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병렬순환잉여검사에의한데이터스트림의오류검출및수정장치

  • 기술번호 : KST2015093729
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명의 목적은 수신되는 데이터를 16 비트 병렬로 처리함으로써 회로의 동작속도를 전송속도의 1/16로 감소시켜 구성할 수 있어 일반적인 반도체 소자로도 병렬 체크섬 디코더 장치를 구현할 수 있도록 하는 병렬 순환 잉여 검사에 의한 데이터 스트림의 오류 검출 및 수정을 위한 장치를 제공함에 있다. 이와같은 본 발명의 목적을 달성하기 위한 수단은 병렬 순환 잉여 검사에 의한 데이터 스트림의 오류 검출 및 수정장치는 하위 계층으로부터 입력선를 거쳐 16 비트 병렬 데이터를 수신하여 20바이트까지 저장하는 제 1 저장회로와, 하위 계층으로부터 입력선를 거쳐 16 비트 병렬로 데이터를 논리 연산하는 신드롬 발생기와, 상기 신드롬 발생기로부터의 출력 데이터를 16 비트 병렬로 수신하여 20 바이트까지 저장하는 제 2 저장회로와, 상기 제 2 저장회로의 출력 데이터을 16 비트씩 수신하여 순차적으로 오류를 검증하는 오류 패턴 발생기와, 신드롬 주기 동안에 가정된 헤더에 대해 구해진 신드롬이 "0"이면 오류가 없음을 오류 없음 신호 출력선를 거쳐 알리는 오류없음 신호 발생기와, 상기 오류 패턴 발생기의 출력 데이터와 상기 저장회로의 출력 데이터를 논리 연산하여 수정된 데이터를 출력선를 거쳐 출력하는 조합회로와, 상기 오류 패턴 발생기의 출력 데이터에 의해 비트 오류신호를 발생하여 단일 비트 오류 신호 출력선를 거쳐 출력하는 단일비트 오류 신호 발생기를 포함하여 구성된다.
Int. CL H04L 1/24 (2006.01)
CPC H04L 1/004(2013.01) H04L 1/004(2013.01)
출원번호/일자 1019970071615 (1997.12.22)
출원인 한국전자통신연구원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-1999-0052166 (1999.07.05) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 거절
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (1997.12.22)
심사청구항수 2

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 전영애 대한민국 대전광역시 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 이화익 대한민국 서울시 강남구 테헤란로*길** (역삼동,청원빌딩) *층,***,***호(영인국제특허법률사무소)
2 김명섭 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로**길 *, 테헤란오피스빌딩 ***호 시몬국제특허법률사무소 (역삼동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 출원심사청구서
Request for Examination		 1997.12.22 수리 (Accepted) 1-1-1997-0223587-72
2 대리인선임신고서
Notification of assignment of agent		 1997.12.22 수리 (Accepted) 1-1-1997-0223586-26
3 특허출원서
Patent Application		 1997.12.22 수리 (Accepted) 1-1-1997-0223585-81
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2000.01.24 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2000-0007650-04
5 의견서
Written Opinion		 2000.03.24 수리 (Accepted) 1-1-2000-5085499-04
6 명세서등보정서
Amendment to Description, etc.		 2000.03.24 보정승인 (Acceptance of amendment) 1-1-2000-5085500-63
7 거절사정서
Decision to Refuse a Patent		 2000.08.26 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2000-0209610-60
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2001.04.19 수리 (Accepted) 4-1-2001-0046046-20
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2002.08.08 수리 (Accepted) 4-1-2002-0065009-76
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2009.08.04 수리 (Accepted) 4-1-2009-5150899-36
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1

병렬 순환 잉여 검사에 의한 데이터 스트림의 오류 검출 및 수정장치는 하위 계층으로부터 입력선를 거쳐 16 비트 병렬 데이터를 수신하여 20바이트까지 저장하는 제 1 저장회로와;

하위 계층으로부터 입력선를 거쳐 16 비트 병렬로 데이터를 논리 연산하는 신드롬 발생기와;

상기 신드롬 발생기로부터의 출력 데이터를 16 비트 병렬로 수신하여 20 바이트까지 저장하는 제 2 저장회로와;

상기 제 2 저장회로의 출력 데이터을 16 비트씩 수신하여 순차적으로 오류를 검증하는 오류 패턴 발생기와;

신드롬 주기 동안에 가정된 헤더에 대해 구해진 신드롬이 "0"이면 오류가 없음을 오류 없음 신호 출력선를 거쳐 알리는 오류없음 신호 발생기와;

상기 오류 패턴 발생기의 출력 데이터와 상기 저장회로의 출력 데이터를 논리 연산하여 수정된 데이터를 출력선를 거쳐 출력하는 조합회로와;

상기 오류 패턴 발생기의 출력 데이터에 의해 비트 오류신호를 발생하여 단일 비트 오류 신호 출력선를 거쳐 출력하는 단일비트 오류 신호 발생기를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 병렬 순환 잉여 검사에 의한 데이터 스트림의 오류검출 및 수정장치

2 2

제 1 항에 있어서,

상기 제 1 저장회로는 10개의 버퍼로 구성되는 것을 특징으로 하는 병렬 순환 잉여 검사에 의한 데이터 스트림의 오류검출 및 수정장치

3 3

제 1 항에 있어서,

싱기 신드롬 발생기는 다수의 배타적 논리합 연산 계이트로 구성되는 것을 특징으로 하는 병렬 순환 잉여 검사에 의한 데이터 스트림의 오류검출 및 수정장치

4 4

제 1 항에 있어서,

상기 제 2 저장회로는 10 개의 버퍼로 구성되는 것을 특징으로 하는 병렬 순환 잉여 검사에 의한 데이터 스트림의 오류검출 및 수정장치

5 5

제 1 항에 있어서,

상기 조합회로는 다수의 배타적 논리합 연산 게이트로 구성되는 것을 특징으로 하는 병렬 순환 잉여 검사에 의한 데이터 스트림의 오류검출 및 수정장치

6 6

제 1 항에 있어서,

상기 단일 비트 오류신호 발생기는 앤드 게이트로 구성되는 것을 특징으로 병렬 순환 잉여 검사에 의한 데이터 스트림의 오류검출 및 수정장치

지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.