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이종구조갈륨비소반도체장치의소자분리방법

  • 기술번호 : KST2015096119
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 내용 없음
Int. CL H01L 29/80 (2006.01)
CPC H01L 21/76816(2013.01) H01L 21/76816(2013.01) H01L 21/76816(2013.01) H01L 21/76816(2013.01)
출원번호/일자 1019900021806 (1990.12.26)
출원인 한국전자통신연구원
등록번호/일자 10-0076066-0000 (1994.08.08)
공개번호/일자 10-1992-0013671 (1992.07.29) 문서열기
공고번호/일자 1019940004274 (19940519) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (1990.12.26)
심사청구항수 1

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 이정희 대한민국 대전직할시중구
2 박성호 대한민국 대전직할시서구
3 이종람 대한민국 대전직할시서구
4 김진섭 대한민국 대전직할시동구
5 박형무 대한민국 대전직할시서구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김영길 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 ***, 대흥빌딩 ***호 (역삼동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 재단법인한국전자통신연구소 대한민국 대전시유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 출원심사청구서
Request for Examination
1990.12.26 수리 (Accepted) 1-1-1990-0128739-12
2 특허출원서
Patent Application
1990.12.26 수리 (Accepted) 1-1-1990-0128737-10
3 대리인선임신고서
Notification of assignment of agent
1990.12.26 수리 (Accepted) 1-1-1990-0128738-66
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
1993.10.30 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-1990-0065736-57
5 지정기간연장신청서
Request for Extension of Designated Period
1993.11.30 수리 (Accepted) 1-1-1990-0128740-58
6 지정기간연장신청서
Request for Extension of Designated Period
1993.12.16 수리 (Accepted) 1-1-1990-0128741-04
7 명세서등보정서
Amendment to Description, etc.
1994.01.22 수리 (Accepted) 1-1-1990-0128743-95
8 의견서
Written Opinion
1994.01.22 수리 (Accepted) 1-1-1990-0128742-49
9 출원공고결정서
Written decision on publication of examined application
1994.04.25 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-1990-0065737-03
10 등록사정서
Decision to grant
1994.07.27 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-1990-0065738-48
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2001.04.19 수리 (Accepted) 4-1-2001-0046046-20
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2002.08.08 수리 (Accepted) 4-1-2002-0065009-76
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.08.04 수리 (Accepted) 4-1-2009-5150899-36
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1

서로 상이한 구조를 갖는 적어도 두 개 이상의 소자들이 하나의 동일한 기판상에 형성되는 이종 구조의 갈륨 비소 반도체 장치를 제조하기 위해 상기 적어도 두 개 이상의 소자들 상호간을 전기적으로 분리하는 방법에 있어서, 분자선 에피택시(MBE) 방법을 이용하여 반절연성 갈륨 비소 기판(1)의 표면 위에 제1구조의 소자를 형성하기 위한 제1의 에피층(2)을 형성하는 단계와, 상기 제1에피층(2)의 표면 위에 제1의 알루미늄 갈륨 비소층(3b)과 절연성 갈륨 비소층(3c) 및 제2의 알루미늄 갈륨 비소층(3a)을 순차로 증착하여 절연층(3)을 형성하되 상기 제1 및 상기 제2의 알루미늄 갈륨 비소층(3a, 3b)은 소정의 온도에서 동일한 조건으로 형성하고 상기 갈륨 비소층(3c)은 상기 제1 및 상기 제2의 알루미늄 갈륨 비소층(3a, 3b)의 형성온도보다 상대적으로 낮은 온도에서 형성하는 단계와, 상기 절연층(3)의 상면에 제2의 에피층(4)을 성장시킨 후 상기 제2에피층(4)의 표면에 감광막을 도포하고 마스크를 사용하여 상기 제1구조의 소자가 형성될 영역에 감광막 패턴(5)을 형성하는 단계와, 상기 감광막 패턴(5)을 형성하는 단계와, 상기 감광막 패턴(5)을 마스크로서 사용하여 상기 제2의 알루미늄 갈륨 비소층(3a)과 상기 갈륨 비소층(3c) 및 상기 제1의 알루미늄 갈륨 비소층(3b)을 순차로 식각한 후 상기 감광막 패턴(5)을 제거하여 상기 제1구조 및 상기 제2구조의 소자가 각각 형성될 영역에 제1의 에피층(2)과 제2의 에피층(4a)이 드러나게 하는 단계와, 상기 제1의 에피층(2)의 표면과 상기 제2의 에피층(4a)의 표면 위에 금속막을 소정의 두께로 증착한 후 각 소자의 활성영역에 해당하는 영역에만 금속막이 남도록 금속막 패턴(6)을 형성하는 단계와, 기판의 표면에 소정의 두께로 감광막을 도포한 후 마스크를 사용하여 감광막 패턴(5a)을 형성하는 단계와, 상기 감광막 패턴(5a)을 마스크로서 이용하여 기판에 붕소(B) 이온과 프로톤(H+) 이온을 소정의 에너지로 주입하여 기판에 수직방향으로 소자 분리 영역(7)을 형성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 이종 구조 갈륨 비소 반도체 장치의 소자 분리 방법

지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.