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구격자배열 타입 칩의 인쇄회로기판 부착여부 검사장치 및방법

  • 기술번호 : KST2015093218
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 구 격자 배열(BGA) 형태의 칩의 볼들이 인쇄회로기판의 접촉부에 정상적으로 부착되었는지의 여부를 검사하는 장치 및 방법에 관한 것으로, BGA 형태로 패키징된 칩의 PCB 부착 여부를 판단함에 있어서, 칩의 볼(핀) 내부에 설계되어져 있는 정전기방전 보호 회로를 응용하여 볼의 PCB 부착 불량 여부를 판단하는 장치 및 방법을 제공함으로써, 구성이 간단하여 저렴한 비용으로 구현 가능하며 PCB 설계자가 직접 검사해 볼 수 있으므로 설계한 내용에 대해 다양한 검사를 해 볼 수 있는 장점이 있다. BGA, 볼, PCB
Int. CL G01R 31/00 (2006.01)
CPC G01R 31/2808(2013.01) G01R 31/2808(2013.01) G01R 31/2808(2013.01)
출원번호/일자 1020020031587 (2002.06.05)
출원인 한국전자통신연구원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2003-0093744 (2003.12.11) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 거절
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2002.06.05)
심사청구항수 12

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 노지명 대한민국 대전광역시유성구
2 유태환 대한민국 대전광역시유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 이영필 대한민국 서울 강남구 언주로 **길 **, *층, **층, **층, **층(도곡동, 대림아크로텔)(리앤목특허법인)
2 이해영 대한민국 서울 강남구 언주로 **길 **, *층, **층, **층, **층(도곡동, 대림아크로텔)(리앤목특허법인)

최종권리자

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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2002.06.05 수리 (Accepted) 1-1-2002-0176979-50
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2002.08.08 수리 (Accepted) 4-1-2002-0065009-76
3 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2003.10.07 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2003.11.14 수리 (Accepted) 9-1-2003-0053368-66
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2004.04.29 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2004-0165777-03
6 거절결정서
Decision to Refuse a Patent
2004.07.26 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2004-0297839-42
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.08.04 수리 (Accepted) 4-1-2009-5150899-36
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
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번호 청구항
1 1

구격자배열 타입의 칩을 인쇄회로기판에 부착한 다음 상기 칩의 볼들이 상기 인쇄회로기판에 정상적으로 부착되었는지를 검사하기 위한 장치에 있어서,

상기 인쇄회로기판에 있는 복수의 결선구멍으로 삽입되어 상기 볼들과 전기적으로 접촉하는 복수의 리드핀을 구비하는 접촉모듈;

상기 접촉모듈의 리드핀으로 전류를 흘리면서 그 리드핀과 접지 사이에 발생되는 전위차를 측정하는 측정부; 및

상기 측정부에서 측정된 전위차에 기초하여 상기 리드핀과 연결되는 볼의 상기 인쇄회로기판과의 부착상태를 판별하는 판별부를 포함하는 것을 특징으로 하는 구격자배열 타입 칩의 인쇄회로기판 부착여부 검사장치

2 2

제1항에 있어서, 상기 접촉모듈은 행렬 형태로 형성된 복수의 리드핀을 구비하는 것을 특징으로 하는 구격자배열 타입 칩의 인쇄회로기판 부착여부 검사장치

3 3

제1항에 있어서, 상기 접촉모듈에 구비된 리드핀은 원통 또는 원뿔 형태의 돌기로 형성되는 것을 특징으로 하는 구격자배열 타입 칩의 인쇄회로기판 부착여부 검사장치

4 4

제1항에 있어서, 상기 리드핀은 고형 물체와 접촉할 경우 밀려들어가는 형태의 돌기로 형성되는 것을 특징으로 하는 구격자배열 타입 칩의 인쇄회로기판 부착여부 검사장치

5 5

제1항에 있어서, 상기 판별부는

상기 측정된 전위차가 소정의 범위 내에 드는지를 확인하여, 상기 범위 내에 들면 상기 결선구멍과 연결된 볼이 인쇄회로기판에 부착된 것으로 판별하고, 그렇지 않으면 부착되지 않은 것으로 판별하는 것을 특징으로 하는 구격자배열 타입 칩의 인쇄회로기판 부착여부 검사장치

6 6

제1항에 있어서, 상기 판별부는

첫 번째 칩을 상기 인쇄회로기판에 정상적으로 부착한 다음 두 번째 칩을 상기 인쇄회로기판에 부착한 후, 상기 두 번째 칩의 볼들이 상기 인쇄회로기판에 정상적으로 부착되었는지를 검사함에 있어서,

상기 첫 번째 칩과 결선관계가 있는 상기 두 번째 칩의 검사대상 볼에 대해 상기 리드핀과 접지 사이에서 측정된 전위차가, 두 번째 칩을 부착하지 않은 상태에서 상기 결선관계에 있는 첫 번째 칩의 볼에 대해 측정된 전위차보다 상대적으로 낮으면 상기 두 번째 칩의 검사대상 볼이 인쇄회로기판에 부착된 것으로 판별하는 것을 특징으로 하는 구격자배열 타입 칩의 인쇄회로기판 부착여부 검사장치

7 7

구격자배열 타입의 칩을 인쇄회로기판에 부착한 다음 상기 칩의 볼들이 상기 인쇄회로기판에 정상적으로 부착되었는지를 검사하기 위한 방법에 있어서,

상기 인쇄회로기판의 결선구성으로 리드핀을 삽입한 다음 상기 리드핀을 통하여 전류를 흘리는 단계;

상기 리드핀과 접지 사이의 전위차를 측정하는 단계; 및

상기 측정된 전위차가 소정의 범위 내에 드는지를 확인하여, 상기 범위 내에 들면 상기 결선구멍과 연결된 볼이 인쇄회로기판에 부착된 것으로 판별하고, 그렇지 않으면 부착되지 않은 것으로 판별하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 구격자배열 타입 칩의 인쇄회로기판 부착여부 검사방법

8 8

제7항에 있어서, 상기 범위는 전류가 동시에 인가되는 리드핀의 수에 대응하여 설정되는 것을 특징으로 하는 구격자배열 타입 칩의 인쇄회로기판 부착여부 검사방법

9 9

첫 번째 구격자배열 타입의 칩을 상기 인쇄회로기판에 정상적으로 부착한 다음 두 번째 칩을 상기 인쇄회로기판에 부착한 후, 상기 두 번째 칩의 볼들이 상기 인쇄회로기판에 정상적으로 부착되었는지를 검사하기 위한 방법에 있어서,

상기 첫 번째 칩의 볼과 결선된 상기 두 번째 칩의 볼이 있는지를 확인한 다음 만일 있으면 상기 두 번째 칩의 볼과 결선된 상기 첫 번째 칩의 볼에 해당하는 상기 인쇄회로기판의 결선구성으로 리드핀을 삽입한 다음 상기 리드핀을 통하여 전류를 흘리는 단계;

상기 리드핀과 접지 사이의 전위차를 측정하는 단계;

첫 번째 칩 검사시 당해 볼에 대해 측정된 전위차(E1)와 상기 측정된 전위차(E2)를 비교하는 단계; 및

만일 후자(E2)가 전자(E1)보다 작으면 상기 두 번째 칩의 볼이 상기 인쇄회로기판에 정상적으로 부착되었으며 또한 서로 결선되어야 하는 첫 번째 칩의 볼과 두 번째 칩의 볼 간의 결선도 정상적인 것으로 판별하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 구격자배열 타입 칩의 인쇄회로기판 부착여부 검사방법

10 10

제9항에 있어서, 상기 비교단계에서 만일 후자(E2)가 전자(E1)보다 작지 않으면,

리드핀을 상기 두 번째 칩의 당해 볼에 삽입하여 리드핀과 접지 사이의 전위차를 측정하는 단계;

상기 측정된 전위차가 기준 범위 내에 속하는지를 확인하는 단계; 및

만일 그렇다면 상기 두 번째 칩의 볼은 상기 인쇄회로기판에 정상적으로 부착되었지만 서로 결선되어야 하는 상기 첫 번째 칩의 볼간의 결선이 비정상적이라고 판별하고, 그렇지 않으면 상기 두 번째 칩의 볼이 상기 인쇄회로기판에 부착되지 않은 상태라고 판별하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 구격자배열 타입 칩의 인쇄회로기판 부착여부 검사방법

11 11

제9항에 있어서,

상기 첫 번째 칩의 볼들과 결선관계가 없는 상기 두 번째 칩의 볼에 대해서는 상기 두 번째 칩의 볼에 해당하는 상기 인쇄회로기판의 결선구성으로 리드핀을 삽입한 다음 상기 리드핀을 통하여 전류를 흘리는 단계;

상기 리드핀과 접지 사이의 전위차를 측정하는 단계; 및

상기 측정된 전위차가 소정의 범위 내에 드는지를 확인하여, 상기 범위 내에 들면 상기 검사대상 볼이 상기 인쇄회로기판에 부착된 것으로 판별하는 단계를 더 포함으로 하는 구격자배열 타입 칩의 인쇄회로기판 부착여부 검사방법

12 12

첫 번째 구격자배열 타입의 칩을 상기 인쇄회로기판에 정상적으로 부착한 다음 두 번째 칩을 상기 인쇄회로기판에 부착한 후, 상기 두 번째 칩의 볼들이 상기 인쇄회로기판에 정상적으로 부착되었는지를 검사하기 위한 방법에 있어서,

상기 두 번째 칩의 검사대상 볼과 연결된 상기 인쇄회로기판의 결선구성으로 리드핀을 삽입한 다음 상기 리드핀을 통하여 전류를 흘리는 단계;

상기 검사대상 볼에 대해 상기 리드핀과 접지 사이의 전위차를 측정하는 단계;

상기 검사대상 볼과 상기 첫 번째 칩의 볼들과의 결선관계를 확인하는 단계;

결선관계가 없는 경우, 상기 측정된 전위차가 기준범위 내에 드는지를 확인하여, 상기 범위 내에 들면 상기 검사대상 볼이 상기 인쇄회로기판에 부착된 것으로 판별하는 단계; 및

결선관계가 있는 경우, 상기 측정된 전위차가 상기 결선이 없는 경우에 설정된 상기 기준범위보다 낮으면 상기 검사대상 볼이 인쇄회로기판에 부착된 것으로 판별하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 구격자배열 타입 칩의 인쇄회로기판 부착여부 검사방법

지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.