요약 | 본 발명은 종래의 알루미늄계 반도체 배선에 비해 비저항 및 전자이주(EM: electromigration) 특성면에서 우수한 구리 배선박막을 화학증착법(CVD: chemical vapor deposition)으로 형성시 발생되는 제반 문제점들을 해결하기 위한 것이다.발명은 구리전구체로서 β-diketonate계 (hfac)CuL 구리화합물에서 리간드 L로써 1-pentene(C5H10)을 사용하여 구리-리간드(Cu-L)를 약하게 결합시킴으로써 증기압을 높여 박막 증착율을 향상시킬 수 있도록 새롭게 합성한 (hfac)Cu(1-pentene) [1,1,1,5,5,5-hexafluoro-2,4-pentanedionato(1-pentene)copper(I): C10H11CuF6O2] 화합물을 사용하였다. 이때 (hfac)Cu(1-pentene)에 1-pentene을 첨가한 혼합용액을 구리 증착반응의 전구체로서 사용함으로써 Cu(I)계 액체 전구체의 열적 안정성 문제를 해결하였다. 이와같이 (hfac)Cu(1-pentene) 또는 (hfac)Cu(1-pentene)+(1-pentene) 혼합용액을 구리원으로써 증발시켜 일정온도, 일정압력으로 유지된 화학증착 반응로에 도입함으로써 열에너지에 의한 구리원-기판간 증착반응에 의해 전도체, 절연체, 반도체 기판상에 벌크치에 가까운 낮은 전기비저항과 <111> 결정배향성을 갖는 고순도의 구리박막을 높은 증착율로 재현성있게 형성할 수 있다. 따라서 본 발명에 의한 구리 화학증착법을 사용하여 물리, 화학적으로 우수한 특성을 가져 반도체 배선공정에 적합한 구리박막을 형성할 수 있다. |
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Int. CL | H01L 21/28 (2006.01) |
CPC | C23C 16/06(2013.01) C23C 16/06(2013.01) C23C 16/06(2013.01) |
출원번호/일자 | 1019970069573 (1997.12.17) |
출원인 | 한국전자통신연구원 |
등록번호/일자 | 10-0249825-0000 (1999.12.28) |
공개번호/일자 | 10-1999-0050454 (1999.07.05) 문서열기 |
공고번호/일자 | (20000315) 문서열기 |
국제출원번호/일자 | |
국제공개번호/일자 | |
우선권정보 | |
법적상태 | 소멸 |
심사진행상태 | 수리 |
심판사항 | |
구분 | |
원출원번호/일자 | |
관련 출원번호 | |
심사청구여부/일자 | Y (1997.12.17) |
심사청구항수 | 8 |