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3차원 광 메모리를 이용한 데이터 기록 장치, 인증 장치 및 그 방법

  • 기술번호 : KST2015094642
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 3차원 광 메모리를 이용한 데이터 기록 장치, 인증 장치 및 그 방법이 개시된다. 본 발명에 따른 3차원 광 메모리를 이용한 데이터 기록 장치는 기록 여기광을 제1 분해광 및 제2 분해광으로 분해하는 기록 여기광 분해부; 상기 분해광들의 파형 정보, 파장 정보, 위상 정보, 여기광원의 회전 정보, 상기 분해광들을 반사시키는 반사경들의 배치 정보 및 3차원 광 메모리 내 기록좌표를 포함하는 기록 조건을 저장하는 조건 저장부; 및 상기 기록 조건에 상응하여 상기 분해광들을 상기 반사경들을 통하여 3차원 광 메모리에 입사시켜 저장 데이터를 기록하는 데이터 기록부를 포함한다.
Int. CL G11B 7/004 (2006.01)
CPC
출원번호/일자 1020130046466 (2013.04.26)
출원인 한국전자통신연구원
등록번호/일자 10-1403461-0000 (2014.05.28)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20140603) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2013.04.26)
심사청구항수 18

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 박철용 대한민국 대전 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 한양특허법인 대한민국 서울특별시 강남구 논현로**길 **, 한양빌딩 (도곡동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대전광역시 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2013.04.26 수리 (Accepted) 1-1-2013-0368730-83
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2014.01.08 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2014.02.11 수리 (Accepted) 9-1-2014-0011042-05
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2014.02.15 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2014-0110593-77
5 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2014.04.14 수리 (Accepted) 1-1-2014-0353319-14
6 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2014.04.14 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2014-0353320-61
7 등록결정서
Decision to grant
2014.05.20 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2014-0344445-05
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
기록 여기광을 제1 분해광 및 제2 분해광으로 분해하는 기록 여기광 분해부;상기 분해광들의 파형 정보, 파장 정보, 위상 정보, 및 상기 분해광들을 반사시키는 반사경들의 배치 정보를 포함하는 기록 조건을 저장하는 조건 저장부; 및상기 기록 조건에 상응하여 상기 분해광들을 상기 반사경들을 통하여 3차원 광 메모리에 입사시켜 저장 데이터를 복수의 기록 조건들에 상응하여 다중 기록하는 데이터 기록부를 포함하는 것을 특징으로 하는 3차원 광 메모리를 이용한 데이터 기록 장치
2 2
제1항에 있어서,상기 기록 조건은상기 3차원 광 메모리에 입사되는 상기 분해광들의 입사 위치 정보 및 입사 각도 정보를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 3차원 광 메모리를 이용한 데이터 기록 장치
3 3
제2항에 있어서,상기 데이터 기록부는기록 방향을 달리하여 상기 3차원 광 메모리에 병렬처리로 상기 저장 데이터를 기록하는 것을 특징으로 하는 3차원 광 메모리를 이용한 데이터 기록 장치
4 4
삭제
5 5
제3항에 있어서,상기 데이터 기록부는상기 제2 분해광을 3차원 피사체에 의하여 난반사시키고, 렌즈를 통하여 상기 3차원 광 메모리에 입사시키는 것을 특징으로 하는 3차원 광 메모리를 이용한 데이터 기록 장치
6 6
복원 여기광을 제1 분해광 및 제2 분해광으로 분해하는 복원 여기광 분해부;3차원 광 메모리를 이용한 데이터 기록 장치에 의하여 저장된, 상기 분해광들의 파형 정보, 파장 정보, 위상 정보, 여기광원의 회전 정보, 및 상기 제1 분해광을 반사시키는 반사경의 배치 정보를 포함하는 기록 조건에 상응하여, 상기 제1 분해광을 상기 반사경을 통하여 3차원 광 메모리에 입사시켜 저장 데이터를 복원하는 데이터 복원부; 및복원된 상기 저장 데이터 및 기등록된 인증 데이터를 이용하여 인증 절차를 수행하는 인증 수행부를 포함하는 것을 특징으로 하는 3차원 광 메모리를 이용한 인증 장치
7 7
제6항에 있어서,상기 기록 조건은상기 3차원 광 메모리에 입사되는 상기 분해광들의 입사 위치 정보 및 입사 각도 정보를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 3차원 광 메모리를 이용한 인증 장치
8 8
제7항에 있어서,상기 데이터 복원부는복원 방향을 달리하여 상기 3차원 광 메모리에 병렬처리로 상기 저장 데이터를 복원하는 것을 특징으로 하는 3차원 광 메모리를 이용한 인증 장치
9 9
제8항에 있어서,상기 데이터 복원부는상기 3차원 광 메모리를 이용한 데이터 기록 장치에 의하여, 복수의 기록 조건들에 상응하여 다중 기록된 상기 저장 데이터를, 상기 복수의 기록 조건들에 상응하여 복원하는 것을 특징으로 하는 3차원 광 메모리를 이용한 인증 장치
10 10
제9항에 있어서,상기 데이터 복원부는상기 3차원 광 메모리를 이용한 데이터 기록 장치에 의하여, 복수의 기록 조건들에 상응하여 다중 기록된 상기 저장 데이터들, 중 어느 하나 이상을 조합한 조합 데이터를 복원하는 것을 특징으로 하는 3차원 광 메모리를 이용한 인증 장치
11 11
기록 여기광을 제1 분해광 및 제2 분해광으로 분해하는 단계;상기 분해광들의 파형 정보, 파장 정보, 위상 정보, 및 상기 분해광들을 반사시키는 반사경들의 배치 정보를 포함하는 기록 조건을 저장하는 단계; 및상기 기록 조건에 상응하여 상기 분해광들을 상기 반사경들을 통하여 3차원 광 메모리에 입사시켜 저장 데이터를 복수의 기록 조건들에 상응하여 다중 기록하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 3차원 광 메모리를 이용한 데이터 기록 방법
12 12
제11항에 있어서,상기 기록 조건은상기 3차원 광 메모리에 입사되는 상기 분해광들의 입사 위치 정보 및 입사 각도 정보를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 3차원 광 메모리를 이용한 데이터 기록 방법
13 13
제12항에 있어서,상기 저장 데이터를 기록하는 단계는기록 방향을 달리하여 상기 3차원 광 메모리에 병렬처리로 상기 저장 데이터를 기록하는 것을 특징으로 하는 3차원 광 메모리를 이용한 데이터 기록 방법
14 14
삭제
15 15
제13항에 있어서,상기 저장 데이터를 기록하는 단계는상기 제2 분해광을 3차원 피사체에 의하여 난반사시키고, 렌즈를 통하여 상기 3차원 광 메모리에 입사시키는 것을 특징으로 하는 3차원 광 메모리를 이용한 데이터 기록 방법
16 16
복원 여기광을 제1 분해광 및 제2 분해광으로 분해하는 단계;3차원 광 메모리를 이용한 데이터 기록 방법에 의하여 저장된, 상기 분해광들의 파형 정보, 파장 정보, 위상 정보, 및 상기 제1 분해광을 반사시키는 반사경의 배치 정보를 포함하는 기록 조건에 상응하여, 상기 제1 분해광을 상기 반사경을 통하여 3차원 광 메모리에 입사시켜 저장 데이터를 복원하는 단계; 및복원된 상기 저장 데이터 및 기등록된 인증 데이터를 이용하여 인증 절차를 수행하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 3차원 광 메모리를 이용한 인증 방법
17 17
제16항에 있어서,상기 기록 조건은상기 3차원 광 메모리에 입사되는 상기 분해광들의 입사 위치 정보 및 입사 각도 정보를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 3차원 광 메모리를 이용한 인증 방법
18 18
제17항에 있어서,상기 저장 데이터를 복원하는 단계는복원 방향을 달리하여 상기 3차원 광 메모리에 병렬처리로 상기 저장 데이터를 복원하는 것을 특징으로 하는 3차원 광 메모리를 이용한 인증 방법
19 19
제18항에 있어서,상기 저장 데이터를 복원하는 단계는상기 3차원 광 메모리를 이용한 데이터 기록 방법에 의하여, 복수의 기록 조건들에 상응하여 다중 기록된 상기 저장 데이터를, 상기 복수의 기록 조건들에 상응하여 복원하는 것을 특징으로 하는 3차원 광 메모리를 이용한 인증 방법
20 20
제19항에 있어서,상기 저장 데이터를 복원하는 단계는상기 3차원 광 메모리를 이용한 데이터 기록 방법에 의하여, 복수의 기록 조건들에 상응하여 다중 기록된 상기 저장 데이터들, 중 어느 하나 이상을 조합한 조합 데이터를 복원하는 것을 특징으로 하는 3차원 광 메모리를 이용한 인증 방법
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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 EP02797028 EP 유럽특허청(EPO) FAMILY
2 EP02797028 EP 유럽특허청(EPO) FAMILY
3 JP26216045 JP 일본 FAMILY
4 US08964518 US 미국 FAMILY
5 US20140321254 US 미국 FAMILY

DOCDB 패밀리 정보

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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 EP2797028 EP 유럽특허청(EPO) DOCDBFAMILY
2 EP2797028 EP 유럽특허청(EPO) DOCDBFAMILY
3 JP2014216045 JP 일본 DOCDBFAMILY
4 US2014321254 US 미국 DOCDBFAMILY
5 US8964518 US 미국 DOCDBFAMILY
국가 R&D 정보가 없습니다.