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전극 센서 및 그 제조방법

  • 기술번호 : KST2015094654
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명의 일 실시예에 따른 전극 센서 제조방법은 금속 박막을 가지는 기판을 제공하는 것, 상기 기판 상에 레지스트층을 형성하는 것, 상기 리프트오프 레지스트층을 패터닝하여 상기 제1 전극의 일부를 노출시키는 것, 상기 기판 상에 절연층을 형성하는 것, 상기 레지스트층 및 상기 포토레지스트 상의 절연층을 제거하여 상기 절연층 내에 우물을 형성하는 것, 상기 우물 내에 상기 제1 전극과 전기적으로 연결되는 제2 전극을 형성하는 것을 포함할 수 있다. 본 발명의 전극 센서 제조방법에 따르면 제1 전극의 손상이 방지될 수 있다. 또한, 제2 전극으로 인하여 전극의 표면적이 증가되어, 전극의 임피던스가 감소할 수 있다
Int. CL H01L 21/28 (2006.01) G01N 27/30 (2006.01)
CPC
출원번호/일자 1020120147260 (2012.12.17)
출원인 한국전자통신연구원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2014-0012580 (2014.02.03) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보 대한민국  |   1020120078891   |   2012.07.19
법적상태 공개
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 N
심사청구항수 16

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김용희 대한민국 대전 서구
2 정상돈 대한민국 대전 유성구
3 백남섭 대한민국 대전 유성구
4 김국화 대한민국 전북 전주시 덕진구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인 고려 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 *길 ** *층(역삼동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2012.12.17 수리 (Accepted) 1-1-2012-1046781-26
2 [대리인선임]대리인(대표자)에 관한 신고서
[Appointment of Agent] Report on Agent (Representative)
2015.01.16 수리 (Accepted) 1-1-2015-0045359-84
3 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
제1 전극을 가지는 기판을 제공하는 것; 상기 기판 상에 상기 제1 전극을 덮도록 레지스트층을 형성하는 것; 상기 레지스트층을 패터닝하여 상기 제1 전극의 일부를 노출시키는 것;상기 기판 상에 절연층을 형성하는 것; 상기 레지스트층 및 상기 레지스트 상의 상기 절연층을 제거하여, 상기 절연층 내에 우물을 형성하는 것; 그리고상기 우물 내에 상기 제1 전극과 전기적으로 연결되는 제2 전극을 형성하는 것을 포함하는 전극 센서 제조방법
2 2
제 1항에 있어서, 상기 레지스트층을 형성하는 것은상기 기판 상의 리프트오프 레지스트층; 및 상기 리프트오프 레지스트층 상의 포토레지스트층을 형성하는 것 포함하는 전극 센서 제조방법
3 3
제 1항에 있어서, 상기 절연층을 형성하는 것은 상기 노출된 제1 전극 및 상기 레지스트층 상에 절연층을 형성하는 것을 포함하는 전극 센서 제조방법
4 4
제 1항에 있어서, 상기 절연층을 제거하는 것은 현상액 또는 리프트오프 레지스트 제거제에 의하여 수행되는 전극 센서 제조방법
5 5
제 1항에 있어서, 상기 절연층을 형성하는 것은, 상기 레지스트층을 따라 연장된 돌출부를 형성하는 것을 더 포함하는 전극 센서 제조방법
6 6
제 1항에 있어서, 상기 우물을 형성하는 것은 환형의 평면을 가지도록 상기 절연층을 패터닝하는 것을 포함하고, 상기 제2 전극을 형성하는 것은 환형의 평면을 가지도록 상기 우물 내에 나노입자들을 채우는 것을 포함하는 전극 센서 제조방법
7 7
제 1항에 있어서, 상기 우물을 형성하는 것은 원형의 평면을 가지도록 상기 절연층을 패터닝하는 것을 포함하고, 상기 제2 전극을 형성하는 것은 원형의 평면을 가지도록 상기 우물 내에 나노입자들을 채우는 것을 포함하는 전극 센서 제조방법
8 8
기판;상기 기판 상의 박막 형태를 가지는 제1 전극; 상기 제1 전극 상의 우물을 가지는 절연층; 그리고상기 우물 내에 제공되며, 상기 제1 전극과 전기적으로 연결되는 제2 전극을 포함하되, 상기 제2 전극은 환형의 평면을 가지는 전극 센서
9 9
제 8항에 있어서, 상기 제2 전극은 금 나노입자들 또는 백금 나노입자들을 포함하는 전극 센서
10 10
제 8항에 있어서, 상기 절연층은 상기 우물을 따라 연장되는 돌출부를 가지는 전극 센서
11 11
제 8항에 있어서, 상기 우물의 측면은 언더컷 구조를 가지는 전극 센서
12 12
제 8항에 있어서, 상기 제1 전극은 금, 백금, 이리듐, 산화인듐주석 및 전도성 폴리머 중에서 적어도 하나를 포함하고, 상기 기판 및 상기 절연층은 투명한 전극 센서
13 13
기판 상에 배치된 금속 박막; 상기 기판 상에 상기 금속박막을 덮는 절연층; 상기 절연층 내에 제공되어, 상기 금속박막의 일부를 노출시키는 우물; 그리고상기 우물 내에 적층되고, 상기 금속 박막과 전기적으로 연결된 나노입자들을 포함하되; 상기 절연층은 상기 우물을 따라 연장된 돌출부를 가지며, 상기 우물은 언더컷 구조를 가지는 전극 센서
14 14
제 13항에 있어서,상기 절연막의 두께는 상기 우물의 깊이보다 더 큰 전극 센서
15 15
제 13항에 있어서, 상기 우물 바닥의 지름은 상기 우물 중앙의 지름보다 더 큰 전극 센서
16 16
제 13항에 있어서, 상기 우물은 원형 또는 환형의 평면을 가지는 전극 센서
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