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에르븀이 도핑된 실리콘나노점의 형성 방법

  • 기술번호 : KST2015093781
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 이중 타겟 레이저기화방법에 따른 양질의 에르븀도핑 실리콘막의 제조 장치 및 실리콘의 전광효율 및 나노점의 순도를 증대시키도록 한 실리콘나노점의 형성 방법에 관한 것으로, 초고진공을 유지하는 반응챔버 내부에 위치하며 회전하는 실리콘기판, 상기 반응챔버의 외부에 위치하며 펄스드 광빔을 출력하는 펄스드 광소스수단, 상기 반응챔버의 내부에 위치하며 서로 다른 물질의 타겟들이 각각 장착되고 상기 타겟들을 회전시키는 타겟회전수단, 상기 펄스드 광빔을 동일한 세기를 갖는 이등분 광빔으로 분리시키는 광빔분리수단; 상기 이등분 광빔의 세기를 조절하는 광빔세기조절수단, 및 상기 세기가 조절된 이등분 광빔을 편광시킨 후 상기 타겟들에 각각 직진 조사시키는 편광수단을 구비하며, 바람직하게 상기 이등분 광빔에 의해 각각 생성되는 상기 타겟들의 기화생성물들이 상기실리콘기판에 균일하게 오버랩되도록 상기 타겟들은 상기 실리콘기판을 향한다.그리고, 이중 타겟의 레이저기화법으로 에르븀도핑 실리콘박막을 형성한 후, 초공진공하에서 질소반응와 산소 식각반응을 이용하여 실리콘나노점을 형성하므로써 에르븀이 도핑된 발광 실리콘 나노점을 형성한다.레이저기화, 타겟, 에르븀, 실리콘나노점, 빔스플리터, 에르븀타겟, 실리콘타겟, YAG 레이저
Int. CL H01L 21/203 (2006.01)
CPC
출원번호/일자 1020000072320 (2000.12.01)
출원인 한국전자통신연구원
등록번호/일자 10-0384892-0000 (2003.05.09)
공개번호/일자 10-2002-0042956 (2002.06.08) 문서열기
공고번호/일자 (20030522) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2000.12.01)
심사청구항수 11

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 하정숙 대한민국 대전광역시유성구
2 박경완 대한민국 대전광역시유성구
3 박승민 대한민국 서울특별시노원구
4 고영조 대한민국 대전광역시서구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 신성특허법인(유한) 대한민국 서울특별시 송파구 중대로 ***, ID타워 ***호 (가락동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 인텔렉추얼디스커버리 주식회사 서울특별시 강남구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2000.12.01 수리 (Accepted) 1-1-2000-0255438-89
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2001.04.19 수리 (Accepted) 4-1-2001-0046046-20
3 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2002.07.09 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2002.08.08 수리 (Accepted) 4-1-2002-0065009-76
5 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2002.08.13 수리 (Accepted) 9-1-2002-0014515-99
6 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2002.08.16 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2002-0294768-15
7 명세서 등 보정서
Amendment to Description, etc.
2002.10.16 보정승인 (Acceptance of amendment) 1-1-2002-0339561-14
8 의견서
Written Opinion
2002.10.16 수리 (Accepted) 1-1-2002-0339563-05
9 등록결정서
Decision to grant
2003.04.16 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2003-0136350-18
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.08.04 수리 (Accepted) 4-1-2009-5150899-36
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
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번호 청구항
1 1

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3 3

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6 6

레이저기화법을 이용한 실리콘박막의 제조 방법에 있어서,

초고진공을 유지하는 반응챔버내에 실리콘기판을 장착시키는 단계;

상기 실리콘기판에 향하도록 상기 반응챔버내에 에르븀타겟과 실리콘타겟의 이중 타겟을 장착시키는 단계;

상기 이중 타겟에 각각 레이저빔을 조사하여 상기 이중 타겟을 기화시키는 단계; 및

상기 실리콘기판을 가열시킨 후, 상기 이중 타겟의 기화후 생성된 플룸내의 에르븀과 실리콘을 이동시켜 상기 실리콘기판상에 에르븀이 도핑된 실리콘박막을 형성하는 단계

를 포함하여 이루어짐을 특징으로 하는 실리콘박막의 제조 방법

7 7

제 6 항에 있어서,

상기 이중 타겟을 기화시키는 단계에서,

상기 에르븀의 도핑농도를 조절하기 위해 상기 이중 타겟 중 상기 에르븀타겟에 조사되는 상기 레이저빔의 세기를 변화시키는 것을 특징으로 하는 실리콘박막의 제조 방법

8 8

제 6 항에 있어서,

상기 이중 타겟을 기화시키는 단계에서,

상기 실리콘박막의 두께를 조절하기 위해 상기 이중 타겟 중 상기 실리콘타겟에 조사되는 상기 레이저빔의 세기 또는 조사시간 중 어느 하나의 조건을 변화시키는 것을 특징으로 하는 실리콘박막의 제조 방법

9 9

제 6 항에 있어서,

상기 실리콘기판의 가열시, 상기 실리콘기판을 회전시키는 것을 특징으로 하는 실리콘박막의 제조 방법

10 10

제 6 항에 있어서,

상기 이중 타겟을 장착한 후, 상기 이중 타겟을 각각 회전시키는 것을 특징으로 하는 실리콘박막의 제조 방법

11 11

실리콘나노점의 형성 방법에 있어서,

초고진공 조건하에서 펄스형 레이저 기화법에 의해 실리콘기판상에 에르븀이 도핑된 실리콘박막을 형성하는 단계;

상기 실리콘박막의 표면을 질화반응시켜 다수의 도전형 섬들을 형성하는 단계; 및

상기 도전형 섬들 하부의 상기 실리콘박막을 산소를 이용하여 선택적 식각하여 에르븀이 도핑된 실리콘나노점을 형성하는 단계

를 포함하여 이루어짐을 특징으로 하는 실리콘나노점의 형성 방법

12 12

제 11 항에 있어서,

상기 실리콘박막을 형성하는 단계는,

에르븀 타겟과 실리콘타겟의 이중타겟에 레이저빔을 각각 조사하여 기화생성물을 형성하는 단계; 및

상기 실리콘기판을 가열시키면서 회전시켜 상기 기화생성물내의 에르븀과 실리콘을 증착하는 단계

를 포함하는 것을 특징으로 하는 실리콘나노점의 형성 방법

13 13

제 11 항에 있어서,

상기 도전형 섬들을 형성하는 단계는,

상기 실리콘박막을 가열하면서 질소기체를 주입시키는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 실리콘나노점의 형성 방법

14 14

제 11 항에 있어서,

상기 실리콘박막을 식각하는 단계는,

상기 도전형 섬들을 포함하는 실리콘박막을 가열시키면서 고순도의 산소기체를 유입시키는 단계; 및

상기 도전형 섬들을 마스크로 이용하고 상기 유입된 산소기체를 상기 실리콘박막과 반응시키는 단계

를 포함하여 이루어짐을 특징으로 하는 실리콘나노점의 형성 방법

15 15

제 11 항에 있어서,

상기 실리콘나노점 형성후,

상기 실리콘나노점을 덮고 있는 상기 도전형 섬들을 제거하는 단계; 및

상기 실리콘나노점을 포함한 실리콘기판을 열처리하는 단계

를 더 포함하여 이루어짐을 특징으로 하는 실리콘나노점의 형성 방법

16 16

제 15 항에 있어서,

상기 도전형 섬들을 제거하는 단계는,

100eV∼200eV의 에너지를 갖는 CF4+ 이온을 주입시켜 선택적으로 제거하는 것을 특징으로 하는 실리콘나노점의 형성 방법

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