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정합 매질 온도 제어 장치 및 방법

  • 기술번호 : KST2015092225
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 단층 촬영 영상 생성 장치에서 사용되는 정합 매질의 온도를 제어하는 장치 및 방법이 개시된다.정합 매질 온도 제어 방법은 전자파를 이용하여 정합 매질에 잠긴 물체의 형상을 측정하는 장치에서 물체가 잠긴 정합 매질의 온도를 측정하는 단계; 측정한 정합 매질의 온도를 기초로 정합 매질을 통과하는 전자파의 크기 및 위상을 유지시키는 설정 온도를 세팅하는 단계; 및 정합 매질의 온도를 설정 온도 이상으로 제어하는 단계를 포함할 수 있다.
Int. CL G05D 23/19 (2006.01.01)
CPC
출원번호/일자 1020130157459 (2013.12.17)
출원인 한국전자통신연구원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2015-0070821 (2015.06.25) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 거절
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2018.11.29)
심사청구항수 13

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김장렬 대한민국 대전 유성구
2 이종문 대한민국 충청북도 청주시 흥덕구
3 김혁제 대한민국 대전광역시 유성구
4 손성호 대한민국 대전 유성구
5 전순익 대한민국 대전광역시 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인 무한 대한민국 서울특별시 강남구 언주로 ***, *층(역삼동,화물재단빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2013.12.17 수리 (Accepted) 1-1-2013-1156138-25
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
3 [심사청구]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)
2018.11.29 수리 (Accepted) 1-1-2018-1193419-45
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2020.01.16 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2020-0039825-72
5 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2020.03.16 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2020-0272708-46
6 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2020.03.16 수리 (Accepted) 1-1-2020-0272709-92
7 거절결정서
Decision to Refuse a Patent
2020.07.24 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2020-0502855-70
8 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견서·답변서·소명서
2020.08.26 수리 (Accepted) 1-1-2020-0898803-91
9 [명세서등 보정]보정서(재심사)
Amendment to Description, etc(Reexamination)
2020.08.26 보정승인 (Acceptance of amendment) 1-1-2020-0898804-36
10 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2020.09.22 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2020-0655076-63
11 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2020.11.23 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2020-1256789-82
12 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견서·답변서·소명서
2020.11.23 수리 (Accepted) 1-1-2020-1256790-28
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
전자파를 이용하여 정합 매질에 잠긴 물체의 형상을 측정하는 장치에서 물체가 잠긴 정합 매질의 온도를 측정하는 단계;측정한 정합 매질의 온도를 기초로 정합 매질을 통과하는 전자파의 크기 및 위상을 유지시키는 설정 온도를 세팅하는 단계; 및정합 매질의 온도를 설정 온도 이상으로 제어하는 단계를 포함하는 정합 매질 온도 제어 방법
2 2
제1항에 있어서, 상기 제어하는 단계는,정합 매질의 온도가 설정 온도 미만인 경우, 히터를 이용하여 정합 매질의 온도를 높이는 단계; 및정합 매질의 온도가 설정 온도 이상인 경우, 펌프로 정합 매질을 순환시키는 단계를 포함하는 정합 매질 온도 제어 방법
3 3
제2항에 있어서, 상기 히터는,정합 매질의 수위에 따라 크기가 가변 되는 정합 매질 온도 제어 방법
4 4
제2항에 있어서, 상기 정합 매질의 온도를 높이는 단계는,히터에 인접한 정합 매질의 온도가 기 설정된 차단 온도 이상인 경우, 히터의 동작을 종료시키는 정합 매질 온도 제어 방법
5 5
제2항에 있어서, 상기 정합 매질의 온도를 유지하는 단계는,정합 매질의 온도가 설정 온도 이상인 경우, 히터의 동작을 종료하고, 히터로 온도가 올라간 정합 매질을 펌프로 순환시키는 정합 매질 온도 제어 방법
6 6
제1항에 있어서, 상기 측정하는 단계는,전자파를 출력하거나, 전자파를 수신하는 전자파 송수신기에 인접한 정합 매질의 온도 및 히터에 인접한 정합 매질의 온도를 측정하는 정합 매질 온도 제어 방법
7 7
제1항에 있어서, 상기 측정하는 단계는,정합 매질의 수위에 따라 길이가 가변 되는 온도 센서를 이용하여 정합 매질의 상부의 온도 및 하부의 온도를 측정하는 정합 매질 온도 제어 방법
8 8
제1항에 있어서, 상기 제어하는 단계는,비례 제어, 적분제어, 및 미분 제어 중 적어도 하나를 이용하여 정합 매질의 온도를 제어하는 정합 매질 온도 제어 방법
9 9
정합 매질에 잠긴 물체를 향하여 전자파를 출력하는 단계;전자파가 통과하는 정합 매질의 온도를 제어하는 단계; 온도가 제어된 정합 매질 및 물체를 통과한 전자파를 수신하는 단계; 및출력한 전자파와 수신한 전자파를 이용하여 물체의 단층 촬영 영상을 생성하는 단계를 포함하는 단층 촬영 영상 생성 방법
10 10
제9항에 있어서, 상기 제어하는 단계는,상기 정합 매질의 온도를 측정하는 단계;측정한 정합 매질의 온도를 기초로 정합 매질을 통과하는 전자파의 크기 및 위상을 유지시키는 설정 온도를 세팅하는 단계; 정합 매질의 온도가 설정 온도 미만인 경우, 히터를 이용하여 정합 매질의 온도를 높이는 단계; 및정합 매질의 온도가 설정 온도 이상인 경우, 펌프로 정합 매질을 순환시키는 단계를 포함하는 단층 촬영 영상 생성 방법
11 11
전자파를 이용하여 정합 매질에 잠긴 물체의 형상을 측정하는 장치에서 물체가 잠긴 정합 매질의 온도를 측정하는 온도 측정부;측정한 정합 매질의 온도를 기초로 정합 매질을 통과하는 전자파의 크기 및 위상을 유지시키는 설정 온도를 세팅하는 설정 온도 세팅부; 및정합 매질의 온도를 설정 온도 이상으로 제어하는 온도 제어부를 포함하는 정합 매질 온도 제어 장치
12 12
제11항에 있어서, 상기 온도 제어부는,정합 매질의 온도가 설정 온도 미만인 경우, 히터를 이용하여 정합 매질의 온도를 높이는 정합 매질 온도 상승부; 및정합 매질의 온도가 설정 온도 이상인 경우, 펌프로 정합 매질을 순환시키는 정합 매질 온도 유지부를 포함하는 정합 매질 온도 제어 장치
13 13
제12항에 있어서, 상기 히터는,정합 매질의 수위에 따라 크기가 가변 되는 정합 매질 온도 제어 장치
14 14
제12항에 있어서, 상기 정합 매질 온도 상승부는,히터에 인접한 정합 매질의 온도가 기 설정된 차단 온도 이상인 경우, 히터의 동작을 종료시키는 정합 매질 온도 제어 장치
15 15
제12항에 있어서, 상기 정합 매질 온도 유지부는,정합 매질의 온도가 설정 온도 이상인 경우, 히터의 동작을 종료하고, 히터로 온도가 올라간 정합 매질을 펌프로 순환시키는 정합 매질 온도 제어 장치
16 16
제11항에 있어서, 상기 온도 측정부는,전자파를 출력하거나, 전자파를 수신하는 전자파 송수신기에 인접한 정합 매질의 온도 및 히터에 인접한 정합 매질의 온도를 측정하는 정합 매질 온도 제어 장치
17 17
제11항에 있어서, 상기 온도 측정부는,정합 매질의 수위에 따라 길이가 가변 되는 온도 센서를 이용하여 정합 매질의 상부의 온도 및 하부의 온도를 측정하는 정합 매질 온도 제어 장치
18 18
전자파가 통과하는 정합 매질의 온도를 제어하는 정합 매질 온도 제어부; 정합 매질에 잠긴 물체를 향하여 전자파를 출력하는 전자파 송수신기, 및 온도가 제어된 정합 매질 및 물체를 통과한 전자파를 수신하는 복수의 전자파 송수신기들을 포함하는 전자파 송수신부; 및출력한 전자파와 수신한 전자파를 이용하여 물체의 단층 촬영 영상을 생성하는 단층 촬영 영상 생성부를 포함하는 단층 촬영 영상 생성 장치
19 19
제18항에 있어서, 상기 정합 매질 온도 제어부는,상기 정합 매질의 온도를 측정하는 온도 측정부;측정한 정합 매질의 온도를 기초로 정합 매질을 통과하는 전자파의 크기 및 위상을 유지시키는 설정 온도를 세팅하는 설정 온도 세팅부; 및 정합 매질의 온도를 설정 온도 이상으로 제어하는 온도 제어부를 포함하는 단층 촬영 영상 생성 장치
20 20
제19항에 있어서, 상기 온도 제어부는,전자파를 출력하는 전자파 송수신기, 및 전자파를 수신하는 복수의 전자파 송수신기들에 인접한 정합 매질의 온도 및 히터에 인접한 정합 매질의 온도를 측정하는 단층 촬영 영상 생성 장치
지정국 정보가 없습니다
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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 US09207191 US 미국 FAMILY
2 US20150168315 US 미국 FAMILY

DOCDB 패밀리 정보

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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 US2015168315 US 미국 DOCDBFAMILY
2 US9207191 US 미국 DOCDBFAMILY
국가 R&D 정보가 없습니다.