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프리즘;상기 프리즘 상의 대물렌즈를 포함하고, 상기 프리즘 상의 시료로부터 이미지를 검출하는 검출 광학계; 및상기 검출 광학계로부터 상기 이미지를 검출시키기 위해 상기 프리즘에 입사 광을 제공하고, 상기 프리즘으로 입사되는 상기 입사 광의 입사각을 변경하는 광원 광학계를 포함하되,상기 광원 광학계는:상기 입사 광을 생성하는 광원과, 상기 광원과 상기 프리즘 사이에 배치되어 상기 입사 광을 상기 프리즘에 반사하는 입사 미러를 포함하는 광원 입사부;상기 광원 입사부에서 입사된 상기 입사 광으로부터 상기 프리즘에서 반사되는 반사 광을 검출하는 검출 소자와, 상기 검출 소자와 상기 프리즘 사이에 배치되어 상기 반사 광을 상기 검출 소자에 반사하는 검출 미러를 포함하는 광원 검출부; 및상기 광원 입사부에서 상기 프리즘으로 입사되는 상기 입사 광의 입사각을 조절하는 측각기를 포함하되,상기 측각기는:상기 프리즘 아래에 이격하여 배치되는 중심 축;상기 중심 축에 연결된 복수개의 팔들; 및 상기 복수개의 팔들 중 어느 하나와 상기 광원 입사부의 상기 입사 미러에 연결되고, 상기 팔들 중 나머지 하나와 상기 광원 검출부의 상기 검출 미러에 연결되는 복수개의 홀더들을 포함하되,상기 광원 광학계는 상기 프리즘 아래에 배치되어 상기 중심 축의 이동을 제한하는 레일; 및상기 레일의 양측들에서부터 상기 프리즘의 상부면의 연장선까지 라운드지게 연장하여 상기 복수개의 홀더들의 이동을 제한하는 복수개의 궤도들을 더 포함하되,상기 프리즘은 상기 입사 광을 상기 대물렌즈에 대한 투과없이 내부 반사하는 임계각을 갖고,상기 홀더들이 상기 궤도들을 따라 이동될 때, 상기 입사 미러는 상기 입사 광을 상기 프리즘에 상기 임계각보다 크고, 상기 프리즘의 상기 상부면에 평행한 각도보다 작은 각도로 반사하는 현미경
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제 1 항에 있어서,상기 광원 입사부는:상기 광원에서 생성된 상기 입사 광을 시준하는 시준기; 및상기 시준기에서 시준된 상기 입사 광을 필터링 또는 편광시키는 필터를 더포함하는 현미경
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제 5 항에 있어서,상기 광원은 기체 레이저, 반도체 레이저, 레이저 다이오드, 할로겐 램프, 제논 램프, 또는 백색 발광다이오드를 포함하는 현미경
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제 5 항에 있어서, 상기 시준기는 복수개의 렌즈들을 포함하는 현미경
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제 1 항에 있어서,상기 검출 소자는 포토 다이오드 또는 촬상 소자를 포함하는 현미경
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제 1 항에 있어서,상기 프리즘은 삼각형, 반원통, 반구형, 또는 사다리꼴 모양을 갖는 현미경
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제 1 항에 있어서,상기 프리즘은 1
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제 11 항에 있어서,상기 글래스는 실리카, 비케이(BK)7, 에스에프(SF)10, 에스에프(SF)11, 또는 엔에이에스에프엔(NaSF N)9) 중 적어도 하나를 포함하되,상기 글래스가 비케이 7일 때, 상기 입사 미러는 상기 입사 광을 41
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제 1 항에 있어서,상기 검출 광학계는:상기 대물렌즈 상의 적어도 하나의 경통;상기 경통 상의 적어도 하나의 접안 렌즈; 및상기 접안 렌즈 상의 촬상 소자 또는 광파이버 커플러를 더 포함하는 현미경
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제 13 항에 있어서,상기 촬상 소자는 고체촬상소자 또는 씨모스(CMOS) 이미지 센서를 포함하는 현미경
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제 13 항에 있어서, 상기 경통 및 상기 접안 렌즈가 복수개일 때, 상기 검출 광학계는 상기 대물렌즈와 상기 경통사이에 배치된 교환 구동기를 더 포함하는 현미경
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