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전전자교환기가입자회로모듈시험장치및방법

  • 기술번호 : KST2015098001
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 전전자 교환기의 애널로그 가입자 정합회로 모듈을 시험하기 위한 장치 및 방법에 관한 것으로, 가입자 정합회로 모듈에 요구되는 모든 기능을 효과적으로 검사고 필요시 고장 상태를 추적하기 위하여, 데이타를 디코딩하는 디코딩 수단(21); 외부와 병렬 데이타를 입출력하는 병렬 데이타 수단(22); 카운팅 신호와 칩선택 신호를 출력하는 카운팅 수단 및 칩선택 수단(23); 데아타를 직렬/병렬 또는 병렬/직렬로 변환하는 변환 수단(24); 클럭을 공급하는 클럭 발생 수단(25)을 구비하는 장치와, 상기 장치에 적용되는 방법에 있어서, 초기화를 수행하는 제1단계(31); 직렬 데이타를 출력한후에 데이타 요구신호(DREQ)를 수신하여 다음 데이타를 래치하는 과정을 시험이 끝날때까지 반복하는 제2단계(32 내지 35)를 포함하여 구성이 간단하고 시험이 용이하며 다양하게 응용하기 위한 높은 호환성을 가지는 효과가 있다.
Int. CL H04Q 1/20 (2006.01)
CPC H04Q 1/20(2013.01) H04Q 1/20(2013.01) H04Q 1/20(2013.01)
출원번호/일자 1019940032478 (1994.12.01)
출원인 한국전자통신연구원, 주식회사 케이티
등록번호/일자 10-0136503-0000 (1998.01.23)
공개번호/일자 10-1996-0028604 (1996.07.22) 문서열기
공고번호/일자 (19980701) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (1994.12.01)
심사청구항수 2

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구
2 주식회사 케이티 대한민국 경기도 성남시 분당구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 남흥순 대한민국 대전직할시유성구
2 김진태 대한민국 대전직할시
3 지용 대한민국 서울시양천구
4 이용운 대한민국 서울시송파구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 신성특허법인(유한) 대한민국 서울특별시 송파구 중대로 ***, ID타워 ***호 (가락동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 주식회사 케이티 대한민국 경기도 성남시 분당구
2 한국전자통신연구원 대한민국 대전시유성구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 대리인선임신고서
Notification of assignment of agent		 1994.12.01 수리 (Accepted) 1-1-1994-0146194-99
2 특허출원서
Patent Application		 1994.12.01 수리 (Accepted) 1-1-1994-0146193-43
3 출원심사청구서
Request for Examination		 1994.12.01 수리 (Accepted) 1-1-1994-0146195-34
4 출원인정보변경 (경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 1997.04.03 수리 (Accepted) 1-1-1994-0146196-80
5 대리인사임신고서
Notification of resignation of agent		 1997.09.08 수리 (Accepted) 1-1-1994-0146197-25
6 등록사정서
Decision to grant		 1997.12.30 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-1994-0081717-14
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 1999.01.20 수리 (Accepted) 4-1-1999-0010652-29
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2000.01.14 수리 (Accepted) 4-1-2000-0005008-66
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2001.04.19 수리 (Accepted) 4-1-2001-0046046-20
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2002.04.09 수리 (Accepted) 4-1-2002-0032774-13
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2002.08.08 수리 (Accepted) 4-1-2002-0065009-76
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2009.03.13 수리 (Accepted) 4-1-2009-5047686-24
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2009.08.04 수리 (Accepted) 4-1-2009-5150899-36
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2010.04.19 수리 (Accepted) 4-1-2010-5068437-23
15 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2012.01.10 수리 (Accepted) 4-1-2012-5005621-98
16 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2012.03.21 수리 (Accepted) 4-1-2012-5058926-38
17 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2012.06.08 수리 (Accepted) 4-1-2012-5122434-12
18 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2013.07.31 수리 (Accepted) 4-1-2013-5106568-91
19 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2014.02.11 수리 (Accepted) 4-1-2014-5018159-78
20 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1

외부로 부터 어드레스 데이타를 입력받아 디코딩하는 디코딩 수단(21); 외부와 병렬 데이타를 입출력하고 상기 디코딩 수단에 연결되어 있는 병령 데이타 수단(22); 외부의 제어에 따라 카운팅 신호를 출력하고 시험 대상 모듈로 칩선택 신호를 출력하는 카운팅 수단 및 칩선택 수단(23); 상기 카운팅 신호를 입력받고 상기 디코딩 수단(21)에 연결되어 있으며, 병령 데이타 수단(22)와 시험 대상 모듈에 연결되어 데이타를 직렬/병령 또는 병렬/직렬로 변환하는 변환 수단(24); 상기 변환 수단(24)에 클럭을 공급하고 상기 시험 대상 모듈에 클럭과 프레임 동기 신호를 공급하는 클럭 발생 수단(25)을 구비하는 것을 특징으로 하는 전전자 교환기 가입자회로 모듈 시험 장치 및 방법

2 2

디코딩하는 디코딩 수단(21); 병렬 데이타 수단(22); 카운팅 수단 및 칩선택 수단(23); 변환 수단(24); 클럭 발생 수단(25)을 구비하는 시험 장치에 적용되는 방법에 있어서, 초기화를 수행하는 제1단계(31); 상기 제1단계(31) 수행 후, 직렬 데이타를 출력한 후에 데이타 요구신호(DREQ)를 수신하여 다음 데이타를 래치하는 과정을 시험이 끝날때까지 반복하는 제2단계(32 내지 35)를 포함하는 것을 특징으로 하는 전전자 교환기 가입자회로 모듈 시험 방법

지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.