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저잡음 이미지 센서

  • 기술번호 : KST2015097710
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 포토다이오드에서 확산 노드 영역으로의 전하 전송 효율을 증대시킴과 동시에 암전류 발생을 효과적으로 억제할 수 있는 CMOS 이미지 센서에 관한 것이다. 본 발명의 이미지 센서는, 확산 노드; 포토다이오드; 상기 확산 노드와 포토다이오드간에 전하 전송 채널을 형성하기 위한 트랜스퍼 트랜지스터; 및 상기 트랜스퍼 트랜지스터의 게이트 전극과 전기적으로 연결되며, 상기 포토다이오드 영역 중 암전류가 발생하는 일부 영역과 절연된 상태로 오버랩되는 암전류 제거 전극을 포함하는 것을 특징으로 한다.CMOS, CIS, 이미지 센서, 웰 커패시티, 트랜스퍼 트랜지스터
Int. CL H01L 31/107 (2006.01) H01L 27/146 (2006.01)
CPC
출원번호/일자 1020070104645 (2007.10.17)
출원인 한국전자통신연구원
등록번호/일자 10-0834547-0000 (2008.05.27)
공개번호/일자 10-2007-0106599 (2007.11.02) 문서열기
공고번호/일자 (20080602) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보 대한민국  |   1020050117419   |   2005.12.05
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자 10-2006-0087439 (2006.09.11)
관련 출원번호 1020060087439
심사청구여부/일자 Y (2007.10.17)
심사청구항수 9

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 민봉기 대한민국 대전 유성구
2 김미진 대한민국 대전 서구
3 송영주 대한민국 대전 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 신영무 대한민국 서울특별시 강남구 영동대로 ***(대치동) KT&G타워 *층(에스앤엘파트너스)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [분할출원]특허출원서
[Divisional Application] Patent Application
2007.10.17 수리 (Accepted) 1-1-2007-0743566-35
2 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2007.12.10 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2007-0668777-15
3 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2008.01.25 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2008-0061860-81
4 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2008.01.25 수리 (Accepted) 1-1-2008-0061846-41
5 등록결정서
Decision to grant
2008.05.26 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2008-0280209-50
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.08.04 수리 (Accepted) 4-1-2009-5150899-36
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
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번호 청구항
1 1
확산 노드;포토다이오드;상기 확산 노드와 포토다이오드 간에 전하 전송 채널을 형성하기 위한 트랜스퍼 트랜지스터; 및상기 트랜스퍼 트랜지스터의 게이트 전극과 전기적으로 연결되며, 상기 포토다이오드 영역 및 그 주변 영역 중 암전류가 발생하는 일부 영역과 절연된 상태로 오버랩되는 암전류 제거 전극을 포함하는 이미지 센서
2 2
제1항에 있어서, 상기 암전류 제거 전극은, 상기 포토다이오드의 가장자리 영역에 형성되는 것을 특징으로 하는 이미지 센서
3 3
제1항에 있어서, 상기 암전류 제거 전극은, STI 주변에 형성되는 것을 특징으로 하는 이미지 센서
4 4
제1항에 있어서, 상기 암전류 제거 전극은, 투명한 전도체 물질로 형성되는 것을 특징으로 하는 이미지 센서
5 5
제1항에 있어서, 상기 트랜스퍼 트랜지스터는,상기 포토다이오드를 구성하는 표면 p타입 영역 및 상기 포토다이오드에서 확산 노드로의 전하 전송 채널 사이에 형성되며, 포토다이오드의 표면 p타입 영역과 다른 도핑 패턴을 가지는 p타입 도핑부;상기 p타입 도핑부 및 상기 전하 전송 채널 상부에 위치하는 게이트 옥사이드; 및상기 게이트 옥사이드 상부에 위치하는 게이트 전극을 포함하는 것을 특징으로 하는 이미지 센서
6 6
제5항에 있어서, 상기 p타입 도핑부는, 상기 표면 p타입 영역을 형성하기 위해 기판에 부여된 p형 도펀트 물질의 경계부에서의 확산에 의해 형성되는 것을 특징으로 하는 이미지 센서
7 7
제5항에 있어서, 상기 게이트 옥사이드는, 상기 포토다이오드에서 확산 노드로의 전하 전송 채널 상부에 위치하는 메인 게이트 옥사이드; 및상기 메인 게이트 옥사이드에 연속되며 상기 포토다이오드의 일부 영역과 오버랩되도록 위치하는 서브 게이트 옥사이드를 포함하며,상기 게이트 전극은, 상기 메인 게이트 옥사이드 상부에 위치하는 메인 게이트 전극; 및상기 메인 게이트 전극에 연속되어 상기 서브 게이트 옥사이드 상부에 위치하는 서브 게이트 전극을 포함하는 것을 특징으로 하는 이미지 센서
8 8
제7항에 있어서, 상기 서브 게이트 옥사이드는, 상기 메인 게이트 옥사이드 보다 얇은 두께를 가지는 것을 특징으로 하는 이미지 센서
9 9
제7항에 있어서, 상기 서브 게이트 전극은, 투명한 전도체 물질로 형성된 것을 특징으로 하는 이미지 센서
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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 EP01958259 EP 유럽특허청(EPO) FAMILY
2 JP21518849 JP 일본 FAMILY
3 KR100834540 KR 대한민국 FAMILY
4 KR100871714 KR 대한민국 FAMILY
5 US20070158710 US 미국 FAMILY
6 WO2007066944 WO 세계지적재산권기구(WIPO) FAMILY

DOCDB 패밀리 정보

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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 EP1958259 EP 유럽특허청(EPO) DOCDBFAMILY
2 EP1958259 EP 유럽특허청(EPO) DOCDBFAMILY
3 JP2009518849 JP 일본 DOCDBFAMILY
4 JP2009518849 JP 일본 DOCDBFAMILY
5 JP2009518849 JP 일본 DOCDBFAMILY
6 KR100834540 KR 대한민국 DOCDBFAMILY
7 KR100871714 KR 대한민국 DOCDBFAMILY
8 KR20070058962 KR 대한민국 DOCDBFAMILY
9 KR20070110817 KR 대한민국 DOCDBFAMILY
10 US2007158710 US 미국 DOCDBFAMILY
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