맞춤기술찾기

이전대상기술

선택적 컬렉터 박막 성장을 이용한 초자기정렬 바이폴러 트랜지스터의 제조방법

  • 기술번호 : KST2015094305
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 선택적 컬렉터 박막 성장을 이용한 초자기정렬 바이폴러 트랜지스터와 그 제조방법에 관한 것으로서, 그 특징은 전도성 매몰 컬렉터(2)가 형성된 반도체 기판(1)에 제1산화막(3), 베이스 전극 박막(4) 및 제2산화막(5)을 순차적으로 형성하는 제1과정과, 활성영역을 정의하여 패터닝하고, 측벽에 측면 절연막을 형성시키는 제2과정과, 상기 활성영역에 컬렉터용 전도체 반도체 박막(8)을 선택적으로 형성하는 제3과정과, Si(9)/도핑않된 SiGe(10)/도핑된 SiGe(11)/Si(12)의 다층으로 이루어진 베이스층 및 실리사이드 박막(13)을 형성하는 제4과정과, 상기 베이스 영역을 패터닝하고, 제3산화막(14)을 증착시키는 제6과정과, 에미터 영역을 정의하여 측벽에 제2스페이서용 측벽 절연막(15)을 형성하는 제7과정과, 선택적으로 에미터 박막(16)을 성장시키고, 그 위에 에미터 전극용 다결정 규소박막(17)을 증착하여 패터닝하는 제8과정과, 패시베이션 절연막(18)을 증착후 금속 접촉창을 형성하여 전극을 형성하는 제9과정을 포함하여 이루어짐을 특징으로 한다.
Int. CL H01L 29/70 (2006.01)
CPC
출원번호/일자 1019950052694 (1995.12.20)
출원인 한국전자통신연구원, 주식회사 케이티
등록번호/일자 10-0275544-0000 (2000.09.21)
공개번호/일자 10-1997-0054345 (1997.07.31) 문서열기
공고번호/일자 (20010115) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (1995.12.20)
심사청구항수 1

출원인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 출원인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구
2 주식회사 케이티 대한민국 경기도 성남시 분당구

발명자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 발명자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 염병렬 대한민국 대전광역시 유성구
2 조덕호 대한민국 대전광역시 유성구
3 한태현 대한민국 대전광역시 유성구
4 이수민 대한민국 대전광역시 유성구
5 편광의 대한민국 대전광역시 유성구

대리인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 대리인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 이화익 대한민국 서울시 강남구 테헤란로*길** (역삼동,청원빌딩) *층,***,***호(영인국제특허법률사무소)
2 김명섭 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로**길 *, 테헤란오피스빌딩 ***호 시몬국제특허법률사무소 (역삼동)

최종권리자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 최종권리자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 주식회사 케이티 대한민국 경기도 성남시 분당구
2 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 출원심사청구서
Request for Examination
1995.12.20 수리 (Accepted) 1-1-1995-0203948-13
2 특허출원서
Patent Application
1995.12.20 수리 (Accepted) 1-1-1995-0203946-22
3 대리인선임신고서
Notification of assignment of agent
1995.12.20 수리 (Accepted) 1-1-1995-0203947-78
4 출원인정보변경 (경정)신고서
Notification of change of applicant's information
1997.05.07 수리 (Accepted) 1-1-1995-0203949-69
5 대리인선임신고서
Notification of assignment of agent
1997.08.25 수리 (Accepted) 1-1-1995-0203950-16
6 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
1998.09.30 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-1995-0107572-13
7 지정기간연장신청서
Request for Extension of Designated Period
1998.11.30 수리 (Accepted) 1-1-1995-0756814-29
8 의견서
Written Opinion
1998.12.24 수리 (Accepted) 1-1-1995-0759657-72
9 명세서등보정서
Amendment to Description, etc.
1998.12.24 보정승인 (Acceptance of amendment) 1-1-1995-0759656-26
10 대리인사임신고서
Notification of resignation of agent
1998.12.24 수리 (Accepted) 1-1-1995-0759658-17
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
1999.01.20 수리 (Accepted) 4-1-1999-0010652-29
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2000.01.14 수리 (Accepted) 4-1-2000-0005008-66
13 등록사정서
Decision to grant
2000.06.29 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2000-0154767-40
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2001.04.19 수리 (Accepted) 4-1-2001-0046046-20
15 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2002.04.09 수리 (Accepted) 4-1-2002-0032774-13
16 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2002.08.08 수리 (Accepted) 4-1-2002-0065009-76
17 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.03.13 수리 (Accepted) 4-1-2009-5047686-24
18 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.08.04 수리 (Accepted) 4-1-2009-5150899-36
19 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2010.04.19 수리 (Accepted) 4-1-2010-5068437-23
20 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.01.10 수리 (Accepted) 4-1-2012-5005621-98
21 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.03.21 수리 (Accepted) 4-1-2012-5058926-38
22 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.06.08 수리 (Accepted) 4-1-2012-5122434-12
23 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.07.31 수리 (Accepted) 4-1-2013-5106568-91
24 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.02.11 수리 (Accepted) 4-1-2014-5018159-78
25 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1

바이폴러 트랜지스터의 제조방법에 있어서, 전도성 매몰 컬렉터(2)가 형성된 반도체 기판(1)에 제1산화막(3), 베이스 전극용 전도성 반도체 박막(4) 및 제2산화막(5)을 순차적으로 형성하는 제1과정과; 활성영역을 정의하여 상기 제2산화막(5)과 베이스 전극용 반도체 박막(4)을 패터닝하고, 그 제2산화막(5) 및 베이스전극용 반도체 박막(4)의 노출된 측벽에 제1스페이서용 측면 절연막을 형성시키는 제2과정과; 상기 활성영역의 노출된 제1산화막(3)을 제거하고 그 활성영역에 컬렉터용 전도체 반도체 박막(8)을 상기 베이스 전극용 반도체 박막(4)과 같은 높이로 선택적으로 형성하는 제3과정과; 상기 제3과정의 결과물의 상면에 있는 제2산화막(5)을 제거하고, 그 결과물 전면 위에 Si(9)/도핑않된 SiGe(10)/도핑된 SiGe(11)/Si(12)의 다층으로 이루어진 베이스층 및 실리사이드 박막(13)을 형성하는 제4과정과; 베이스 영역을 정의하여 상기 실리사이드 박막(13) 및 베이스층을 패터닝하고, 제3산화막(14)을 증착시키는 제6과정과; 에미터 영역을 정의하는 마스크로 상기 제3산화막(14)과 상기 실리사이드 박막(13)을 식각하여 상기 베이스층을 노출시키고 식각된 측벽에 제2스페이서용 측벽 절연막(15)을 형성하는 제7과정과; 상기 에미터 영역에 선택적으로 에미터 박막(16)을 성장시키고, 그 위에 에미터 전극용 다결정 규소박막(17)을 증착하여 에미터 전극을 패터닝하는 제8과정과; 상기 제8과정의 결과물에 패시베이션 절연막(18)을 증착후 금속 접촉창을 형성하여 배선용 금속을 증착 및 패터닝하는 제9과정;을 포함하여 이루어진 것을 특징으로 하는 선택적 컬렉터 박막 성장을 이용한 초자기정렬 바이폴러 트랜지스터의 제조방법

지정국 정보가 없습니다
순번, 패밀리번호, 국가코드, 국가명, 종류의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 패밀리정보 - 패밀리정보 표입니다.
순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 US05962879 US 미국 FAMILY
2 US06190984 US 미국 FAMILY

DOCDB 패밀리 정보

순번, 패밀리번호, 국가코드, 국가명, 종류의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 패밀리정보 - DOCDB 패밀리 정보 표입니다.
순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 DE19650493 DE 독일 DOCDBFAMILY
2 US5962879 US 미국 DOCDBFAMILY
3 US6190984 US 미국 DOCDBFAMILY
국가 R&D 정보가 없습니다.