맞춤기술찾기

이전대상기술

T-S-T형스위치네트워크시험방법

  • 기술번호 : KST2015094135
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명의 목적은 이러한 T-S-T 구조의 스위치 네트워크에 있어서 스위치 네트워크의 고장 유무를 간단하고 정확하게 항상 감시하고 시험할 수 있는 방법을 제공하는 데 있다.타임스위치장치(1,2,3)에서 타임슬럿 교환을 거친 후, 스위치 네트워크 링크 인터페이스 회로(TLI)(8)를 통하고, 65.536Mbps(1K 타임슬럿)의 광 링크를 통하여 데이터 링크 인터페이스 장치(CDL)에 입력되고, 공간분할 스위치(SSW)(6)에서 공간분할 스위칭된 후, 역방향으로 다시 해당 타임스위치까지 연결되는 T-S-T 통화로를 정상인가 비정상인가를 시험하는 제1단계, 및 비정상인 경우 비정상인 위치를 찾아내어 유지보수를 쉽게 하도록 하는 테스트 패턴을 통화로에 송출하고, 통화로를 거쳐 돌아온 테트스 페턴을 수신하고 비교하여, 그 시험 결과를 유지보수 프로세서에 보고하는 제2단계를 구비하고 있는 것을 특징으로 한다.
Int. CL H04Q 1/20 (2006.01) H04Q 11/06 (2006.01)
CPC H04Q 11/06(2013.01) H04Q 11/06(2013.01) H04Q 11/06(2013.01) H04Q 11/06(2013.01)
출원번호/일자 1019910026067 (1991.12.30)
출원인 한국전자통신연구원, 주식회사 케이티
등록번호/일자 10-0079610-0000 (1994.11.23)
공개번호/일자 10-1993-0015939 (1993.07.24) 문서열기
공고번호/일자 1019940006751 (19940727) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (1991.12.30)
심사청구항수 10

출원인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 출원인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구
2 주식회사 케이티 대한민국 경기도 성남시 분당구

발명자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 발명자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 오돈성 대한민국 대전직할시중구
2 신동진 대한민국 서울특별시도봉구
3 이충근 대한민국 대전직할시유성구
4 이상천 대한민국 충청북도청주시사

대리인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 대리인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 신성특허법인(유한) 대한민국 서울특별시 송파구 중대로 ***, ID타워 ***호 (가락동)

최종권리자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 최종권리자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 재단법인한국전자통신연구소 대한민국 대전직할시유성구
2 한국전기통신공사 대한민국 서울시종로구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 대리인선임신고서
Notification of assignment of agent
1991.12.30 수리 (Accepted) 1-1-1991-0141258-47
2 특허출원서
Patent Application
1991.12.30 수리 (Accepted) 1-1-1991-0141256-56
3 출원심사청구서
Request for Examination
1991.12.30 수리 (Accepted) 1-1-1991-0141257-02
4 출원공고결정서
Written decision on publication of examined application
1994.06.30 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-1991-0067869-02
5 등록사정서
Decision to grant
1994.10.07 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-1991-0067870-48
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
1999.01.20 수리 (Accepted) 4-1-1999-0010652-29
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2000.01.14 수리 (Accepted) 4-1-2000-0005008-66
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2001.04.19 수리 (Accepted) 4-1-2001-0046046-20
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2002.04.09 수리 (Accepted) 4-1-2002-0032774-13
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2002.08.08 수리 (Accepted) 4-1-2002-0065009-76
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.03.13 수리 (Accepted) 4-1-2009-5047686-24
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.08.04 수리 (Accepted) 4-1-2009-5150899-36
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2010.04.19 수리 (Accepted) 4-1-2010-5068437-23
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.01.10 수리 (Accepted) 4-1-2012-5005621-98
15 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.03.21 수리 (Accepted) 4-1-2012-5058926-38
16 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.06.08 수리 (Accepted) 4-1-2012-5122434-12
17 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.07.31 수리 (Accepted) 4-1-2013-5106568-91
18 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.02.11 수리 (Accepted) 4-1-2014-5018159-78
19 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1

양방향 1K 타임슬럿에 대한 양방향 타임슬럿 교환 기능을 갓고 있는 타임슬럿 교환회로(TSI)(7), 타임스위치 장치(TSL)내의 각 유니트 상태 및 통화로 상태를 시험하고 소프트웨어에 의한 타임스위치 장치의 이중화 상태제어 기능을 갖고있는 시험·및 유지보수 회로(CMM)(9)를 포함하고 있으며, 타임스위치 프로세서(TSP)의 제어를 받아 최대 8K의 입력을 받아들여 1K의 출력으로 내보내는 타임스위칭, 코드 변환기능 및 중계선 유휴코드 제공기능을 갖는 타임스위치 장치(TSL0-TSLn)(1,2,3), TSL(1,2,3)과 SSW(6)를 연결하여 통화로를 제공하고, 망동기장치로부터 65

2 2

상기 제1항에 있어서 상기 타임스위치 프로세서와 공간스위치 프로세서의 초기화가 이루어지고(11), 상기 공간스위치 프로세서에 의해 상기 SSW 초기화 단계(13)로 들어가서 상기 SSW 제어메모리 초기화에서 각 타임스위치장치와 연결되는 각 1K 타임슬럿의 하이웨이 중에서 특정 타임슬럿은 루프백 시험이 가능하도록 각각 동일 타임스위치장치로 통화로를 연결하도록, 상기 SSW 제어메모리 데이터를 초기화하는 제3단계를 더 포함하고 있는 것을 특징으로 하는 스위치 네트워크의 시험방법

3 3

상기 제1항에 있어서, 온라인 상에서 각 타임스위치 프로세서는 해당 타임스위치장치의 자체 경로시험을 행하는 단계(14)로 들어가, 자체 경로 시험 단계에서 해당 타임스위치장치가 정상이면 TSL-SSW 루프백 시험 단계로 가고, 해당 타임스위치장치가 비정상이면 해당 타임스위치프로세서는 해당 타임스위치창치의 이상 발생을 유지보수 프로세서에 보고하고 일정시간후에 단계(14)로 돌아가, TSL-SSW간 루프백 단계에서 루프백 시험을 위한 테스트 패턴 송출 단계(16)에서 해당 타임스위치프로세서가 상기 시험 및 유지보수회로를 통하여 임의의 패턴을 발생시키고, 또한 TSL의 제어 메모리에 해당 패턴이 SSW에 의해 설정된 통화로를 통하여 송출될 수 있도록 경로를 설정하여 송출한 후, 미리 설징된 SSW의 루프백 통화로를거쳐 들어오는 시험 데이터를 타임스위치 프로세서가 TSL의 시험 및 유지보수회로를 통해서 수신하고, 타임스위치프로세서가 송출한 테스트 데이터와 수신한 테스트 데이터를 비교하여 정상인 경우 일정시간 후에 루프백 시험을 계속하게 되고, 송출한 테스트 데이터와 수신한 데이터가 상이한 경우, TSL-SSW간 통화로가 비정상이라는 것을 상위프로세서에 보고하고, 일정시간후에 단계(14)로 돌아가 통화로 시험을 계속하는 주기적인 통화로 시험단계를 더 포함하고 있는 것을 특징으로 하는 스위치 네트워크의 시험방법

지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.