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저항의고장율검출시스템및그검출방법

  • 기술번호 : KST2015095278
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 내용 없음
Int. CL G01R 31/02 (2006.01.01)
CPC G01R 31/2836(2013.01) G01R 31/2836(2013.01)
출원번호/일자 1019910024269 (1991.12.24)
출원인 한국전자통신연구원, 주식회사 케이티
등록번호/일자 10-0087215-0000 (1995.07.24)
공개번호/일자 10-1993-0013747 (1993.07.22) 문서열기
공고번호/일자 1019950003600 (19950414) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (1991.12.24)
심사청구항수 3

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구
2 주식회사 케이티 대한민국 경기도 성남시 분당구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김종민 대한민국 대전직할시유성구
2 정철오 대한민국 대전직할시서구
3 신성문 대한민국 대전직할시중구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김영길 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 ***, 대흥빌딩 ***호 (역삼동)
2 김명섭 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로**길 *, 테헤란오피스빌딩 ***호 시몬국제특허법률사무소 (역삼동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 재단법인한국전자통신연구소 대한민국 대전광역시유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 대리인선임신고서
Notification of assignment of agent
1991.12.24 수리 (Accepted) 1-1-1991-0132476-83
2 특허출원서
Patent Application
1991.12.24 수리 (Accepted) 1-1-1991-0132474-92
3 대리인선임신고서
Notification of assignment of agent
1991.12.24 수리 (Accepted) 1-1-1991-0132475-37
4 출원심사청구서
Request for Examination
1991.12.24 수리 (Accepted) 1-1-1991-0132477-28
5 출원공고결정서
Written decision on publication of examined application
1995.03.22 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-1991-0063921-96
6 등록사정서
Decision to grant
1995.07.11 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-1991-0063922-31
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
1999.01.20 수리 (Accepted) 4-1-1999-0010652-29
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2000.01.14 수리 (Accepted) 4-1-2000-0005008-66
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2001.04.19 수리 (Accepted) 4-1-2001-0046046-20
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2002.04.09 수리 (Accepted) 4-1-2002-0032774-13
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2002.08.08 수리 (Accepted) 4-1-2002-0065009-76
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.03.13 수리 (Accepted) 4-1-2009-5047686-24
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.08.04 수리 (Accepted) 4-1-2009-5150899-36
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2010.04.19 수리 (Accepted) 4-1-2010-5068437-23
15 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.01.10 수리 (Accepted) 4-1-2012-5005621-98
16 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.03.21 수리 (Accepted) 4-1-2012-5058926-38
17 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.06.08 수리 (Accepted) 4-1-2012-5122434-12
18 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.07.31 수리 (Accepted) 4-1-2013-5106568-91
19 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.02.11 수리 (Accepted) 4-1-2014-5018159-78
20 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1

입력장치로부터 제공된 소정의 입력데이타를 처리하여 출력하는 입력처리부(30)와, 저항소자의 기본고장율(λb), 온도인자(πT), 전력인자(πS), 환경인자(πE) 및 품질수준(πQ)의 표본화된 인자테이블이 격납되어 있는 인자테이블저장부(40)와, 상기 인자테이블을 참조하여 저항의 예측고장율을 검출하는 검출프로그램과 데이타의 입출력에 따른 기능제어프로그램이 저항되어 있는 롬(10)과, 상기 입력처리부(30)로부터 제공된 데이타 및 상기 검출프로그램의 수행에 따라 발생된 데이타를 저장하는 램(20) 및, (a) 저항의 종류와 상기 인자테이블의 용인들과 대응하는 데이타를 입력하는 스텝과, (b) 상기 종류와 요인의 데이타가 각각 소정 범위에 해당되는가를 판단하는 스텝과, (c) 상기 종류와 요인이 소정 범위에 해당되는 경우에는 상기 인자테이블에서 해당 기본고장율(λb)을 독출하여 상기 램(20)에 저장하고 아닌 경우에는 에러처리하는 스텝과, (d) 상기 입력장치로부터 온도인자(πT), 전력인자(πS), 환경인자(πE) 및 품질수준(πQ)의 데이타를 입력하는 스텝과, (e) 상기 입력된 인자의 수가 설정된 갯수와 일치하는가를 판단하는 스텝과, (f) 상기 인자수가 설정갯수와 일치할때 입력된 상기 온도인가, 전력인자, 환경인자 및 품질수준의 데이타를 각각 상기 인자테이블의 설정데이타의 범위에 해당하는 판단하여 해당시에는 입력데이타를 상기 램(20)에 저장하고, 해당되지 않을 경우에는 에러처리를 하는 스텝 및, (g) 상기 인자요인의 데이타로부터 예측고장율 λP을λPPT×πS×πE×πQ으로 산출하여 출력하는 스텝을 수행하여 상기 입력인자요인에 대한 저항의 예측고장율을 검출하는 고장율 계산부(50)를 포함하는 것을 특징으로 하는 저항의 고장율 검출시스템

2 2

제1항에 있어서, 상기 고장율 계산부(50)의 수행으로 발생되는 에러처리에 상응하는 데이타를 출력부(70)로 제공하는 에러처리부(60)를 부가하는 것을 특징으로 하는 저항의 고장율 검출시스템

3 3

데이타를 저장 및 독출하는 램(20)과, 입력처리부(30)로부터 소정의 데이타를 입력하여, 롬(10)에 격납된 저항의 에측고장율을 검출하는 검출프로그램을 수행하는고장율 계산부(50)와, 저항소자의 기본고장율, 온도인자, 전력인자, 환경인자 및 품질수준의 표본화된 데이타를 수록하는 인자테이블이 격납된 인자테이블저장부(40)를 포함한 저항의 고장율 검출시스템에 있어서,

(a) 저항의 종류와 상기 인자테이블의 용인들과 대응하는 데이타를 입력하는 스텝과, (b) 상기 종류와 요인의 데이타가 각각 소정 범위에 해당되는가를 판단하는 스텝과, (c) 상기 종류와 요인이 소정 범위에 해당되는 경우에는 상기 인자테이블에서 해당 기본고장율(λb)을 독출하여 상기 램(20)에 저장하고 아닌 경우에는 에러처리하는 스텝과, 환경인자(πE) 및 품질수준(πQ)의 데이타를 입력하는 스텝과, (e) 상기 입력된 인자의 수가 설정된 갯수와 일치하는가를 판단하는 스텝과, (f) 상기 인자수가 설정갯수와 일치할때 입력된 상기 온도인가, 전력인자, 환경인자 및 품질수준의 데이타를 각각 상기 인자테이블의 설정데이타의 범위에 해당하는가를 판단하여 해당시에는 입력데이타를 상기 램(20)에 저장하고, 해당되지 않을 경우에는 에러처리를 하는 스텝을 및, (g) 상기 인자요인의 데이타로부터 예측고장율 λP을λPbT×πS×πE×πQ으로 산출하여 출력하는 스텝을 포함하는 것을 특징으로 하는 저항의 고장율 검출시스템

지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.