요약 | 1. 청구범위에 기재된 발명이 속한 기술분야광학계용 비접촉식 렌즈 정점 위치 및 기울기 측정장치2. 발명이 해결하려고 하는 기술적 과제단 렌즈의 위치와 기울기 오차를 비접촉식으로 효과적으로 측정하며, 상기 오차를 보상할 수 있는 수단을 제공하고자 함.3. 발명의 해결 방법의 요지장치 하부에 배치되어 빛을 방출하는 광원; 상기 광원의 빛을 집속시켜 광학계 상부에 정렬된 단렌즈 표면에 결상시키는 대물렌즈; 상기 대물렌즈와 상기 광원 사이에 배치되며, 두개의 프리즘으로 구성되어, 반사된 상기 단렌즈 표면의 상기 결상을 단렌즈의 광축과 직각 방향으로 전환시켜 조사하는 광속분할기; 상기 광속분할기로부터 조사된 광 결상의 광량 및 위치를 측정하는 검지부; 상기 구성품을 소정 위치에 지지 고정하는 가대; 및 상기 가대에 연결되어 그의 상하 변위를 측정하는 거리 측정부를 포함하여 이루어진 광학계용 렌즈 정점 위치 및 기울기 측정장치를 제공한다.4. 발명의 중요한 용도상기와 같이 구성된 본 발명은 다수의 렌즈로 구성된 정밀 광학계의 조립에 용이하게 적용될 수 있으며, 구성 렌즈와 접촉 없이도 상기 렌즈들의 정점 위치 및 기울기를 효율적으로 측정할 수가 있다. |
---|---|
Int. CL | G02B 27/10 (2006.01) |
CPC | G01M 11/0221(2013.01) G01M 11/0221(2013.01) |
출원번호/일자 | 1019960069278 (1996.12.20) |
출원인 | 한국전자통신연구원 |
등록번호/일자 | 10-0211068-0000 (1999.04.29) |
공개번호/일자 | 10-1998-0050455 (1998.09.15) 문서열기 |
공고번호/일자 | (19990715) 문서열기 |
국제출원번호/일자 | |
국제공개번호/일자 | |
우선권정보 | |
법적상태 | 소멸 |
심사진행상태 | 수리 |
심판사항 | |
구분 | |
원출원번호/일자 | |
관련 출원번호 | |
심사청구여부/일자 | Y (1996.12.20) |
심사청구항수 | 3 |