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하모닉 피크들의 패턴 분석을 이용한 물질 분석 방법 및 장치

  • 기술번호 : KST2015091911
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 하모닉 피크들의 패턴 분석을 이용한 물질 분석 방법 및 장치를 제공한다. 물질 분석 장치는 둘 이상의 전자기장을 생성하는 생성부, 상기 전자기장이 측정 대상 물질에 인가됨에 따라 상기 측정 대상 물질에서 발생되는 자화 신호를 검출하는 검출부 및 상기 자화 신호로부터 획득되는 하모닉 패턴(harmonic pattern)을 기초로 상기 측정 대상 물질의 종류를 분석하는 분석부를 포함할 수 있다.
Int. CL G01R 33/12 (2006.01) G01N 27/72 (2006.01)
CPC
출원번호/일자 1020130116008 (2013.09.30)
출원인 한국전자통신연구원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2015-0036941 (2015.04.08) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 공개
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 N
심사청구항수 20

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 홍효봉 대한민국 대전 유성구
2 임재호 대한민국 대전 유성구
3 신성웅 대한민국 대전광역시 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 한양특허법인 대한민국 서울특별시 강남구 논현로**길 **, 한양빌딩 (도곡동)

최종권리자

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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2013.09.30 수리 (Accepted) 1-1-2013-0883023-13
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
3 [대리인선임]대리인(대표자)에 관한 신고서
[Appointment of Agent] Report on Agent (Representative)
2016.10.11 수리 (Accepted) 1-1-2016-0982498-23
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번호 청구항
1 1
둘 이상의 전자기장을 생성하는 생성부;상기 전자기장이 측정 대상 물질에 인가됨에 따라 상기 측정 대상 물질에서 발생되는 자화 신호를 검출하는 검출부; 및상기 자화 신호로부터 획득되는 하모닉 패턴(harmonic pattern)을 기초로 상기 측정 대상 물질의 종류를 분석하는 분석부를 포함하는 물질 분석 장치
2 2
제1항에 있어서,상기 전자기장은,서로 다른 주파수를 가지는 둘 이상의 교류 전류를 각각 여기 코일로 입력함으로써 생성되는 것을 특징으로 하는 물질 분석 장치
3 3
제1항에 있어서,상기 측정 대상 물질은,상자성(paramagnetic) 또는 초상자성(super-paramagnetic) 물질인 것을 특징으로 하는 물질 분석 장치
4 4
제1항에 있어서,상기 검출부는,권선 방향이 서로 반대 방향이고 권선 수가 동일한 코일이 보빈(bobbin) 양쪽에 각각 감겨진 형태의 검출 코일을 이용하여 상기 자화 신호를 검출하는 것을 특징으로 하는 물질 분석 장치
5 5
제1항에 있어서,상기 분석부는,푸리에 변환(Fourier Transform)을 이용하여 상기 자화 신호로부터 하모닉 피크(harmonic peak)들을 획득하는 것을 특징으로 하는 물질 분석 장치
6 6
제1항에 있어서,상기 분석부는,상기 하모닉 패턴을 통해 확보한 실효값 또는 상기 하모닉 패턴을 고차 다항식으로 변환함으로써 산출된 계수를 비교하여 상기 측정 대상 물질의 종류를 분석하는 것을 특징으로 하는 물질 분석 장치
7 7
서로 다른 주파수를 가지는 교류 전류를 발생시키는 둘 이상의 발생기;상기 교류 전류를 각각 입력 받아 전자기장을 생성하는 둘 이상의 여기 코일;상기 전자기장이 측정 대상 물질에 인가됨에 따라 상기 측정 대상 물질에서 발생되는 자화 신호를 검출하는 검출 코일; 및상기 자화 신호로부터 획득되는 하모닉 패턴(harmonic pattern)을 기초로 상기 측정 대상 물질의 종류를 분석하는 분석기를 포함하는 것을 특징으로 물질 분석 장치
8 8
제7항에 있어서,상기 측정 대상 물질은,상자성(paramagnetic) 또는 초상자성(super-paramagnetic) 물질인 것을 특징으로 하는 물질 분석 장치
9 9
제7항에 있어서,상기 교류 전류 및 상기 자화 신호 중 적어도 하나를 증폭시키는 증폭기를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 물질 분석 장치
10 10
제7항에 있어서,상기 여기 코일은,상기 측정 대상 물질에 상기 전자기장을 인가하는 1차 코일 또는 반송파 신호를 생성하는 2차 코일인 것을 특징으로 하는 물질 분석 장치
11 11
제7항에 있어서,상기 검출 코일은,권선 방향이 서로 반대 방향이고 권선 수가 동일한 코일이 보빈(bobbin) 양쪽에 각각 감겨진 형태인 것을 특징으로 하는 물질 분석 장치
12 12
제7항에 있어서,상기 분석기는,푸리에 변환(Fourier Transform)을 이용하여 상기 자화 신호로부터 하모닉 피크(harmonic peak)들을 획득하는 것을 특징으로 하는 물질 분석 장치
13 13
제7항에 있어서,상기 분석기는,상기 하모닉 패턴을 통해 확보한 실효값 또는 상기 하모닉 패턴을 고차 다항식으로 변환함으로써 산출된 계수를 비교하여 상기 측정 대상 물질의 종류를 분석하는 것을 특징으로 하는 물질 분석 장치
14 14
물질 분석 장치가 측정 대상 물질을 분석하는 방법에 있어서,둘 이상의 전자기장을 생성하는 단계;상기 전자기장을 측정 대상 물질에 인가하는 단계;상기 전자기장이 상기 측정 대상 물질에 인가됨에 따라 상기 측정 대상 물질에서 발생되는 자화 신호를 검출하는 단계; 및상기 자화 신호로부터 획득되는 하모닉 패턴(harmonic pattern)을 기초로 상기 측정 대상 물질의 종류를 분석하는 단계를 포함하는 물질 분석 방법
15 15
제14항에 있어서,상기 전자기장은,서로 다른 주파수를 가지는 둘 이상의 교류 전류를 각각 여기 코일로 입력함으로써 생성되는 것을 특징으로 하는 물질 분석 방법
16 16
제15항에 있어서,상기 여기 코일은,상기 측정 대상 물질에 상기 전자기장을 인가하는 1차 코일 또는 반송파 신호를 생성하는 2차 코일인 것을 특징으로 하는 물질 분석 방법
17 17
제14항에 있어서,상기 측정 대상 물질은,상자성(paramagnetic) 또는 초상자성(super-paramagnetic) 물질인 것을 특징으로 하는 물질 분석 방법
18 18
제14항에 있어서,상기 검출하는 단계는,권선 방향이 서로 반대 방향이고 권선 수가 동일한 코일이 보빈(bobbin) 양쪽에 각각 감겨진 형태의 검출 코일을 이용하여 상기 자화 신호를 검출하는 단계인 것을 특징으로 하는 물질 분석 방법
19 19
제14항에 있어서,상기 분석하는 단계는,푸리에 변환(Fourier Transform)을 이용하여 상기 자화 신호로부터 하모닉 피크(harmonic peak)들을 획득하는 단계; 및상기 하모닉 패턴을 통해 확보한 실효값 또는 상기 하모닉 패턴을 고차 다항식으로 변환함으로써 산출된 계수를 비교하여 상기 측정 대상 물질의 종류를 분석하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 물질 분석 방법
20 20
제14항에 있어서,상기 검출하는 단계 이후에,상기 자화 신호를 증폭시키는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 물질 분석 방법
지정국 정보가 없습니다
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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 US20150091556 US 미국 FAMILY

DOCDB 패밀리 정보

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1 US2015091556 US 미국 DOCDBFAMILY
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