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전리층 관측기에서 상기 전리층 관측기가 위치하지 않은 중간 지점의 전리층의 전자밀도를 분석하는 방법으로서,상기 전리층 관측기의 수직 상공 방향이 아닌 비스듬한 방향에서 사입사 관측 데이터를 수신하는 단계,상기 사입사 관측 데이터를 직입사 관측 데이터로 변환하는 단계,상기 직입사 관측 데이터를 바탕으로 진폭 행렬을 계산하는 단계, 그리고상기 진폭 행렬, 상기 사입사 관측 데이터 및 상기 변환된 직입사 관측 데이터를 바탕으로 상기 중간 지점의 상공의 전리층의 전자밀도를 분석하는 단계를 포함하는 전자밀도 분석 방법
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제1항에서,상기 사입사 관측 데이터는, 상기 전리층 관측기와 다른 전리층 관측기에서 방사되어, 상기 중간 지점의 상공에서 반사된 후, 상기 전리층 관측기의 비스듬한 방향으로 입사된 관측 데이터인 전자밀도 분석 방법
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제2항에서,상기 변환하는 단계는,상기 사입사 관측 데이터에서 잡음 또는 간섭 신호를 제거하는 단계를 포함하는 전자밀도 분석 방법
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제3항에서,상기 변환하는 단계는,상기 잡음 또는 간섭 신호가 제거된 사입사 관측 데이터의 트레이스를 추출하는 단계, 그리고상기 트레이스를 상기 직입사 관측 데이터로 변환하는 단계를 더 포함하는 전자밀도 분석 방법
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제4항에서,상기 트레이스를 상기 직입사 관측 데이터로 변환하는 단계는,상기 사입사 관측 데이터의 입사각 및 도래각, 상기 전리층 관측기가 위치한 지점과 상기 다른 전리층 관측기가 위치한 지점 사이의 거리, 그리고 등가 경사 주파수를 고려하여 상기 트레이스를 상기 직입사 관측 데이터로 변환하는 단계를 포함하는 전자밀도 분석 방법
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제1항에서,상기 진폭 행렬을 계산하는 단계는,상기 직입사 관측 데이터에서 복수의 파라미터를 추출하는 단계, 그리고상기 복수의 파라미터를 이용하여 진폭 행렬을 계산하는 단계를 포함하는 전자밀도 분석 방법
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제6항에서,상기 복수의 파라미터를 추출하는 단계는,상기 직입사 관측 데이터에서 상기 파라미터를 추출할 수 있는지 판단하는 단계, 그리고상기 파라미터를 추출할 수 없는 경우, 상기 변환하는 단계 및 상기 추출하는 단계를 미리 정해진 횟수만큼 반복하는 단계를 포함하는 전자밀도 분석 방법
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제1항에서,상기 전자밀도를 분석하는 단계는,상기 진폭 행렬을 바탕으로 상기 중간 지점의 전리층의 실제 높이를 계산하는 단계, 그리고상기 실제 높이를 바탕으로 상기 중간 지점의 전리층의 전자밀도를 분석하는 단계를 포함하는 전자밀도 분석 방법
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제8항에서,상기 실제 높이를 바탕으로 상기 중간 지점의 전리층의 전자밀도를 분석하는 단계는,상기 전리층 관측기에서 관측한 상기 전리층 관측기가 위치한 지점의 가상 높이와 상기 실제 높이를 비교하는 단계,상기 실제 높이가 상기 가상 높이보다 큰 경우, 전자밀도의 분석이 유효하지 않은 것으로 판단하고 상기 진폭 행렬을 다시 계산하는 단계,그리고 상기 실제 높이가 상기 가상 높이보다 작거나 같은 경우, 상기 전자밀도의 분석 결과를 출력하는 단계를 포함하는 전자밀도 분석 방법
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