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전계방출 소자의 구조 및 그 제조 방법

  • 기술번호 : KST2015092860
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 전자원 장치(electron source device)에 관한 것으로, 절연성 기판 위에 기둥이 있는 원추형의 캐소드(cathode)를 가지며, 기둥 부분은 도핑되지 않은(undoped) 실리콘으로 구성되고, 원추 부분은 전체 또는 일부가 도핑된 실리콘으로 구성되어 있고, 600℃이하의 반도체 공정으로 제조될 수 있기 때문에 대면적 및 저가격의 유리를 기판으로 사용할 수 있고, 또한 제조 생산성을 크게 증대시킬 수 있는 전계방출 소자의 구조 및 제조 방법이 제시된다.
Int. CL H01J 1/30 (2006.01)
CPC H01J 1/3042(2013.01) H01J 1/3042(2013.01)
출원번호/일자 1019960056398 (1996.11.22)
출원인 한국전자통신연구원
등록번호/일자 10-0233853-0000 (1999.09.14)
공개번호/일자 10-1998-0037620 (1998.08.05) 문서열기
공고번호/일자 (19991201) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (1996.11.22)
심사청구항수 17

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 송윤호 대한민국 대전광역시 서구
2 이진호 대한민국 대전광역시 유성구
3 조경익 대한민국 대전광역시 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 신영무 대한민국 서울특별시 강남구 영동대로 ***(대치동) KT&G타워 *층(에스앤엘파트너스)
2 최승민 대한민국 서울특별시 중구 통일로 **, 에이스타워 *층 (순화동)(법무법인 세종)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 출원심사청구서
Request for Examination
1996.11.22 수리 (Accepted) 1-1-1996-0190642-98
2 특허출원서
Patent Application
1996.11.22 수리 (Accepted) 1-1-1996-0190640-07
3 대리인선임신고서
Notification of assignment of agent
1996.11.22 수리 (Accepted) 1-1-1996-0190641-42
4 출원인정보변경 (경정)신고서
Notification of change of applicant's information
1997.03.12 수리 (Accepted) 1-1-1996-0190643-33
5 등록사정서
Decision to grant
1999.06.30 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-1999-0212755-15
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2001.04.19 수리 (Accepted) 4-1-2001-0046046-20
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2002.08.08 수리 (Accepted) 4-1-2002-0065009-76
8 [대리인사임]대리인(대표자)에 관한 신고서
[Resignation of Agent] Report on Agent (Representative)
2008.11.06 수리 (Accepted) 1-1-2008-5055003-22
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.08.04 수리 (Accepted) 4-1-2009-5150899-36
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1

절연성 기판 상부에 형성된 캐소드 전극과, 상기 캐소드 전극 상부의 선택된 영역에 형성된 기둥을 가진 원추형의 실리콘 캐소드와, 상기 캐소드 전극 상부의 선택된 영역에 형성된 게이트 산화막과, 상기 게이트 산화막 상부에 형성된 게이트로 이루어진 것을 특징으로 하는 전계방출 소자의 구조

2 2

제1항에 있어서, 상기 절연성 기판은 산화막, 질화막, 석영 및 유리중 어느 하나로 이루어진 것을 특징으로 하는 전계방출 소자의 구조

3 3

제1항에 있어서, 상기 실리콘 캐소드의 기둥 부분은 도핑되지 않은 비정질실리콘, 미세 결정 실리콘 및 다결정 실리콘중 어느 하나로 이루어진 것을 특징으로 하는 전계방출 소자의 구조

4 4

제1항에 있어서, 상기 실리콘 캐소드의 원추 부분 전체는 도핑된 비정질 실리콘, 미세 결정 실리콘 및 다결정 실리콘중 어느 하나로 이루어진 것을 특징으로 하는 전계방출 소자의 구조

5 5

제1항에 있어서, 상기 실리콘 캐소드의 원추 부분 일부는 도핑된 비정질 실리콘, 미세 결정 실리콘 및 다결정 실리콘증 어느 하나로 이루어진 것을 특징으로 하는 전계방출 소자의 구조

6 6

절연성 기판 상부에 캐소드 전극 및 도핑되지 않은 실리콘을 순차적으로 형성하는 단계와, 상기 도핑되지 않은 실리콘 상부의 선택된 영역에 마스크층을 형성하는 단계와, 상기 마스크층을 이용하여 상기 도핑되지 않은 실리콘을 기둥이 잘린 원추형으로 식각하는 단계와, 상기 기둥이 잘린 원추형 실리콘을 등방성 습식식각하여 캐소드 몸체를 형성하는 단계와, 전체 구조 상부에 산화막을 증착하는 단계와, 상기 산화막 상부에 게이트 전극 물질을 형성하는 단계와, 상기 게이트 전극 물질에 에치백 공정을 수행하여 캐소드 몸체 부분의 게이트 전극 물질을 제거하는 단계와, 상기 산화막의 선택된 영역을 제거하여 캐소드 몸체의 원추 부분을 노출시키는 단계와, 상기 캐소드 몸체의 원추 표면에 도펀트를 주입시키는 단계와, 상기 도펀트가 주입된 캐소드 몸체를 열처리하여 도핑된 실리콘을 형성하는 단계와, 상기 캐소드 주위의 산화막을 제거하여 캐소드를 완전히 노출시킨 후 게이트 전극 물질을 패터닝하여 게이트를 형성하는 단계로 이루어진 것을 특징으로 하는 전계방출 소자 제조 방법

7 7

제6항에 있어서, 상기 절연성 기판은 산화막, 질화막, 석영 및 유리증 어느 하나로 이루어진 것을 특징으로 하는 전계방출 소자 제조 방법

8 8

제6항에 있어서, 상기 도핑되지 않은 실리콘은 비정질 실리콘, 미세 결정 리콘 및 다결정 실리콘증 어느 하나로 이루어진 것을 특징으로 하는 전계방출 소자 제조 방법

9 9

제6항에 있어서, 상기 기둥이 잘린 원추형 실리콘은 상기 도핑되지 않은 실리콘을 등방성 식각 및 비등방성 식각의 2단계로 식각하여 형성하는 것을 특징으로 하는 전계방출 소자 제조 방법

10 10

제6항에 있어서, 상기 캐소드 등방성 습식식각은 불산, 초산, 질산의 혼합용액으로 수행하는 것을 특징으로 하는 전계방출 소자 제조 방법

11 11

제6항에 있어서, 상기 산화막의 제거는 불산 용액을 이웅한 습식 식각 및 증기상 식각 공정중 어느 한 공정으로 수행하는 것을 특징으로 하는 전계방출 소자제조 방법

12 12

제6항에 있어서, 상기 캐소드 몸체의 원추 표면의 도펀트 주입은 이온 주입 및 이온 샤우어 공정중 어느 한 공정을 이용하는 것을 특징으로 하는 전계방출소자 제조 방법

13 13

절연성 기판 상부에 캐소드 전극 및 도핑되지 않은 실리콘을 순차적으로 형성하는 단계와, 상기 도핑되지 않은 실리콘 상부에 도핑된 실리콘을 형성하는 단계와, 상기 도핑된 실리콘층 상부의 선택된 영역에 마스크층을 형성하는 단계와, 상기 마스크층을 이용하여 상기 도핑되지 않은 실리콘 및 도핑된 실리콘을 식각하여 기둥 모양의 실리콘 및 잘린 원추형의 실리콘을 형성하는 단계와, 상기 기둥 모양의 실리콘 및 잘린 원추형의 실리콘을 등방성 습식식각하여 캐소드를 형성하는 단계와, 전체 구조 상부에 산화막을 증착하는 단계와, 상기 산화막 상부에 게이트 전극 물질을 형성하는 단계와, 상기 게이트 전극 물질의 선택된 영역을 에치백 공정에 의해 제거하여 산화막을 노출시키는 단계와, 상기 노출된 산화막을 습식식각으로 제거하여 캐소드를 노출시킨 후 게이트 전극 물질을 패터닝하여 게이트를 형성하는 단계로 이루어진 것을 특징으로 하는 전계방출 소자 제조 방법

14 14

제13항에 있어서, 상기 절연성 기판은 산화막, 질화막, 석영 및 유리중 어느 하나로 이루어진 것을 특징으로 하는 전계방출 소자 제조 방법

15 15

제13항에 있어서, 상기 도핑되지 않은 실리콘은 비정질 실리콘, 미세 결정실리콘 및 다결정 살리콘증 어느 하나로 이루어진 것을 특징으로 하는 전계 방출소자 제조 방법

16 16

제13항에 있어서, 상기 도핑되지 않은 실리콘 및 도핑된 실리콘은 등방성식각 및 비등방성 식각의 2단계로 식각되는 것을 특징으로 하는 전계방를 소자 제조 방법

17 17

제13항에 있어서, 상기 등방성 습식식각은 불산, 초산 및 질산의 혼합 용액으로 수행하는 것을 특징으로 하는 전계방출 소자 제조 방법

지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.