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광학계용 비접촉식 렌즈 정점 위치 및 기울기측정장치

  • 기술번호 : KST2015097954
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 1. 청구범위에 기재된 발명이 속한 기술분야광학계용 비접촉식 렌즈 정점 위치 및 기울기 측정장치2. 발명이 해결하려고 하는 기술적 과제단 렌즈의 위치와 기울기 오차를 비접촉식으로 효과적으로 측정하며, 상기 오차를 보상할 수 있는 수단을 제공하고자 함.3. 발명의 해결 방법의 요지장치 하부에 배치되어 빛을 방출하는 광원; 상기 광원의 빛을 집속시켜 광학계 상부에 정렬된 단렌즈 표면에 결상시키는 대물렌즈; 상기 대물렌즈와 상기 광원 사이에 배치되며, 두개의 프리즘으로 구성되어, 반사된 상기 단렌즈 표면의 상기 결상을 단렌즈의 광축과 직각 방향으로 전환시켜 조사하는 광속분할기; 상기 광속분할기로부터 조사된 광 결상의 광량 및 위치를 측정하는 검지부; 상기 구성품을 소정 위치에 지지 고정하는 가대; 및 상기 가대에 연결되어 그의 상하 변위를 측정하는 거리 측정부를 포함하여 이루어진 광학계용 렌즈 정점 위치 및 기울기 측정장치를 제공한다.4. 발명의 중요한 용도상기와 같이 구성된 본 발명은 다수의 렌즈로 구성된 정밀 광학계의 조립에 용이하게 적용될 수 있으며, 구성 렌즈와 접촉 없이도 상기 렌즈들의 정점 위치 및 기울기를 효율적으로 측정할 수가 있다.
Int. CL G02B 27/10 (2006.01)
CPC G01M 11/0221(2013.01) G01M 11/0221(2013.01)
출원번호/일자 1019960069278 (1996.12.20)
출원인 한국전자통신연구원
등록번호/일자 10-0211068-0000 (1999.04.29)
공개번호/일자 10-1998-0050455 (1998.09.15) 문서열기
공고번호/일자 (19990715) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (1996.12.20)
심사청구항수 3

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 이각현 대한민국 대전광역시 유성구
2 김도훈 대한민국 대전광역시 유성구
3 정해빈 대한민국 대전광역시 유성구
4 유형준 대한민국 대전광역시 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 신성특허법인(유한) 대한민국 서울특별시 송파구 중대로 ***, ID타워 ***호 (가락동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 출원심사청구서
Request for Examination
1996.12.20 수리 (Accepted) 1-1-1996-0229580-58
2 대리인선임신고서
Notification of assignment of agent
1996.12.20 수리 (Accepted) 1-1-1996-0229579-12
3 특허출원서
Patent Application
1996.12.20 수리 (Accepted) 1-1-1996-0229578-66
4 출원인정보변경 (경정)신고서
Notification of change of applicant's information
1997.04.04 수리 (Accepted) 1-1-1996-0229581-04
5 등록사정서
Decision to grant
1999.02.27 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-1999-0073130-17
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2001.04.19 수리 (Accepted) 4-1-2001-0046046-20
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2002.08.08 수리 (Accepted) 4-1-2002-0065009-76
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.08.04 수리 (Accepted) 4-1-2009-5150899-36
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
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번호 청구항
1 1

장치 하부에 배치되어 광원측 슬롯을 통해 빛을 방출하는 광원;

상기 광원의 빛을 집속시켜 광학계 상부에 정렬된 단렌즈 표면에 결상시키는 대물렌즈;

두개의 프리즘으로 구성되어 상기 대물렌즈와 상기 광원 사이에 배치되며, 반사되어 되돌아온 상기 단렌즈 표면의 상기 결상을 단렌즈의 광축과 직각 방향으로 전환시켜 조사하는 광속분할수단;

상기 광속분할기로부터 감도 조절용 슬롯를 통해 조사되어 맺혀진 광 결상의 광량과 위치를 측정하는 검지수단;

상기 대물렌즈, 광속분할기, 및 광원을 소정 위치에 지지 고정하며, 상하 이동 가능하게 배치된 가대; 및

상기 가대에 연결되어 그의 변위를 측정하는 거리 측정수단;

을 포함하여 이루어진 광학계용 렌즈 정점 위치 및 기울기 측정장치

2 2

제1항에 있어서, 상기 검지수단는, 검지된 광량을 각각 상호 비교하여 렌즈의 기울기 방향 및 크기를 판정하기 위하여, 사분면 상에 배치되어 각각이 광량을 검지하는 네개의 광량 검지부분으로 구성된 것을 특징으로 하는 광학계용 렌즈 정점 위치 및 기울기 측정장치

3 3

제1항에 있어서, 상기 거리측정수단는 리니어 스케일식 거리 측정기 또는 레이저 간섭계식 거리 측정기를 포함한 것을 특징으로 하는 광학계용 렌즈 정점 위치 및 기울기 측정장치

지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.