맞춤기술찾기

이전대상기술

전치왜곡장치 및 전치왜곡방법

  • 기술번호 : KST2015088963
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 광대역 신호를 사용하는 비선형 장치의 출력을 선형화하는 경우, 메모리 효과를 반영하여 전치왜곡하는 장치가 개시된다. 그러한 전치왜곡장치는 전치왜곡부 및 계수추출부를 포함한다. 전치왜곡부는 입력신호의 세기에 따라 상기 서브-전치왜곡기들의 출력들 중의 하나를 선택하여 출력신호로서 출력하고, 계수추출부는 비선형신호의 세기에 따라 복수의 계수추출기들 중의 하나를 선택하여 비선형신호 및 상기 출력신호를 통해서 전치왜곡계수들을 추출하고, 이를 전치왜곡부로 전달한다. 따라서 입력신호가 광대역인 경우에도 메모리 효과가 반영된다.
Int. CL H03F 1/32 (2006.01)
CPC
출원번호/일자 1020100131456 (2010.12.21)
출원인 한국전자통신연구원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2012-0070057 (2012.06.29) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 취하
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 N
심사청구항수 20

출원인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 출원인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 발명자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 김영훈 대한민국 대전광역시 유성구
2 조권도 대한민국 대전광역시 서구
3 오정훈 대한민국 대전광역시 유성구
4 정재호 대한민국 대전광역시 유성구

대리인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 대리인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 오세준 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 *길 ** *층(역삼동)(특허법인 고려)
2 권혁수 대한민국 서울특별시 강남구 언주로 ***, *층(삼일빌딩, 역삼동)(KS고려국제특허법률사무소)
3 송윤호 대한민국 서울특별시 강남구 언주로 *** (역삼동) *층(삼일빌딩)(케이에스고려국제특허법률사무소)

최종권리자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 최종권리자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
최종권리자 정보가 없습니다
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2010.12.21 수리 (Accepted) 1-1-2010-0843660-35
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
인가되는 입력신호를 각기 별개의 전치왜곡계수들로써 각기 전치왜곡하는 복수의 서브-전치왜곡기들을 포함하며, 상기 입력신호의 세기에 따라 상기 서브-전치왜곡기들의 출력들 중의 하나를 선택하여 출력신호로서 출력하는 전치왜곡부; 및상기 출력신호에 응답하여 생성된 비선형신호의 세기에 따라 복수의 계수추출기들 중의 하나를 선택하여 상기 비선형신호 및 상기 출력신호를 통해서 상기 전치왜곡계수들을 추출하고, 상기 추출된 전치왜곡계수들을 상기 전치왜곡부로 전달하는 계수추출부를 포함하는 전치왜곡장치
2 2
제 1 항에 있어서,상기 전치왜곡부는 상기 입력신호의 세기에 응답하여 제1 제어신호를 생성하는 제1 제어기 및 상기 제1 제어신호에 따라 상기 서브-전치왜곡기의 출력을 선택하는 선택기를 포함하고,상기 계수추출부는 상기 비선형신호의 세기에 따라 상기 계수추출기를 선택하는 제2 제어신호를 생성하는 제2 제어기를 포함하는 전치왜곡장치
3 3
제 1 항에 있어서,상기 비선형신호의 세기와 상기 출력신호의 세기는 서로 일정한 비율관계를 이루고,상기 서브-전치왜곡기들의 개수와 상기 계수추출기들의 개수가 동일한 전치왜곡장치
4 4
제 1 항에 있어서,상기 입력신호를 세기에 따라 구분한 개수와 상기 비선형신호를 세기에 따라 구분한 개수가 동일하고,상기 계수추출부는 상기 비선형신호의 세기에 따라 상기 별개의 전치왜곡계수들을 상기 추출된 전치왜곡계수들로써 갱신하는 전치왜곡장치
5 5
제 1 항에 있어서,상기 입력신호, 상기 출력신호 및 상기 비선형신호는 디지털 신호인 전치왜곡장치
6 6
제 5 항에 있어서,상기 출력신호를 아날로그 신호로 변환하기 위한 디지털 대 아날로그 변환기(DAC); 및상기 아날로그 신호에 응답하여 생성되는 비선형 아날로그 신호를 상기 비선형신호로 변환하기 위한 아날로그 대 디지털 변환기(ADC)를 더 포함하는 전치왜곡장치
7 7
제 1 항에 있어서,상기 입력신호는 광대역 신호이고,상기 전치왜곡계수들은 메모리 효과를 고려한 볼테라 급수 모델 또는 상기 볼테라 급수를 응용한 모델에 포함되는 다항식의 계수들인 전치왜곡장치
8 8
제 1 항에 있어서,상기 계수추출기들은 상기 전치왜곡계수들을 추출하기 위해서 적응형 알고리즘을 사용하고,상기 적응형 알고리즘은 RLS, LMS, LS 및 뉴럴 네트워크 중의 적어도 어느 하나 또는 둘 이상의 조합인 전치왜곡장치
9 9
인가되는 입력신호의 세기에 따라 제어신호를 출력하는 제어기;상기 입력신호를 각기 별개의 전치왜곡계수들로써 각기 전치왜곡하는 복수의 서브-전치왜곡기들을 포함하며, 상기 제어신호에 따라 상기 서브-전치왜곡기들의 출력들 중의 하나를 선택하여 출력신호로서 출력하는 전치왜곡부; 및상기 제어신호에 따라 복수의 계수추출기들 중의 하나를 선택하여 상기 출력신호에 응답하여 생성된 비선형신호 및 상기 출력신호를 통해서 상기 전치왜곡계수들을 추출하고, 상기 추출된 전치왜곡계수들을 상기 전치왜곡부로 전달하는 계수추출부를 포함하는 전치왜곡장치
10 10
제 9 항에 있어서,상기 전치왜곡부는, 상기 제어신호에 따라 상기 서브-전치왜곡기의 출력을 선택하는 선택기를 포함하고,상기 서브-전치왜곡기들의 개수와 상기 계수추출기들의 개수가 동일한 전치왜곡장치
11 11
제 9 항에 있어서,상기 계수추출부는 상기 제어신호에 따라 상기 별개의 전치왜곡계수들을 상기 추출된 전치왜곡계수들로써 갱신하는 전치왜곡장치
12 12
제 9 항에 있어서,상기 입력신호, 상기 출력신호 및 상기 비선형신호는 디지털 신호인 전치왜곡장치
13 13
제 12 항에 있어서,상기 출력신호를 아날로그 신호로 변환하기 위한 디지털 대 아날로그 변환기(DAC); 및상기 아날로그 신호에 응답하여 생성되는 비선형 아날로그 신호를 상기 비선형신호로 변환하기 위한 아날로그 대 디지털 변환기(ADC)를 더 포함하는 전치왜곡장치
14 14
제 9 항에 있어서,상기 입력신호는 광대역 신호이고,상기 전치왜곡계수들은 메모리 효과를 고려한 볼테라 급수 모델 또는 상기 볼테라 급수를 응용한 모델에 포함되는 다항식의 계수들인 전치왜곡장치
15 15
인가되는 입력신호를 각기 별개의 전치왜곡계수들을 가지는 복수의 전치왜곡함수들을 통해서 각기 왜곡신호로 전치왜곡하고, 상기 입력신호의 세기에 따라 상기 왜곡신호들 중의 하나를 선택적으로 출력하는 단계;상기 출력된 왜곡신호에 응답하여 생성되는 비선형신호의 세기에 따라 복수의 적응형 알고리즘들 중의 하나를 선택하여 상기 비선형신호 및 상기 출력된 왜곡신호로부터 상기 전치왜곡계수들을 추출하는 단계; 및상기 비선형신호의 비선형성이 설정된 수준으로 개선될 때까지, 상기 별개의 전치왜곡계수들을 상기 추출된 전치왜곡계수들로써 반복적으로 갱신하는 단계를 포함하는 전치왜곡방법
16 16
제 15 항에 있어서,상기 비선형신호의 세기와 상기 출력된 왜곡신호의 세기는 서로 일정한 비율관계를 이루고,상기 전치왜곡함수들의 개수와 상기 적응형 알고리즘들의 개수가 동일한 전치왜곡방법
17 17
제 15 항에 있어서,상기 입력신호를 세기에 따라 구분한 개수와 상기 비선형신호를 세기에 따라 구분한 개수가 동일하고,상기 갱신하는 단계는 상기 비선형신호의 세기에 따라 상기 별개의 전치왜곡계수들을 상기 추출된 전치왜곡계수들로써 갱신하는 전치왜곡방법
18 18
제 15 항에 있어서,상기 입력신호, 상기 왜곡신호 및 상기 비선형신호는 디지털 신호인 전치왜곡방법
19 19
제 18 항에 있어서,상기 출력된 왜곡신호를 아날로그 신호로 변환하는 단계; 및상기 아날로그 신호에 응답하여 생성되는 비선형 아날로그 신호를 상기 비선형 신호로 변환하는 단계를 더 포함하는 전치왜곡방법
20 20
제 15 항에 있어서,상기 입력신호는 광대역 신호이고,상기 전치왜곡함수들은 메모리 효과를 고려한 볼테라 급수 모델 또는 상기 볼테라 급수를 응용한 모델에 포함되는 함수들인 전치왜곡방법
지정국 정보가 없습니다
순번, 패밀리번호, 국가코드, 국가명, 종류의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 패밀리정보 - 패밀리정보 표입니다.
순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 US08704595 US 미국 FAMILY
2 US20120154041 US 미국 FAMILY

DOCDB 패밀리 정보

순번, 패밀리번호, 국가코드, 국가명, 종류의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 패밀리정보 - DOCDB 패밀리 정보 표입니다.
순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 US2012154041 US 미국 DOCDBFAMILY
2 US8704595 US 미국 DOCDBFAMILY
국가 R&D 정보가 없습니다.