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이온 빔 프로파일러, 이온 빔 필터, 및 이온 빔 필터를 장착한 이온 빔 생성 장치

  • 기술번호 : KST2015091069
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 이온 빔 프로파일러, 이온 빔 필터, 및 이온 빔 필터를 장착한 이온 빔 생성 장치에 관한 것이다. 본 발명에 의한 이온 빔 프로파일러는 이온 빔에 응답하여 광을 생성하는 섬광 검출 모듈, 상기 광을 전기 펄스로 변환하는 광전 변환 모듈 및 상기 전기 펄스를 분석하여 상기 이온 빔의 에너지 분포 및 진행 경로를 계산하는 분석 모듈을 포함하며, 상기 섬광 검출 모듈은 적층된 복수의 섬광 검출 레이어들을 포함하고, 상기 복수의 섬광 검출 레이어들은 일방향으로 신장되며, 상기 이온 빔에 응답하여 상기 광을 생성하는 복수의 섬광체들을 포함하고, 서로 인접한 섬광 검출 레이어들에 포함되는 섬광체들의 신장 방향은 서로 직교 방향이다. 본 발명의 이온 빔 프로파일러는 실시간으로 이온 빔의 에너지 분포를 측정할 수 있다.
Int. CL A61N 5/10 (2006.01) A61B 18/00 (2006.01)
CPC A61N 5/1001(2013.01) A61N 5/1001(2013.01) A61N 5/1001(2013.01) A61N 5/1001(2013.01) A61N 5/1001(2013.01) A61N 5/1001(2013.01) A61N 5/1001(2013.01) A61N 5/1001(2013.01)
출원번호/일자 1020120124921 (2012.11.06)
출원인 한국전자통신연구원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2013-0103284 (2013.09.23) 문서열기
공고번호/일자 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보 대한민국  |   1020120024680   |   2012.03.09
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2017.06.20)
심사청구항수 14

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 명남수 미국 경기 성남시 분당구
2 정문연 대한민국 대전 유성구
3 신동호 대한민국 대전 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인 고려 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 *길 ** *층(역삼동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대전광역시 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2012.11.06 수리 (Accepted) 1-1-2012-0911097-37
2 [대리인선임]대리인(대표자)에 관한 신고서
[Appointment of Agent] Report on Agent (Representative)
2015.01.16 수리 (Accepted) 1-1-2015-0045352-65
3 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
4 [심사청구]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)
2017.06.20 수리 (Accepted) 1-1-2017-0590595-50
5 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2018.03.12 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
6 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2018.04.09 수리 (Accepted) 9-1-2018-0014183-97
7 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2018.06.26 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2018-0431435-16
8 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2018.08.27 수리 (Accepted) 1-1-2018-0849151-34
9 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2018.08.27 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2018-0849152-80
10 등록결정서
Decision to grant
2018.10.31 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2018-0740925-35
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
이온 빔에 응답하여 광을 생성하는 섬광 검출 모듈;상기 광을 전기 펄스로 변환하는 광전 변환 모듈; 및상기 전기 펄스를 분석하여 상기 이온 빔의 에너지 분포 및 진행 경로를 계산하는 분석 모듈을 포함하며,상기 섬광 검출 모듈은, 제1 방향으로 신장되고 상기 이온 빔에 응답하여 제1 광을 생성하는 제1 섬광체, 및 상기 제1 광을 집광하여 생성된 광전자를 상기 광전 변환 모듈에 출력하는 제1 검출체를 포함하는 제1 섬광 검출 레이어; 및제2 방향으로 신장되고 상기 이온 빔에 응답하여 제2 광을 생성하는 제2 섬광체, 및 상기 제2 광을 집광하여 생성된 광전자를 상기 광전 변환 모듈에 출력하는 제2 검출체를 포함하는 제2 섬광 검출 레이어를 포함하되,상기 제1 섬광 검출 레이어 및 상기 제2 섬광 검출 레이어는 제3 방향으로 서로 인접하게 배치되는 이온 빔 프로파일러
2 2
제 1항에 있어서,상기 제1 및 제2 섬광체들 각각은 삼각 기둥 구조, 사각 기둥 구조, 육각 기둥 구조 또는 원기둥 구조를 가지는 이온 빔 프로파일러
3 3
제 1항에 있어서,상기 제1 및 제2 섬광체들 각각의 외벽은 감마선을 전반사하도록 형성되는 이온 빔 프로파일러
4 4
삭제
5 5
제 1항에 있어서,상기 제1 검출체는 상기 제1 섬광체와 상기 제2 방향으로 연결되고,상기 제2 검출체는 상기 제2 섬광체와 상기 제1 방향으로 연결되는 이온 빔 프로파일러
6 6
제 1항에 있어서,상기 분석 모듈은 상기 전기 펄스를 시간에 대하여 적분한 값을 이용하여 상기 이온 빔의 입사 에너지를 계산하고, 상기 계산된 이온 빔의 입사 에너지를 이용하여 상기 이온 빔의 에너지 분포 및 진행 경로를 계산하는 이온 빔 프로파일러
7 7
제 1항에 있어서,상기 분석 모듈은 상기 전기 펄스를 이용하여 상기 섬광 검출 모듈에서 상기 이온 빔이 소멸한 섬광 검출 레이어를 특정하고, 상기 특정된 섬광 검출 레이어의 위치를 이용하여 상기 이온 빔의 에너지 분포 및 진행 경로를 계산하는 이온 빔 프로파일러
8 8
기초 이온 빔에 응답하여 광을 생성하며, 상기 기초 이온 빔을 이용하여 집속 이온 빔을 제공하는 섬광 검출 모듈;상기 광을 전기 펄스로 변환하는 광전 변환 모듈; 및상기 전기 펄스를 분석하여 상기 이온 빔의 에너지 분포 및 진행 경로를 계산하는 분석 모듈을 포함하며,상기 섬광 검출 모듈은 적층된 복수의 섬광 검출 레이어들을 포함하되, 적어도 하나의 홀이 상기 복수의 섬광 검출 레이어들 중 일부를 관통하도록 형성되고, 상기 복수의 섬광 검출 레이어들 각각은, 일방향으로 신장되며, 상기 이온 빔에 응답하여 상기 광을 생성하는 복수의 섬광체들을 포함하고,상기 복수의 섬광 검출 레이어들 중 서로 인접한 섬광 검출 레이어들 각각에 포함되는 섬광체의 신장 방향은 서로 다르고,상기 집속 이온 빔의 에너지 분포는 상기 홀에 응답하여 결정되는 이온 빔 필터
9 9
제 8항에 있어서,상기 홀은 상기 섬광 검출 모듈의 입사면 측으로부터 형성되는 이온 빔 필터
10 10
제 8항에 있어서,상기 홀은 상기 섬광 검출 모듈의 출력면 측으로부터 형성되는 이온 빔 필터
11 11
제 8항에 있어서,상기 홀은 상기 섬광 검출 모듈의 내부에 형성되는 이온 빔 필터
12 12
제 8항에 있어서,상기 집속 이온 빔의 에너지 분포는 상기 적어도 하나의 홀의 길이의 총합에 응답하여 결정되는 이온 빔 필터
13 13
이온을 가속시켜 기초 이온 빔을 생성하는 이온 빔 생성기; 및상기 기초 이온 빔을 이용하여 집속 이온 빔을 제공하는 이온 빔 필터를 포함하고,상기 이온 빔 필터는 상기 기초 이온 빔에 응답하여 광을 생성하며, 상기 기초 이온 빔을 이용하여 집속 이온 빔을 제공하는 섬광 검출 모듈;상기 광을 전기 펄스로 변환하는 광전 변환 모듈; 및상기 전기 펄스를 분석하여 상기 이온 빔의 에너지 분포 및 진행 경로를 계산하는 분석 모듈을 포함하며,상기 섬광 검출 모듈은 적층된 복수의 섬광 검출 레이어들을 포함하되, 적어도 하나의 홀이 상기 복수의 섬광 검출 레이어들 중 일부를 관통하도록 형성되고, 상기 복수의 섬광 검출 레이어들 각각은, 일방향으로 신장되며, 상기 이온 빔에 응답하여 상기 광을 생성하는 복수의 섬광체들을 포함하고,상기 복수의 섬광 검출 레이어들 중 서로 인접한 섬광 검출 레이어들 각각에 포함되는 섬광체의 신장 방향은 서로 다르고,상기 집속 이온 빔의 에너지 분포는 상기 홀에 응답하여 결정되는 이온 빔 생성 장치
14 14
제 13항에 있어서,상기 이온 빔 생성기는극초단 펄스 레이저를 생성하는 펄스 레이저;상기 극초단 펄스 레이저의 펄스 폭을 신장하는 펄스 신장기;상기 신장된 펄스 레이저 중 특정 펄스를 선택하는 펄스 선택기;상기 선택된 펄스의 크기를 증폭하는 증폭기; 및상기 증폭된 펄스의 펄스 폭을 축소하는 펄스 감축기를 포함하는 이온 빔 생성 장치
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제 14항에 있어서,상기 펄스 선택기는 포켈스 셀(Pockels Cell)을 포함하는 이온 빔 생성 장치
지정국 정보가 없습니다
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1 지식경제부 한국전자통신연구원 산업원천기술개발사업(ETRI지원사업) 종양치료용 레이저 이온 가속 시스템 원천 기술 개발