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근적외선 레이저를 발생하는 레이저 발생부,
상기 근적외선 레이저를 받아 결정의 결정 방위에 따라 아이들러광을 생성하고, 입사된 상기 근적외선 레이저와 상기 아이들러광의 파수 벡터 차에 따른 테라헤르츠파를 생성하는 비선형 광학 결정부, 그리고
상기 비선형 광학 결정부로부터 생성되는 상기 테라헤르츠파를 상기 결정의 외부로 방출하기 위한 방출부
를 포함하는 파라메트릭 테라헤르츠파의 발생 장치
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2
제1항에 있어서,
상기 방출부는
상기 비선형 광학 결정 내부에서 발생한 상기 테라헤르츠파가 내부 전반사를 일으키지 않고 상기 결정의 외부로 방출할 수 있는 굴절률과 각도를 가지는 복수의 프리즘
을 포함하는
파라메트릭 테라헤르츠파의 발생 장치
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3
제2항에 있어서,
상기 복수의 프리즘은 상기 비선형 광학 결정의 표면에 부착되어 있는
파라메트릭 테라헤르츠파의 발생 장치
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4
제2항에 있어서,
상기 파라메트릭 테라헤르츠파의 발생 장치는
상기 레이저 발생부로부터 출력되는 상기 근적외선 레이저와 상기 비선형 광학 결정을 정렬시키는 정렬부
를 더 포함하는
파라메트릭 테라헤르츠파의 발생 장치
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5
제4항에 있어서,
상기 파라메트릭 테라헤르츠 발생 장치는
상기 비선형 광학 결정의 표면에서 외부로 방출된 상기 테라헤르츠파를 검출하고 측정하는 테라헤르츠파 측정부
를 더 포함하는
파라메트릭 테라헤르츠파파의 발생 장치
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6
제5항에 있어서,
상기 파라메트릭 테라헤르츠 발생 장치는
입사하는 상기 근적외선 레이저의 진행 방향에 상기 아이들러광의 유무와 파장을 측정하는 적외선 검출기 및 분광기
를 더 포함하는
파라메트릭 테라헤르츠파의 발생 장치
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7
제5항에 있어서,
상기 테라헤르츠파 측정부는
상기 테라헤르츠파의 유무를 검출하고, 방출 강도를 측정하는 실리콘 볼로미터, 그리고
상기 테라헤르츠파의 주파수를 측정하는 페브리-페롯 간섭계
를 더 포함하는
파라메트릭 테라헤르츠파의 발생 장치
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8
제5항에 있어서,
상기 비선형 광학 결정부는
입사되는 상기 근적외선 레이저와 정렬하며, 입사된 상기 근적외선 레이저를 상기 결정 방위에 따라 상기 아이들러광 및 상기 테라헤르츠파로 나누는 상기 비선형 광학 결정,
상기 비선형 광학 결정을 지지하는 기판, 그리고
상기 기판을 지지하는 지지대
를 포함하는
파라메트릭 테라헤르츠파의 발생 장치
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9
제8항에 있어서,
상기 비선형 광학 결정은 니오븀산 리튬 단결정을 포함하는
파라메트릭 테라헤르츠파의 발생 장치
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10
근적외선 레이저를 생성하는 단계,
생성된 상기 근적외선 레이저를 비선형 광학 결정에 입사시키는 단계,
입사된 상기 근적외선 레이저를 받아 결정의 결정 방위에 따라 분극시켜 아이들러광을 생성하는 단계,
입사된 상기 근적외선 레이저와 상기 아이들러광의 파수 벡터 차에 따라 테라헤르츠파를 생성하는 단계, 그리고
상기 테라헤르츠파를 상기 결정의 외부로 방출하는 단계
를 포함하는 파라메트릭 테라헤르츠파의 생성 방법
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11
제10항에 있어서,
상기 테라헤르츠파를 상기 결정의 외부로 방출하는 단계는
상기 비선형 광학 결정 내부에서 발생한 상기 테라헤르츠파가 내부 전반사를 일으키지 않고 상기 결정의 외부로 방출할 수 있도록 프리즘의 굴절률과 각도를 설정하는 단계, 그리고
상기 프리즘을 상기 비선형 광학 결정 표면에 일렬로 배열하여 부착하는 단계
를 포함하는
파라메트릭 테라헤르츠파의 생성 방법
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12
제11항에 있어서,
상기 비선형 광학 결정은 니오븀산 리튬 단결정을 포함하는
파라메트릭 테라헤르츠파의 생성 방법
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13
제11항에 있어서,
입사한 상기 근적외선 레이저의 진행 방향과 정렬하여 상기 아이들러광의 유무 및 파장을 측정하는 단계
를 더 포함하는
파라메트릭 테라헤르츠파의 생성 방법
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14
제11항에 있어서,
상기 비선형 광학 결정의 표면에서 외부로 방출되는 상기 테라헤르츠파의 유무 및 주파수를 측정하는 단계
를 더 포함하는
파라메트릭 테라헤르츠파의 생성 방법
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15
제11항에 있어서,
상기 프리즘의 각도는 상기 테라헤르츠파의 방출 각도에 따라 결정하는
파라메트릭 테라헤르츠파의 생성 방법
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