생성된 비선형신호 및 상기 출력신호를 통해서 상기 전치왜곡계수들을 추출하고, 상기 추출된 전치왜곡계수들을 상기 전치왜곡부로 전달하는 계수추출부를 포함하는 전치왜곡장치
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10
제 9 항에 있어서,상기 전치왜곡부는, 상기 제어신호에 따라 상기 서브-전치왜곡기의 출력을 선택하는 선택기를 포함하고,상기 서브-전치왜곡기들의 개수와 상기 계수추출기들의 개수가 동일한 전치왜곡장치
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11
제 9 항에 있어서,상기 계수추출부는 상기 제어신호에 따라 상기 별개의 전치왜곡계수들을 상기 추출된 전치왜곡계수들로써 갱신하는 전치왜곡장치
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12
제 9 항에 있어서,상기 입력신호, 상기 출력신호 및 상기 비선형신호는 디지털 신호인 전치왜곡장치
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제 12 항에 있어서,상기 출력신호를 아날로그 신호로 변환하기 위한 디지털 대 아날로그 변환기(DAC); 및상기 아날로그 신호에 응답하여 생성되는 비선형 아날로그 신호를 상기 비선형신호로 변환하기 위한 아날로그 대 디지털 변환기(ADC)를 더 포함하는 전치왜곡장치
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제 9 항에 있어서,상기 입력신호는 광대역 신호이고,상기 전치왜곡계수들은 메모리 효과를 고려한 볼테라 급수 모델 또는 상기 볼테라 급수를 응용한 모델에 포함되는 다항식의 계수들인 전치왜곡장치
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인가되는 입력신호를 각기 별개의 전치왜곡계수들을 가지는 복수의 전치왜곡함수들을 통해서 각기 왜곡신호로 전치왜곡하고, 상기 입력신호의 세기에 따라 상기 왜곡신호들 중의 하나를 선택적으로 출력하는 단계;상기 출력된 왜곡신호에 응답하여 생성되는 비선형신호의 세기에 따라 복수의 적응형 알고리즘들 중의 하나를 선택하여 상기 비선형신호 및 상기 출력된 왜곡신호로부터 상기 전치왜곡계수들을 추출하는 단계; 및상기 비선형신호의 비선형성이 설정된 수준으로 개선될 때까지, 상기 별개의 전치왜곡계수들을 상기 추출된 전치왜곡계수들로써 반복적으로 갱신하는 단계를 포함하는 전치왜곡방법
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16
제 15 항에 있어서,상기 비선형신호의 세기와 상기 출력된 왜곡신호의 세기는 서로 일정한 비율관계를 이루고,상기 전치왜곡함수들의 개수와 상기 적응형 알고리즘들의 개수가 동일한 전치왜곡방법
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제 15 항에 있어서,상기 입력신호를 세기에 따라 구분한 개수와 상기 비선형신호를 세기에 따라 구분한 개수가 동일하고,상기 갱신하는 단계는 상기 비선형신호의 세기에 따라 상기 별개의 전치왜곡계수들을 상기 추출된 전치왜곡계수들로써 갱신하는 전치왜곡방법
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제 15 항에 있어서,상기 입력신호, 상기 왜곡신호 및 상기 비선형신호는 디지털 신호인 전치왜곡방법
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제 18 항에 있어서,상기 출력된 왜곡신호를 아날로그 신호로 변환하는 단계; 및상기 아날로그 신호에 응답하여 생성되는 비선형 아날로그 신호를 상기 비선형 신호로 변환하는 단계를 더 포함하는 전치왜곡방법
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제 15 항에 있어서,상기 입력신호는 광대역 신호이고,상기 전치왜곡함수들은 메모리 효과를 고려한 볼테라 급수 모델 또는 상기 볼테라 급수를 응용한 모델에 포함되는 함수들인 전치왜곡방법
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