맞춤기술찾기

이전대상기술

실리콘 나노 선과 나노 점을 이용한 발광다이오드의 제조방법

  • 기술번호 : KST2015096595
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 실리콘을 이용한 발광 다이오드(LED)의 제작에 관한 것으로 일반적으로 사용되고 있는 다공성 실리콘(porous silicon)을 이용한 광소자(optical device)의 성능을 훨씬 능가하는 새로운 구조의 실리콘 발광 다이오드(LED)의 제작 기술을 제시한다. 본 발명은 실리콘 기판 위에 수~수십 나노미터 크기의 금속 클러스터(cluster)를 형성하고 이를 반응성 이온 식각 (RIE) 공정에서의 마스크(mask)로 사용하여 수~수십 나노 미터 지름의 실리콘 선(wire)들을 기판과 수직하게 형성시키거나 금속 클러스터를 실리콘 성장의 촉매로 이용하는 VLS(Vapor-Liquid-Solid) 공정으로 실리콘 나노 선(whisker type)을 형성시킨 뒤, 수 나노 미터의 실리콘 클러스터(cluster)를 그 사이에 흡착하고 산화를 이용하여 표면 불활성화(passivation) 처리하는 공정방법을 사용하여 양자 구속효과(quantum confinement)에 의한 가시광선 영역의 발광 다이오드를 제작할 수 있다. 이와 같은 구조는 일반적으로 다공성 실리콘이 가지는 기계적인 약점이나 낮은 열(thermal) 및 전기 전도도(electrical conductivity)에 기인하는 광 소자의 약점을 없앨 수 있는 특성을 가지고 있어서 고성능의 실리콘 발광 다이오드를 제작할 수 있다. 금속 클러스터마스크, 반응성 이온 식각, 실리콘 나노 선
Int. CL H01L 33/00 (2014.01)
CPC H01L 33/005(2013.01) H01L 33/005(2013.01)
출원번호/일자 1019990024567 (1999.06.28)
출원인 한국전자통신연구원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2001-0003987 (2001.01.15) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 취하
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 N
심사청구항수 8

출원인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 출원인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 발명자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 박강호 대한민국 대전광역시유성구
2 하정숙 대한민국 대전광역시유성구

대리인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 대리인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 신성특허법인(유한) 대한민국 서울특별시 송파구 중대로 ***, ID타워 ***호 (가락동)

최종권리자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 최종권리자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
최종권리자 정보가 없습니다
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 출원서
Patent Application
1999.06.28 수리 (Accepted) 1-1-1999-0068464-97
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2001.04.19 수리 (Accepted) 4-1-2001-0046046-20
3 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2002.08.08 수리 (Accepted) 4-1-2002-0065009-76
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.08.04 수리 (Accepted) 4-1-2009-5150899-36
5 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1

실리콘 나노 선과 나노 점 구조로 이루어진 양자 구속 효과의 가시광선 발광다이오드의 제조방법에 있어서,

그 표면이 불활성화(passivation) 처리된 반도체 기판 상에 패턴화된 금속 나노 클러스터를 형성하는 단계;

상기 패턴화된 금속 나노 클러스터를 마스크로 이용한 건식식각 공정을 통하여 반도체 기판 표면에 일정 길이를 갖는 수직한 기둥(column) 형상의 실리콘 나노 선(wires) 구조를 형성하는 단계;

상기 실리콘 나노 선들과의 사이에 실리콘 나노 클러스터(cluster)를 단층(single layer)으로 형성시키는 단계;

상기 결과물의 표면을 산화 처리하여 상기 흡착된 단층의 실리콘 나노 클러스터의 지름을 감소시킴과 아울러 그 표면의 불활성화로 인한 양자 구속 효과의 가시광선 발광이 가능하도록 산화막을 형성하는 단계;

상기 실리콘 나노 클러스터의 흡착 및 산화 과정을 반복하여 상기 실리콘 나노 선 구조간의 사이에 표면이 불활성화 처리된 실리콘 나노 점(dots)들을 밀집 형성시키는 단계; 및

상기 결과물의 전면과 후면에 각각 전면전극 및 후면전극을 형성시키는 단계를 포함하여 구성됨을 특징으로 하는 실리콘 나노 선과 나노 점을 이용한 발광다이오드의 제조방법

2 2

제1항에 있어서, 상기 금속 나노 클러스터는,

금, 은과 같은 귀금속이나 전이 금속(transition metal)으로 이루어진 것을 특징으로 하는 발광다이오드의 제조방법

3 3

제1항에 있어서,

상기 금속 나노 클러스터의 크기는 수∼수십 ㎚ 정도이며, 그 표면 밀도는 대략 1010∼1012 개/㎠ 정도인 것을 특징으로 하는 발광다이오드의 제조방법

4 4

제1항에 있어서, 상기 수직한 기둥형상의 실리콘 나노 선은,

상기 금속 나노 클러스터를 마스크로 이용한 반응성 이온식각(RIE) 공정을 통하여 형성되는 것을 특징으로 하는 발광다이오드의 제조방법

5 5

제1항에 있어서, 상기 수직한 기둥형상의 실리콘 나노 선은,

VLS(Vapor Liquid Solid) 성장 방식을 이용하여 형성하는 것을 특징으로 하는 발광다이오드의 제조방법

6 6

제1항에 있어서, 상기 실리콘 나노 점들의 형성 단계 후,

이들의 결정성을 향상시킬 수 있도록, 열처리 공정을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 발광다이오드의 제조방법

7 7

제1항에 있어서, 상기 반도체 기판으로 p-형 기판을 사용하여 쇼트키(Schottky)형으로 제작하는 것을 특징으로 하는 발광다이오드의 제조방법

8 8

제1항에 있어서, 상기 반도체 기판은 p-형 기판이고, 상기 전면전극과 실리콘 나노 선/점들과의 사이에 n-형 반도체 박막을 더 형성하여 p-n 접합 구조의 다이오드를 제작하는 것을 특징으로 하는 발광다이오드의 제조방법

지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.