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SOI기판의제조방법및이를이용한쌍극자트랜지스터의제조방법

  • 기술번호 : KST2015095363
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 SOI(Silicon On Insulator)기판에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 선택적 박막성장법(selective epitaxial growth)과 직접기판접합(direct wafer bonding)을 이용하여 활성영역이 격리된 SOI기판을 제조하는 방법과 이 SOI기판을 이용하여 자기정렬 바이폴라 트랜지스터를 제조하는 방법에 관한 것이다.본 발명의 SOI 기판은 직접본딩(direct bonding)된 접합기판의 전면에 형성된 제2절연층과, 상기 제2절연층 상부에 형성되어 평탄화된 제1절연층과 활성층을 구비하고, 상기 활성층(31)은 제1절연층(23a)에 의해 격리된다.본 발명의 자기정렬 바이폴라 트랜지스터는 소자격리된 SOI기판의 활성층을 매몰 콜렉터로 이용하여 제작된다.
Int. CL H01L 21/328 (2006.01)
CPC H01L 21/76262(2013.01) H01L 21/76262(2013.01) H01L 21/76262(2013.01) H01L 21/76262(2013.01) H01L 21/76262(2013.01) H01L 21/76262(2013.01) H01L 21/76262(2013.01)
출원번호/일자 1019940033903 (1994.12.13)
출원인 한국전자통신연구원, 주식회사 케이티
등록번호/일자 10-0137671-0000 (1998.02.10)
공개번호/일자 10-1996-0026419 (1996.07.22) 문서열기
공고번호/일자 (19980601) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (1994.12.13)
심사청구항수 9

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구
2 주식회사 케이티 대한민국 경기도 성남시 분당구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 염병렬 대한민국 대전직할시유성구
2 한태현 대한민국 대전직할시유성구
3 이수민 대한민국 대전직할시유성구
4 조덕호 대한민국 대전직할시유성구
5 이성현 대한민국 대전직할시유성구
6 530129-******* 대한민국

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김영길 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 ***, 대흥빌딩 ***호 (역삼동)
2 원혜중 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로**길 **, 서울빌딩 *층 (역삼동)
3 이화익 대한민국 서울시 강남구 테헤란로*길** (역삼동,청원빌딩) *층,***,***호(영인국제특허법률사무소)
4 김명섭 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로**길 *, 테헤란오피스빌딩 ***호 시몬국제특허법률사무소 (역삼동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 주식회사 케이티 대한민국 경기도 성남시 분당구
2 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 대리인선임신고서
Notification of assignment of agent
1994.12.13 수리 (Accepted) 1-1-1994-0152519-20
2 출원심사청구서
Request for Examination
1994.12.13 수리 (Accepted) 1-1-1994-0152520-77
3 특허출원서
Patent Application
1994.12.13 수리 (Accepted) 1-1-1994-0152518-85
4 출원인정보변경 (경정)신고서
Notification of change of applicant's information
1997.04.09 수리 (Accepted) 1-1-1994-0152521-12
5 대리인선임신고서
Notification of assignment of agent
1997.08.20 수리 (Accepted) 1-1-1994-0152522-68
6 등록사정서
Decision to grant
1998.01.26 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-1994-0085067-27
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
1999.01.20 수리 (Accepted) 4-1-1999-0010652-29
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2000.01.14 수리 (Accepted) 4-1-2000-0005008-66
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2001.04.19 수리 (Accepted) 4-1-2001-0046046-20
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2002.04.09 수리 (Accepted) 4-1-2002-0032774-13
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2002.08.08 수리 (Accepted) 4-1-2002-0065009-76
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.03.13 수리 (Accepted) 4-1-2009-5047686-24
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.08.04 수리 (Accepted) 4-1-2009-5150899-36
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2010.04.19 수리 (Accepted) 4-1-2010-5068437-23
15 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.01.10 수리 (Accepted) 4-1-2012-5005621-98
16 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.03.21 수리 (Accepted) 4-1-2012-5058926-38
17 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.06.08 수리 (Accepted) 4-1-2012-5122434-12
18 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.07.31 수리 (Accepted) 4-1-2013-5106568-91
19 출원인정보변경(경정)신고서
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2014.02.11 수리 (Accepted) 4-1-2014-5018159-78
20 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
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번호 청구항
1 1

소정두께의 제1절연막(23a)이 형성된 단결정 규소기판(21)의 일부를 개구하고, 노출된 규소기판(21)위에 선택적 에피택셜성장법(Selective Epitaxial Growth)을 이용하여 상기 제1절연막(23a)에 의해 격리된 활성층(31)을 형성하는 공정; 상기 제1절연막(23a)을 연마중지막으로 이용하여 상기 활성층(31)을 평탄화하는 공정;

평탄화된 기판의 전면에 제2절연막(23b)을 증착하고, 증착된 제2절연막(23b)의 전면에 접합기판(27)을 직접접합(direct bonding)시키는 공정; 및

상기 접합기판(27)이 하부층이 될 수 있도록 기판을 뒤집은 후, 상기 활성층(31)이 노출될 수 있도록 최상층이 된 상기 규소기판(21)을 제거하는 공정으로 이루어진 SOI(Silicon On Insulator)기판의 제조방법

2 2

제1항에 있어서,

상기 단결정 규소기판(21)의 개구공정시, 기판(21)의 표면손상을 방지하여 정합성이 우수한 활성층(31)을 형성하기 위하여, 제1절연막(23a)이 다층구조로 이루어진 것을 특징으로 하는 SOI 기판의 제조방법

3 3

제2항에 있어서,

상기 다층구조의 제1절연막(23a)이 약 500Å정도의 두께를 갖는 SiO2층(23-1), 식각속도의 차이를 주기 위해 약 0

4 4

제1항에 있어서,

표면의 균일도 향상을 위하여, 상기 제2절연막(23b)을 증착후, 표면 연마 공정을 부가하는 SOI기판의 제조방법

5 5

직접 본딩(direct bonding)된 접합기판(27)의 전면에 형성된 제2절연층(23b)과, 상기 제2절연층(23b) 상부에 형성되어 평탄화된 제1절연층(23a)과 활성층(31)을 구비하고, 상기 활성층(31)은 제1절연층(23a)에 의해 격리된 SOI 기판을 형성하고 이 SOI 기판의 활성층(31)을 매몰 콜렉터로 이용하여 바이폴라 트랜지스터를 제조하는 방법에 있어서,

(a) 상기 SOI기판의 전면에 산화막(42)을 형성하고, 사진식각 공정을 이용하여 상기 매몰 콜렉터(31)의 일부를 개구하여 활성 영역을 정의하는 공정;

(b) 상기 정의된 활성영역에 선택적으로 성장된 전도성 콜렉터층(44)과 진성 베이스 영역을 정의하기 위한 초박막의 규소산화막(46) 패턴을 형성하는 공정;

(c) 기판의 전면에 전도성 다결정 실리콘과 절연물들을 순차적으로 증착한 후 상기 초박막의 규소산화막(46)의 일부가 노출될 수 있도록 패터닝하여 외성베이스(47), 규소산화막(48) 및 질화막(49) 패턴을 형성하는 공정;

(d) 상기 공정을 통하여 형성된 패턴의 측면에 상기 외성 베이스(47)를 격리하기 위한 제1측벽막(50)을 형성하는 공정;

(e) 상기 초박막의 규소산화막(46) 패턴을 제거한 후, 이 식각부위에 진성 베이스(52)를 선택적으로 성장시키는 공정;

(f) 상기 제1측벽막(50)의 측면에 에미터 영역을 정의하기 위한 제2측벽막(54)을 형성한 후, 전도성 에미터(56)를 형성하는 공정; 및

(g) 각 전극(58)들을 형성하기 위한 금속배선 공정으로 이루어진 것을 특징으로 하는 자기정렬 바이폴라 트랜지스터의 제조방법

6 6

제5항에 있어서,

상기 (a)공정 전에 매몰 콜렉터(31)에 높은 도전성을 부여하기 위하여, 5×1018cm-3이상의 고농도로 불순물을 이온주입하는 공정을 부가한 것을 특징으로 하는 자기정렬 바이폴라 트랜지스터의 제조방법

7 7

제5항에 있어서,

상기 (c)공정의 외성 베이스(47)는 CVD(chemical vapor deposition) 및 MBE(molecular beam epitaxy)중의 어느 하나의 방법에 의해 형성된 다결정규소로 이루어지며, 상기 규소산화막(48)은 열산화 및 증착공정에 의해 형성되는 것을 특징으로 하는 자기정렬 바이폴라 트랜지스터의 제조방법

8 8

제7항에 있어서,

상기 규소산화막(48) 대신에, n-p-n 트랜지스터인 경우 붕소를 포함한 BSG(boron silica glass)를, p-n-p 트랜지스터인 경우 인을 포함한 PSG(phosphorous silica glass)로 이루어진 것을 특징으로 하는 자기정렬 바이폴라 트랜지스터의 제조방법

9 9

제5항에 있어서,

상기 (c)공정의 다결정 실리콘으로 이루어진 단층의 외성 베이스(47) 대신에 배선전극과의 오믹접합을 위해, 다결정 실리콘과 금속성 실리사이드가 적층된 이층막으로 이루어진 것을 특징으로 하는 자기정렬 바이폴라 트랜지스터의 제조방법

지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.