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비반사 장애를 구분하는 광링크 장애 분석 장치 및 방법

기술번호 : KST2015096730
담당센터 : 대전기술혁신센터
전화번호 : 042-610-2279

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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약	본 발명은 광링크 장애 분석 방법으로, OTDR trace의 피크 존재 여부를 판단하는 단계와, 피크가 존재할 경우, 반사 장애 중 하나로 분석하는 단계와, 피크가 존재하지 않을 경우, 비반사 장애 중 하나로 분석하는 단계와, 상기 광링크 장애 분석 결과를 보고하는 단계를 포함한다.
Int. CL	H04B 10/071 (2013.01)
CPC
출원번호/일자	1020140038139 (2014.03.31)
출원인	한국전자통신연구원
등록번호/일자
공개번호/일자	10-2015-0113730 (2015.10.08) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태	공개
심사진행상태	수리
심판사항
구분	신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자	N
심사청구항수	14

출원인

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번호	이름	국적	주소
1	한국전자통신연구원	대한민국	대전광역시 유성구

발명자

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번호	이름	국적	주소
1	이원경	대한민국	대전광역시 유성구

대리인

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번호	이름	국적	주소
1	특허법인 신지	대한민국	서울특별시 강남구 테헤란로길 , 층 ***호실(역삼동, 청원빌딩)

최종권리자

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번호	이름	국적	주소
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번호	서류명	접수/발송일자	처리상태	접수/발송번호
1	[특허출원]특허출원서 [Patent Application] Patent Application	2014.03.31	수리 (Accepted)	1-1-2014-0310195-08
2	출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information	2015.02.02	수리 (Accepted)	4-1-2015-0006137-44

번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호	청구항
1	1 광 시간 도메인 반사 측정(Optical Time Domain Reflectometry : OTDR) 트레이스(trace)에서의 피크 존재 여부를 판단하는 단계와, 상기 판단 결과 피크가 존재할 경우, 반사 장애 중 하나로 분석하는 단계와, 상기 판단 결과 피크가 존재하지 않을 경우, 비반사 장애 중 하나로 분석하는 단계를 포함함을 특징으로 하는 광링크 장애 분석 방법
2	2 제 1항에 있어서, 상기 반사 장애 중 하나로 분석하는 단계는상기 OTDR trace에 급격한 세기 감소가 있을 경우, 수직 절단에 의한 반사 장애로 진단함을 특징으로 하는 광링크 장애 분석 방법
3	3 제 1항에 있어서, 상기 반사 장애 중 하나로 분석하는 단계는상기 OTDR trace에 급격한 세기 감소가 없을 경우, 커넥터의 세로 부정합에 의한 반사 장애로 판단함을 특징으로 하는 광링크 장애 분석 방법
4	4 제 1항에 있어서, 상기 비반사 장애 중 하나로 분석하는 단계는상기 OTDR trace에서의 급격한 광세기 감소일 경우, 비스듬한 절단에 의한 비반사 장애로 진단하는 단계를 포함함을 특징으로 하는 광링크 장애 분석 방법
5	5 제 4항에 있어서, 상기 비반사 장애 중 하나로 분석하는 단계는상기 OTDR trace에서의 급격한 광세기 감소가 아닐 경우, 손실 그래프에서 임계값이 존재하는지를 판단하는 단계와, 상기 손실 그래프에서 임계값이 존재할 경우, 광섬유 구부림의 의한 비반사 장애로 진단하는 단계를 포함함을 특징으로 하는 광링크 장애 분석 방법
6	6 제 5항에 있어서, 상기 비반사 장애 중 하나로 분석하는 단계는상기 손실 그래프에서 임계값이 존재하지 않을 경우, 커넥터의 측면 부정합에 의한 비반사 장애로 진단하는 단계를 포함함을 특징으로 하는 광링크 장애 분석 방법
7	7 제 1항에 있어서, 상기 비반사 장애 중 하나로 분석하는 단계는광세기 감소 여부를 판단하는 단계와, 상기 광세기가 감소하지 않을 경우, 선형 기울기가 상하로 이동하는지를 판단하는 단계와, 상기 선형 기울기가 상하로 이동할 경우, 온도 변화 이상으로 인한 비반사 장애로 진단하는 단계를 포함함을 특징으로 하는 광링크 장애 분석 방법
8	8 광 시간 도메인 반사 측정(Optical Time Domain Reflectometry : OTDR) 트레이스(trace)에서의 피크 존재 여부를 판단하는 피크 검출부와, 상기 판단 결과 피크가 존재할 경우, 반사 장애 중 하나로 분석하는 반사 장애 검출부와, 상기 판단 결과 피크가 존재하지 않을 경우, 비반사 장애 중 하나로 분석하는 비반사 장애 검출부를 포함함을 특징으로 하는 광링크 장애 분석 장치
9	9 제 8항에 있어서, 상기 반사 장애 검출부는상기 OTDR trace에 급격한 세기 감소가 있을 경우, 수직 절단에 의한 반사 장애로 진단함을 특징으로 하는 광링크 장애 분석 장치
10	10 제 8항에 있어서, 상기 반사 장애 검출부는상기 OTDR trace에 급격한 세기 감소가 없을 경우, 커넥터의 세로 부정합에 의한 반사 장애로 판단함을 특징으로 하는 광링크 장애 분석 장치
11	11 제 8항에 있어서, 상기 비반사 장애 검출부는상기 OTDR trace에서의 급격한 광세기 감소일 경우, 비스듬한 절단에 의한 비반사 장애로 진단함을 특징으로 하는 광링크 장애 분석 장치
12	12 제 11항에 있어서, 상기 비반사 장애 검출부는상기 OTDR trace에서의 급격한 광세기 감소가 아닐 경우, 손실 그래프에서 임계값이 존재하는지를 판단하고, 상기 손실 그래프에서 임계값이 존재할 경우, 광섬유 구부림의 의한 비반사 장애로 진단함을 특징으로 하는 광링크 장애 분석 장치
13	13 제 12항에 있어서, 상기 비반사 장애 검출부는상기 손실 그래프에서 임계값이 존재하지 않을 경우, 커넥터의 측면 부정합에 의한 비반사 장애로 진단함을 특징으로 하는 광링크 장애 분석 장치
14	14 제 8항에 있어서, 상기 비반사 장애 검출부는광세기가 감소하지 않을 경우, 선형 기울기가 상하로 이동하는지를 판단하고, 상기 선형 기울기가 상하로 이동할 경우, 온도 변화 이상으로 인한 비반사 장애로 진단함을 특징으로 하는 광링크 장애 분석 장치

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순번	패밀리번호	국가코드	국가명	종류
1	US20150280813	US	미국	FAMILY

DOCDB 패밀리 정보

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순번	패밀리번호	국가코드	국가명	종류
1	US2015280813	US	미국	DOCDBFAMILY

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순번	연구부처	주관기관	연구사업	연구과제
1	지식경제부	쏠리드	산업원천기술개발사업(네트워크)	실시간 광가입자망 선로 감시(OTDR) 기능 내장형 광 트랜시버 기술 개발

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번호	서류명	접수/발송일자	처리상태	접수/발송번호
1	[특허출원]특허출원서	2014.03.31	수리 (Accepted)	1-1-2014-0310195-08
2	출원인정보변경(경정)신고서	2015.02.02	수리 (Accepted)	4-1-2015-0006137-44

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